Способ определения неисправных узлов сложных электронных схем

 

пц 486290

Со.оз Советских

Социалистически;

Реслублик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 06.07.73 (21) 1942543/26-21 с присоединением заявки М (32) Приоритет

01тублпковано 30.09.75. Бюллстснь М 36

Дата опублпкования описания 02.02.76 (5I) М. Кл. G Olr 31/28

G Оlг 31/02

Государственный комитет

Совета Министров СССР во делам изобретений и открытий (53) УДК 621.317.333.6 (088.8) (72) Автор изобретения

Н. E. Бобков (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НЕИСПРАВНЫХ УЗЛОВ

СЛОЖНЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ СХЕМ

Изобретение относится к электронике.

Известен способ определения неисправных узлов сложных электронных схем, состоящих из К узлов, каждый из которых содержит несколько элементов, основанный на использовании набора из t кKоOHнтTр оoл ь нH ы х с и г Hна л оoв, подаваемых на вход испытуемой схемы, фиксации положительных «О» или отрицательных

«1» откликов схемы на тестовые сигналы и на использовании полученного набора значений откликов для определения места неисправности при помощи заранее составленной таблицы контрольных значений.

При определении неисправности сложных устройств известный способ требует большого числа контрольных сигналов и длительного времени определения неисправного узла.

Цель изобретения — сокращение числа контрольных сигналов и времени определения неисправного узла.

Это достигается тем, что по предлагаемому способу таблицу контрольных значений составляют в виде матрицы размером К 1, элементы которой тту получают суммированием числа отрицательных исходов при воздействии на эталонную схему j-го контрольного сигнала и имитации неисправностей всех элементов т-го узла, при этом устанавливают наихудшие значения параметров элементов в остальных узлах эталонной схемы, а после получения откликов контрольных сигналов на выходе испытуемой схемы суммируют элементы строк указанной матрицы и за неисправный узел принимают узел, соответствующий строке, сумма элементов которой максима Iьпа, причем не учитывают элементы столбцов, соответствующих положительным «О» исходам соответствующих контрольных сигналов, а также элементы строк, в которых на пересечении с остальными столбцами хотя бы один элемент т;;=О.

Предлагаемый способ определения неисправных узлов сложных электронных схем осуществляется следующим образом.

Для каждого узла проверяемого электронного устройства составляется перечень возможных неисправностей. Затем поочередно реализуются неисправности в каждом узле, 20 при этом фиксируется исход каждого контрольного сигнала при наихудшем сочетании значений электрических параметров узлов схемы. Далее по каждому узлу производится суммирование исходов контрольных сигналов. Та25 ким образом определяют, сколькими неисправностями каждый узел может вызвать отрицательный исход каждого контрольного сигнала.

Иначе говоря, каждому узлу можно поставить в соответствие набор вссов, количественно ха30 рактеризующий степень его влияния на псхо486290

m,8 и,t т„т„ г1 гг

m, t

m ш„2

25 исходная весовая матрица.

ta8la

2 !

1 б У весовая матрица для полученного набора исходов контрольных сигналов. ды всех контрольных сигналов, Результаты можно представить в виде весовой матрицы где тц — вес -го узла в отрицательном исходе; j-го контрольного сигнала;

t — количество контрольных сигналов;

К в количество узлов.

Каждый раз при получении любого возможного набора исходов контрольных сигналов за неисправный принимают узел, суммарный вес которого в полученном наборе наибольший.

При этом следует учитывать только те столбцы весовой матрицы, которым соответствуют

«1» этого набора, и только те строки, в которых нет «0» на пересечении с указанными столбцами; «1» в наборе исходов контрольных сигналов соответствует отрицательному исходу контрольного сигнала, «О» — положительному исходу контрольного сигнала.

Пусть О 1 О 11 Π— полученный набор исходов контрольных сигналов;

Тогда

Далее следует просуммировать веса по каждому элементу каждой строки полученной матрицы. Неисправным следует считать элемент, для которого сумма весов наибольшая. В данном случае неисправным следует считать узел, соответствующий четвертой строке матрицы.

Если замена соответствующего узла не привела к исправлению устройства, то следует заменить узел, суммарный вес которого — следующий по величине, и т. д. Предполагалось, что вероятности возникновения неисправностей во всех элементах одинакова; в противном

З0

60 случае, если известно соответствующее вероятностное распределение, новые веса m, равны

m t Цг = „«», Рду

c=i где Pi;; — вероятность возникновения I-ой неисправности -го узла, влияющий на исход j-ro контрольного сигнала.

Если устройство неисправно одновременно из-за двух узлов, то следует провести дополнительный анализ соответствующей принципиальной схемы, принимая во внимание все сочетания из узлов по два и рассматривая каждую такую пару как единый узел. В общем случае, если устройство неисправлено одновременно из-за одного, двух и т. д. $ узлов, S то весовая матрица имеет К+ g Ск строк. л=2

Для оперативного определения неисправного узла необходимо обеспечить выполнение всех рассмотренных выше операций с весовой матрицей и выдачу результата в короткий срок. Это легко реализуется на контрольной установке, работающей совместно с ЦВМ.

Предмет изобретения

Способ определения неисправных узлов сложных электронных схем, состоящих из К узлов, каждый из которых содержит несколько элементов, основанный на использовании набора из t контрольных сигналов, подаваемых на вход испытуемой схемы, фиксации положительных «О» или отрицательных «1» откликов схемы на тестовые сигналы и на использовании полученного набора значений откликов для определения места неисправности при помощи заранее составленной таблицы контрольных значений, отличающийся тем, что, с целью сокращения числа контрольных сигналов и времени определения неисправного узла, таблицу контрольных значений составляют в виде матрицы размером К.t, элементы которой m;; получают суммированием числа отрицательных исходов при воздействии на эталонную схему j-ro контрольного сигнала и имитации неисправностей всех элементов i-го узла, при этом устанавливают наихудшие значения параметров элементов в остальных узлах эталонной схемы, а после получения откликов контрольных сигналов на выходе испытуемой схемы суммируют элементы строк указанной матрицы и за неисправный узел принимают узел, соответствующий строке, сумма элементов которой максимальна, причем не учитывают элементы столбцов, соответствующих положительным «0» исходам соответствующих контрольных сигналов, а также элементы строк, в которых на пересечении с остальными столбцами хотя бы один элемент

m„,=0.