Оптический микрометр для оптических отсчетно-измерительных устройств

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик (!1) 451903

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61} Зависимое от авт. свидетельства— (22) Заявлено 02.02.73 (21) 1880736/25-28 с присоединением заявки (32) Приоритет—

Опубликовано30.11.74, Бюллетень № 44

Дата опубликования описания О9 О4 75 (51) М, Кл. & 015 11/02

Государственный комитет

Совета 1йинистрав СССР

fl0 делам изобретений и открытий (53) УДК 531. 715..27(088,8) gp76

ФоФ Ва "-: -I I (?2) Авторы изобретения

P. В. Калинаускас и Г. P. Картанас (71) 3

Заявитель

Вильнюсский филиал Экспериментального научно-исследовательского института металлорежуших станков (54) ОПТИЧЕСКИЙ МИКРОМЕТР ДЛЯ ОПТИЧЕСКИХ

ОТСЧЕТНО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ УСТРОЙСТВ

20

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, в частности к оптическим отсчетным устройствам, предназначенным для измерения перемещений штрихов, размещенных в предметной плоскости отсчетных устройств, например в мерительном микроскопе для делительных машин.

Известен оптический микрометр, содержащий длиннофокусные положительную и отрицательную линзы, отсчетную и биссекторную сетки. Одна из линз жестко связана с отсчетной сеткой. При перемещении линзы перпендикулярно к оптической оси системы пропорционально перемещается изображение штриха. Величина перемещения изображения штриха определяется числом пройденных делений отсчетной сетки относительно индекса, нанесенного на биссекторной сетке.

Предлагаемый микрометр отличается от известного тем, что биссекторная сетка выполнена из двух частей, расположенных одна над другой с возможностью перемещения одной из них вдоль другой, а отсчетная сетка размещена в одной плоско. сти с подвижной частью биссекторной сеч ки.

Кроме того, подвижная часть биссекторной сетки может быть установлена на пружинных направляющих, подпружиненных в сторону сетки.

Это обеспечивает повышение точности отсчета.

На фиг. 1 изображен предлагаемый микрометр, продольный разрез; на фиг. 2то же, вид сверху.

Оптический микрометр содержит линзы

1 и 2 в оправе. На верхней оправе линзы

2 расположена отсчетная сетка 3, над которой установлена верхняя часть 4 биссекторной сетки, имеющая неподвижный индекс А. Нижняя подвижная часть 5 биссекторной сетки выполнена той же оптической толщины, что и отсчетная сетка 3.

Штрихи и цифры отсчетной сетки 3 и ча стей 4 и 5 биссекторной сетки размещены в плоскости Б, чтобы они резко наблю дались в окуляр. Подвижная часть 5 биссекторной сетки установлена на подпружи451903

3 ненных в сторону (сетки) винта 6 пружинных направляющих 7. Винт 8 служит для перемещения линзы 2 в оправе и отсчет ной сетки 3. Пружина 9 обеспечивает постоянный контакт винта 8 с оправой лин- 5 зы 2.

При перемещении линзы 2 в оправе винтом 8 в направлении, перпендикулярном к оси оптического микрометра, происходит пропорциональное смешение изображения, l0, наблюдаемого в оптическом отсчетном устройстве, в котором применен описываемый оптический микрометр. Велечина перемещения изображения определяется количеством смешения штрихов отсчетной сет- 15. ки 3, которая жестко связана с линзой 2 в оправе, относительно неподвижного индекса, нанесенного на верхней части 4 биссекторной сетки. Для изменения ширины биссектора служит винт 6, при вращении которого происходит релетивное сме4 шение одной половины биссекторной сетки относительно другой.

Р

Предмет изобретения

1. Оптический микрометр для оптических отсчетно-измерительных устройств, содержащий линзы, отсчетную и биссекторнуюсетки, от лича ющийс я тем, что, с целью повышения точности отсчета, биссекторная сетка выполнена из двух частей, расположенных одна над другой с возможностью перемещения одной из них вдоль другой, а отсчетная сетка размещена в одной плоскости с подвижной частью биссекторной сетки., 2. Микрометр по и. 1, о т л и ч а юшийся тем, что подвижная часть биссекторной сетки установлена на пружинных направляющих, подпружиненных в сторону сетки.

Оптический микрометр для оптических отсчетно-измерительных устройств Оптический микрометр для оптических отсчетно-измерительных устройств Оптический микрометр для оптических отсчетно-измерительных устройств 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, черной и цветной металлургии при производстве проката, в резино-технической и химической промышленности при производстве трубчатых изделий без остановки технологического процесса

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах АСУ ТП промышленных предприятий

Изобретение относится к волоконно-оптическим системам передачи в измерительной технике и может быть использовано для измерения перемещений объекта

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть применено для измерения линейных размеров и профилей объектов в машиностроении, приборостроении, в автоматических линиях по производству проката
Изобретение относится к гистологии, касается морфометрической оценки тучных клеток мезометриальной брыжейки крыс

Изобретение относится к волоконно-оптическим системам измерения и может быть использовано для измерения перемещений объекта

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для широкого круга измерительных задач при оценке не плоскостности, не перпендикулярности, величин прогибов и др
Наверх