Испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала (G01R31/28)
G Физика(403185)
G01 Измерение (счет G06M); испытание
(233827)
G01R Измерение электрических и магнитных величин (измерение физических величин любого вида путем преобразования их в электрические величины см. примечание 4 к кл. G01; измерение диффузии ионов в электрическом поле, например электрофорез, электроосмос G01N; исследование неэлектрических и немагнитных свойств материалов с помощью электрических и магнитных методов G01N; индикация точности настройки резонансных контуров H03J3/12; контроль электрических счетчиков H03K21/40; контроль работы системы связи H04)
(35008)
G01R31 Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах (измерительные провода, измерительные зонды G01R1/06; индикация электрических режимов в распределительных устройствах или в защитной аппаратуре H01H71/04,H01H73/12, H02B11/10,H02H3/04; испытание или измерение полупроводниковых или твердотельных приборов в процессе их изготовления H01L21/66; испытание линий передачи энергии H04B3/46)
(6575)
G01R31/28 Испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала (испытание на короткое замыкание, обрыв, утечку или неправильное соединение G01R31/02; контрольные вычислительные устройства G06F11; статические запоминающие устройства для контроля работы накопителей G11C29)(669)
Переключаемый усилитель // 2793392
Изобретение относится к усилителю для контрольного прибора (тестера), который пригоден для проверки электрического компонента. Технический результат: обеспечение легкого и надежного усилителя напряжения и усилителя тока для тестера (10).
Изобретение относится к измерительной технике. Устройство для определения нагрузочной способности микросхем содержит испытуемую микросхему 1, генератор прямоугольного напряжения 2, рабочую микросхему 3, вольтметр 4, первый источник опорного напряжения 5, первый компаратор 6, элемент И 7, счетчик импульсов 8, коммутатор 9, элементы нагрузки 10 - 1…10 - k, второй источник опорного напряжения 11, второй компаратор 12, преобразователь ток-напряжение 13.
Изобретение относится к электромонтажным устройствам для интегральных микросхем (ИС) и может быть использовано для измерения и испытания ИС или полупроводниковых приборов. Технический результат - повышение технологичности изготовления с сохранением надежности контактирования, расширение температурного диапазона измерения и испытания ИС увеличения номенклатуры испытуемых ИС.
Стенд для проверки функционирования высоковольтных преобразователей напряжения измерительных // 2777300
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для проверки функционирования преобразователей напряжения измерительных, предназначенных для измерения и преобразования первичного сигнала напряжения постоянного тока в диапазоне от 0 до 1500 В в пропорциональный токовый сигнал в диапазоне от 0 до 5 мА.
Изобретение относится к технике измерения тепловых характеристик и тепловых параметров цифровых интегральных микросхем (ЦИМС) и может быть использовано для контроля качества ЦИМС малой и средней степени интеграции на выходном или выходном контроле.
Изобретение относится к оборудованию для проведения испытаний и измерений технических характеристик электронной компонентной базы (ЭКБ). Устройство температурно-вакуумного воздействия для проведения испытаний и измерений технических характеристик электронной компонентой базы содержит несущую герметизированную платформу с заведенными внутрь через герметичный разъем измерительными каналами, заканчивающимися пого-пинами, представляющими собой интерфейс для подключения испытываемых образцов; термогруппу, предназначенную для нагрева и охлаждения испытываемых образцов и содержащую элемент Пельтье и контактную поверхность, обеспечивающую теплообмен элемента Пельтье и испытываемых образцов; систему воздушного охлаждения, предназначенную для поглощения тепла, вырабатываемого элементами Пельтье, в составе теплосъемника, водяного насоса, проточного радиатора воздушного охлаждения с вентиляторами и соединительных шлангов; подъемный колпак, с возможностью открытия, размещения и подключения испытываемого образца; вакуумную систему в составе вакуумного насоса, соленоида коммутации, электронного вакуумметра и соединительных трубок; электронные блоки управления, коммутации и связи с внешним ЭВМ; источники питания и ПИД-регулятор; внешний защитный корпус.
Изобретение относится к электротехнике. Устройство для определения места повреждения силового кабеля содержит статические генераторы звуковой и ультразвуковой частоты, на выходе которых установлен выполненный с возможностью подключения к силовому кабелю и имеющий выход «Тире», выход «Точка» и зажим «Общий» блок кодирования, при этом в приемной аппаратуре дополнительно установлены стабилизаторы частоты и блок индикации, имеющий входы и дисплей, при этом дисплей блока индикации выполнен с возможностью индикации амплитуды поступающего на его первый вход сигнала частотой 1000 Гц зеленым цветом, а амплитуды поступающего на его второй вход сигнала частотой 60000 Гц - красным цветом.
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества цифровых интегральных микросхем с КМОП логическими элементами и оценки их температурных запасов. Технический результат: уменьшение погрешности измерения за счет исключения влияния электрической составляющей по цепи питания контролируемой микросхемы.
Группа изобретений относится к программируемым логическим устройствам. Техническим результатом является уменьшение пространства кристалла, выделенного для адресации ячеек запоминающих устройств, улучшение тестирования.
Изобретение может быть использовано при калибровке и поверке измерителей дефектности изоляции обмоточных проводов. Способ заключается в том, что размещают отрезок изолированного провода на поверхности диэлектрического цилиндрического диска, концы указанного отрезка провода выводят на боковую поверхность указанного диска и электрически соединяют с металлической осью, на которой закреплен диск, создают в изоляции провода один дефект в виде точечного прокола изоляции до жилы провода, к поверхности упомянутого провода прижимают подпружиненный металлический дискообразный электрод-датчик дефектов, на ось которого подают высокое постоянное напряжение, приводят диэлектрический диск во вращение, измеряют скорость перемещения провода и многократно протягивают упомянутый дефектный участок изоляции провода через электрод-датчик дефектов, и при каждом прохождении дефектного участка изоляции провода через электрод-датчик дефектов, снимают с него осциллографом сигналы импульсов дефекта, с использованием которых калибруют и осуществляют поверку измерителей дефектности.
Изобретение относится к измерительной технике и автоматике и может быть использовано в системах автоматического измерения и контроля. Сущность: автоматизированная система контроля электрических величин электронной аппаратуры, содержит ЭВМ, объект контроля, регулируемый блок питания, регистр управления, первая группа выходов которого соединена с группой входов программируемого таймера, группа выходов которого соединена с первой группой входов формирователя команд, вторая группа входов которого соединена со второй группой выходов регистра управления, третья группа выходов которого соединена с группой управляющих входов коммутатора, блока цифро-аналогового преобразования, ЭВМ соединена с принтером через первый порт.
Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к автоматизированным системам контроля (АСК) электрических параметров электронной аппаратуры. Автоматизированная система контроля электрических величин электронной аппаратуры содержит ЭВМ 1, регулируемый блок питания 3, регистр управления 4, коммутатор 5, программируемый таймер 6, формирователь команд 7, блок аналого-цифрового преобразования 8 и принтер 9, подключенный к первому порту ЭВМ 1.
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в системах автоматического измерения, управления и аварийной защиты, в состав которых входят измерители температуры на основе термопар.
Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.
Изобретение относится к технике измерения тепловых параметров кристаллов бескорпусных полупроводниковых изделий в составе электронных модулей и может быть использовано для контроля качества сборки электронных модулей как на этапах разработки и производства электронных модулей, так и на входном контроле предприятий-потребителей электронных модулей при оценке их температурных запасов.
Изобретение относится к тестированию функциональных блоков встроенной системы. Технический результат – повышение точности тестирования.
Печатная плата с контактирующим устройством // 2719303
Изобретение относится к контролю и испытанию электронных схем, в частности, к тестовым системам для контроля электронных соединений электронных узлов с контролируемой печатной платой. Предложена печатная плата (6), содержащая память (10) данных, коммуникационный модуль (9), соединенный с памятью (10) данных, контактирующее устройство.
Тестовая система для контроля электронных соединений, в частности паяных соединений, между электронными узлами контролируемой печатной платы с этой печатной платой, причем тестовая система содержит устройство для измерения температуры и/или для определения параметров тепла электрических соединений печатной платы и/или электронных узлов.
Изобретение относится к радиотехнике, радиолокации и вычислительной технике и может быть использовано в стендовой аппаратуре для настройки, контроля и диагностики аналого-цифрового преобразователя (АЦП) радиолокатора, а также при предъявлении блока АЦП ОТК и представителям заказчика.
Тестовая система для контроля электронных соединений элементов с печатной платой и печатная плата // 2712983
Группа изобретений относится к измерительной и испытательной технике, в частности, к тестовым системам электронных компонентов на печатных платах. Тестовая система (1) для контроля электрических соединений между электронными элементами с контролируемой печатной платой (6) содержит коммуникационный интерфейс (5), по меньшей мере, с тремя электропроводящими контактными щупами (22, 32), которые за счет контактирования с контактирующим устройством (12) на печатной плате (6) с несколькими участками (11) контактирования обеспечивают обмен данными по коммуникационному протоколу с памятью (10) данных и/или коммуникационным модулем (9) контролируемой печатной платы (6).
Способ получения однородной по параметрам радиационной стойкости группы изделий электронной техники // 2708815
Изобретение относится к области электронной техники и предназначено для разбраковки полупроводниковых приборов и интегральных схем по радиационной стойкости. Сущность: определяют для тестовых полупроводниковых структур и/или изделий электронной техники совокупность информативных параметров и измеряют значения этих параметров.
Изобретение относится к области производства и диагностики высокоинтегрированных электронных модулей в авиационной и космической промышленности. Сущность: устройство содержит персональный компьютер с программным обеспечением, подключенный через JTAG контроллер к JTAG интерфейсу тестируемого электронного модуля и бесконтактный датчик тока в виде преобразователя магнитного поля в электрический сигнал, подключенный ко входам неинвертирующего и инвертирующего усилителей.
Предложенное изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано при бесконтактном контроле технического состояния радиоэлектронного оборудования (РЭО). Устройство комплексного контроля технического состояния радиоэлектронного оборудования содержит источник тока, первый выход которого подключен к силовому входу радиоэлектронного оборудования, выходы блока датчиков подключены к входам блока обработки сигналов.
Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к способам определения свойств надежности радиоэлектронной аппаратуры, в частности определения ресурса корабельной радиоэлектронной аппаратуры (РЭА).
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля тепловых свойств цифровых интегральных схем (ЦИС). Сущность: для измерения переходной тепловой характеристики (ПТХ) цифровой интегральной схемы нечетное количество логических элементов включают по схеме кольцевого генератора.
Способ многоуровневого комплексного контроля технического состояния радиоэлектронных систем // 2694158
Предложенное изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано при бесконтактном контроле технического состояния радиоэлектронных систем (РЭС). Сущность предлагаемого способа многоуровневого комплексного контроля технического состояния РЭС состоит в представлении диагностического пространства, содержащего информационные признаки отказов РЭС в виде векторов средних измеренных параметров, формирующих матрицу технического состояния и статистику отклонений контролируемых параметров в допустимых пределах, характеризующие техническое состояние РЭС на нескольких уровнях.
Предлагаемое изобретение относится к области электротехники, в частности к способам обеспечения контроля электрического сопротивления между множеством электрических цепей.Технически данное решение не имеет близких аналогов.
Изобретение относится к электротехнике. Технический результат заключается в повышении точности определения мест однофазного замыкания фазы на оболочку силового кабеля.
Способ тестирования гис свч // 2680161
Использование: для тестирования ГИС СВЧ. Сущность изобретения заключается в том, что способ тестирования гибридной интегральной схемы (ГИС) СВЧ, имеющей контактные площадки, образованные, по меньшей мере, торцевой металлизацией, включает фиксацию ГИС СВЧ, последующее соединение ее заземляющей поверхности с экраном коаксиального СВЧ тракта, а каждой из упомянутых контактных площадок - с центральным проводником коаксиального СВЧ тракта посредством соответствующего щупа, ось которого параллельна поверхности подложки ГИС СВЧ, в котором осуществляют подведение и снятие СВЧ сигнала с коаксиального СВЧ тракта, а также подведение сигналов управления и питания к ГИС СВЧ посредством контактных элементов.
Контактное устройство // 2674582
Использование: для измерения их электрических параметров. Сущность изобретения заключается в том, что контактное устройство для подключения интегральной микросхемы содержит основание с контактами, поворотную раму и фиксатор поворотной рамы, при этом поворотная рама шарнирно установлена на основании и содержит два роликовых элемента, которые взаимодействуют с интегральной микросхемой, причем точки касания роликовых элементов интегральной микросхемы расположены симметрично относительно контактов основания.
Изобретение относится к способу повышения надежности полупроводниковых монолитных и гибридных интегральных схем (ИС) в заданных условиях эксплуатации. Сущность: определяют скорость деградации информативных параметров ИС в результате искусственного старения.
Изобретение относится к способам проведения испытаний на надежность и устройствам для их реализации. В изобретении предложен способ проведения неразрушающих испытаний на отказоустойчивость, при котором имитируются отказы элементов, а схема сохраняет работоспособность.
Изобретение относится к области испытаний радиоэлектронной аппаратуры. Технический результат: сокращение времени испытаний на гамма-процентный ресурс невосстанавливаемых резервированных радиоэлектронных устройств.
Изобретение относится к способам испытаний полупроводниковых приборов на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц различных энергий космического пространства (КП). В способе оценки стойкости элементов цифровой электроники к эффектам сбоев от воздействия единичных частиц КП определяется минимальное значение потока частиц, соответствующее отличному от нулевого значения сечению сбоев в области малых значений линейной передачи энергии (LET).
Изобретение относится к области электронного бытового оборудования. Технический результат заключается в уменьшении электропотребления оборудованием.
Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.
Изобретение относится к технике измерения параметров интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества цифровых интегральных микросхем и определения их температурных запасов. Способ измерения теплового импеданса цифровых интегральных микросхем состоит в том, что контролируемая цифровая интегральная микросхема подключается к источнику питания с напряжением Uпит, нечетное число логических элементов цифровой интегральной схемы соединяют по схеме кольцевого генератора, который периодически включают в режим генерации управляющими импульсами с периодом следования Тсл, длительность τУ которых изменяют по гармоническому закону с частотой модуляции ΩМ, глубиной модуляции m и средним значением длительности τУ0:на частоте модуляции выделяют и измеряют амплитуду переменной составляющей тока, потребляемого цифровой интегральной схемой, амплитуду изменения частоты генерации кольцевого генератора и разность фаз Δϕ(ΩМ) между этими гармониками и модуль теплового импеданса цифровой интегральной схемы на частоте ΩM определяют по формулегде KF - известный отрицательный температурный коэффициент частоты генерации кольцевого генератора, а фазу ϕT(ΩM) теплового импеданса рассчитывают по формуле: .Технический результат заключается в снижении погрешности и упрощении процесса измерений.
Тест-купон погрешностей совмещения слоев многослойной печатной платы состоит из 2n пар печатных проводников, ориентированных вдоль стороны МПП. Причём каждую пару проводников располагают на соседних слоях металлизации МПП один под другим со смещением в направлении.
Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано в лампах. Техническим результатом является обеспечение возможности питания от двух различных типов трансформаторов.
Изобретение относится к технике испытаний и может быть использовано при наземной экспериментальной отработке и при приемочных испытаниях радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов на стойкость к инициированию вторичной дуги при работе аппаратуры на напряжениях, превышающих падение потенциала на дуге, в условиях имитации космического пространства, включая плазменное окружение, имитирующее плазму первичного разряда.
Способ тестирования электронных компонентов // 2643239
Изобретение относится к электронной промышленности, в частности к средствам и методам тестирования электронных компонентов, в том числе при их производстве. Предложен способ тестирования электронных компонентов, включающий следующие этапы: осуществляют размещение по меньшей мере одного тестируемого электронного компонента на заданной позиции в емкости для тестирования; осуществляют опускание термогруппы, смонтированной над контактной поверхностью с контактными прессорами, расположенными в соответствии с расположением электронных компонентов, и содержащей по меньшей мере один элемент Пельтье, на указанный по меньшей мере один электронный компонент, причем прессоры соприкасаются с электронными компонентами без зазора; осуществляют управление питанием указанной термогруппы для достижения заданной температуры по меньшей мере одним указанным элементом Пельтье и по меньшей мере одним электронным компонентом, при этом изменение температуры при помощи прессоров происходит за счет теплопроводности; осуществляют тестирование параметров по меньшей мере одного электронного компонента при заданной температуре; прекращают тестирование электронных компонентов с последующим подъемом термогруппы и извлечением по меньшей мере одного электронного компонента из емкости для тестирования.
Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматизированного контроля параметров и диагностики технического состояния объектов, функционирование которых состоит из периодически повторяющихся циклов.
Изобретения могут использоваться в электронной, космической, авиационной, военной и других отраслях промышленности. Способ измерения электрических параметров или характеристик объекта исследования, установленного в электронном устройстве или блоке без демонтажа объекта исследования с печатной платы, на которой он установлен, заключается в том, что посредством подключающего устройства измерительного оборудования или прибора подключают объект исследования - электрически соединяют его с таким оборудованием или прибором, согласно изобретению используют как минимум один специальный электронный компонент – Тест-ключ, который выполнен с возможностью замыкания и размыкания электрической цепи, подключенной к паре его выводов, при этом Тест-ключ электрически соединяют последовательно с объектом исследования, для чего его располагают непосредственно перед или за объектом исследования в соответствии с электрической схемой упомянутых устройства или блока, причем один из выводов пары электрически соединяют с заданным полюсом объекта исследования, в то время как другой - с тем местом или участком электрической цепи измеряемых устройства или блока, с которым этот полюс должен быть электрически соединен, при этом исключают соединение самого такого полюса с указанным местом посредством стационарно установленного проводника, причем обеспечивают возможность электрического соединения с таким полюсом подключающего устройства упомянутых оборудования или прибора, для чего обеспечивают возможность физического доступа извне к электрически соединенному с ним проводнику до, во время или после подключения объекта исследования к упомянутым оборудованию или прибору, но перед измерением, посредством управляющего состоянием Тест-ключа воздействия обеспечивают размыкание ключа, соответствующего упомянутому полюсу объекта исследования, за счет чего отключают объект исследования от электрической цепи упомянутых устройства или блока, после чего диагностируют объект исследования, электрически развязанный с электрической цепью упомянутых устройства или блока или с ее частью, причем не менее чем на время измерений или, по крайней мере, не менее чем на время тестирования объекта исследования упомянутым оборудованием или прибором поддерживают Тест-ключ в разомкнутом состоянии, тогда как по окончании измерений или тестирования объекта исследования непосредственно или отсрочено обеспечивают замыканием Тест-ключа подключение объекта исследования к указанной цепи для обеспечения возможности штатного функционирования диагностируемого устройства или блока.
Устройство бесконтактного контроля исправности электротехнических объектов переменного тока // 2617731
Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для бесконтактного непрерывного контроля исправности электротехнических объектов переменного тока. Устройство содержит: датчик напряженности внешнего магнитного поля, размещенного вблизи объекта контроля, выход которого связан с входом усилителя; узкополосный фильтр, настроенный на частоту 2ω (ω - частота питающего объект переменного напряжения), выход которого подключен к входам двух компараторов логического блока, имеющих различные уровни срабатывания.
Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.
Изобретение относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве. Технический результат: повышение точности и достоверности определения нагрузочной способности микросхем.
Использование: для контроля тепловых свойств цифровых интегральных схем. Сущность изобретения заключается в том, что способ заключается в разогреве цифровой интегральной схемы ступенчатой электрической греющей мощностью известной величины и в измерении в определенные моменты времени в процессе разогрева цифровой интегральной схемы температурочувствительного параметра с известным температурным коэффициентом, по изменению которого рассчитывают приращение температуры активной области цифровой интегральной схемы, с целью упрощения способа и уменьшения погрешности измерения переходной тепловой характеристики для задания электрической греющей мощности нечетное число (n>1) логических элементов контролируемой цифровой интегральной схемы соединяют по схеме кольцевого генератора, подключают его к источнику питания, в заданные моменты времени ti измеряют мгновенную мощность, потребляемую цифровой интегральной схемой от источника питания, и частоту колебаний кольцевого генератора, а значение переходной тепловой характеристики в момент времени t находят по формуле:где и - частота колебаний кольцевого генератора в моменты времени t0=0 и ti соответственно, - температурный коэффициент частоты колебаний кольцевого генератора, Рср(ti)=[Р(0)+P(ti)]/2 - средняя мощность, потребляемая цифровой интегральной схемой за время от начала нагрева t0=0 до момента времени ti, а P(0) и P(ti) - мгновенная мощность, потребляемая цифровой интегральной схемой в моменты времени t0=0 и ti соответственно.
Использование: для определения стойкости к радиационным и температурным воздействиям наноэлектронного резонансно-туннельного диода. Сущность изобретения заключается в том, что способ определения стойкости к радиационным и температурным воздействиям наноэлектронного резонансно-туннельного диода (РТД) на основе многослойных AlGaAs (алюминий, галлий, арсеникум) полупроводниковых гетероструктур заключается в последовательном приложении циклов радиационных воздействий на партию РТД, доза которых постепенно накапливается в каждом цикле, и температурных воздействий, время воздействия которых постепенно увеличивается, с тем, чтобы получить вызванное ими изменение вольт-амперной характеристики (ВАХ) в рабочей области не менее чем на порядок больше погрешности измерения, в определении количества циклов радиационных и температурных воздействий путем установления ВАХ, соответствующей параметрическому отказу для конкретного применения РТД, в построении семейства ВАХ, в определении на основе анализа кинетики ВАХ скорости деградации РТД и в определении стойкости к радиационным и температурным воздействиям РТД на основе полученной скорости деградации РТД.
Способ определения стойкости полупроводниковых приборов свч к воздействию ионизирующих излучений // 2602416
Использование: для отбраковки полупроводниковых приборов. Сущность изобретения заключается в подаче на каждый прибор из группы однотипных приборов неизменные напряжения питания, приложении последовательности циклов ионизирующего излучения, доза которого накапливается в каждом цикле с тем, чтобы получить вызванное ею приращение интегрального низкочастотного шума прибора над шумами его исходного состояния, анализе приращений интегрального шума с ростом накопленной дозы, определении приращения интегрального шума, достигнутого к моменту окончания М-го цикла, с которого начинают уверенно фиксироваться изменения рабочего тока прибора, выбраковке приборов тех типов, у которых среднее значение приращения интегрального шума на единицу дозы, достигнутое к моменту окончания М-го цикла, оказывается больше, чем у приборов других типов.
Изобретение относится к встроенному логическому анализатору и, в частности, к программируемому встроенному логическому анализатору для анализа электронной схемы. Устройство для тестирования и отладки электронной схемы, содержащее логический анализатор, имеющий первый вход, принимающий множество сигналов, и выход для обеспечения индикации обнаружения, с помощью логического анализатора, по меньшей мере одного запускающего события; и блок со встроенным самотестированием (BIST), имеющий первый вход для приема одного или более сигналов, появляющихся на первом входе логического анализатора, второй вход, соединенный с выходом логического анализатора для избирательного задействования блока BIST, причем блок BIST генерирует и поддерживает сигнатуру на основании первого и второго его входов.
