Фотоимпульсный способ измерения линейных размеров проката
ОП ИСАНИ Е
ИЗОБРЕТЕН ИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
405020
COIO3 C0BeTCR
Социалнстмчаск-а
Респубйм<
Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”
Заявлено 19.I V.1971 (№ 1647745/25-28) с присоединением заявки №вЂ”
Приоритет—
Опубликовано 22.Х,1973. Бюллетень № 44
Дата опубликования описания 24Х1,1974
М,Кл. б 01Ь 19/37
Государственный комитет
Сонета Мнннстрое СССР по делам изобретений и открытий
УДК 531.71(088.8) Авторы изобретения
А. А. Васнльев и А, И. Медведев,,/.:- тД11
Зая(витель
ФОТОИМПУЛЬСНЬ1Й СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ
РАЗМЕРОВ ПРОКАТА
Изобрете ние относится к измерительной технике.
Известен фотонмпульсный способ измерения линейных размеров проката, заключающийся в том, что сканируют кромки проката сканирующим элементом, получают видеосигнал с приемника излучения, диффереццируют видеосигнал и формируют измерительный импульс с длительностью, пропорциональной размеру, путем фиксирования относительного уровня дифференцированных импульсов.
Предлагаемый спосоо отличается от известного тем, что вводят второй сканирующий элемент, располагая его относительно .первого со смещением, определяемым временем прохождения первым элементом кромки проката, собирают световой поток от обоих элементов на один и тот же участок прием ника излучения и формируют измерительный импульс на фиксированном относительном уровне дифференцированного импульса, образованного от второго сканирующего э: емента, а уровень фиксации определяют по величине амплитуды дифференцированного импульса, образованного от первого окапчрующего элемента.
Это позволяет повысить оыстродействие и точность пзмерени I.
Предлагаемый способ поясняется чертежом.
Сканирование каждой кромки измеряемого проката 1 производится двумя сканирующими элементами 2, расположенными оди н относительно другого на,расстоянип, определяемом временем прохождения первым из нпх кромки проката. Сканирующие элементы 2 формируются, например, с помощью объек10 тпва 8 и двух прозрачных участков 4 строки развезтывающего устройства 5, расположенного в плоскости б, сопряженной с предметной плоскостью 7.
Световой поток, поступающий от обоих
15 сканирующих элементов 2, воспринимают с помощью конденсора 8.на один и тот же участок приемника 9 излучения. После преобразования световых импульсов в электрические рабочие сигналы 10 последние дифференциру о ют, получая импульсы 11, 12 дифференцирования переднего фронта и импульсы 18, 14 дифференцирования заднего фронта. Эти импульсы используют для управления элементом, например триггером, формирующим прямо25 угольные измерительные импульсы 15. При сканировании каждой из кромок проката срабатывание триггера происходит только от вторых по времени следования импульсов 12, 14. дифференцирования, . а . уровни напряжений ,30 для срабатывания триггера определяют с по405020
Предмет изобретения
Составитель В. Мартынов
Текред 3. Тараненко
Редактор О. Юркова
Корректор Е, Миронова
Заказ 672 Изд. № 1045 Тираж 743
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Подписное
Загорская типография
3 мощью пик-детекторов, ка к относительные уровни первых .по времени следования импульсов 11, 18 дифференцирования.
Фотоимпульсный способ измерения линейных размеров проката, за ключающийся в том, что сканируют сканирующим элементом, проката кромки получают видеосигнал с приемника излучения, дифференцируют видеосигнал и формируют измерительный импульс с длительностью, пропорциональной размеру, путем фиксирования относительного уровня дифференцированных импульсов, отличаюшийся
4 тем, что, с целью повышения быстродействия и точности измерения, вводят второй сканирующий элемент, располагая его относительно первого со смещением, определяемым временем прохождения первым элементом кромки прокаТа, собирают световой поток от обоих сканирующих элементов на один и тот хке участок.приемника излучения и формируют измерительный импульс на фиксированном относительном
111 уровне дифференцированного импульса, образованного от второго сканирующего элемента, а уровень фиксации определяют по величине амплитуды дифференцированного импульса, образованно го от первого сканирую15 щего элемента.
