Способ измерения параметров нейтронного излучения

 

Способ измерения параметров нейтронного излучения, основанный на замедлении нейтронов с последующей их регистрацией детекторами тепловых нейтронов, отличающийся тем, что, с целью одновременного измерения потока, дозы и спектра прямого пучка нейтронов с помощью цилиндрического замедлителя и серии детекторов тепловых нейтронов, расположенных на различной глубине вдоль его оси, измеряют распределение замедлившихся нейтронов по глубине замедления при одностороннем облучении замедлителя вначале моноэнергетическими нейтронами различных энергий в диапазоне от тепловых до 14 - 18 Мэв, а затем нейтронным пучком, параметры которого подлежат определению, и далее по совокупности полученных распределений определяют параметры нейтронного излучения.



 

Похожие патенты:

Устройствоjum опр!нейтронноикомпон1луч1f1изобретение относится к устройствам, предназначенным для разделения потока нейтронов космических лучей по энергиям, регистрируемого нейтронным монитором или супермонитором станции космических лучей. данные регистраторов кратностей используются при излучении вариаций космических лучей., определение кратностей нейт-» ронной компоненты космических лучей основано на том.что первичный, нейтрон, попадая в тело датчика нейтронного монитора, вызывает ге-т нерацию некоторого числа вторичных нейтронов, имеющих общее название "звезда*, которые регистрируются счетчиками. чем больше энергия пришедшего первичного • нейтрона, тем больше вторичных нейтронов в "звезде", тем больше число их зарегистрируется счетчиками, т.е. тем больше кратность зарегистрированной "звезды" (одноч кратные, двукратные и т.д. "звезрс ды").101520подсчет количества нейтронов в "звезде", т.е. определение её кратности, производится в течени^ определенного времени сбора ''тс , которое выбирается несколько большим времени ?ивни "звездц" в датчике нейтронного монитора, отсчет времени сбора тс начина-» ется от момента регистрации счет^ чиками первого нейтрона регистри'п руемой "звезды".известно устройство для определения кратностей нейтронной компоненты космических лучей - по авт.св. № 335636, статистичес>& ки полно исключающее р выходных данных влияние эффекта двойных совпадений.такое устройство содержит фор«1ирователи основного вршени сбора, форлирователь времени задержки, формирователь контрольного времени и формирователь компенсйрущез?с) времени cso]^, соединенные последовательно, подсчитываюпше кратность регистрир!уе- // 433434

Изобретение относится к технической физике, точнее - к области регистрации нейтронов

Изобретение относится к детекторам быстрых нейтронов и может быть использовано, например, для реализации метода регистрации скрытых взрывчатых веществ и наркотиков

Изобретение относится к области технической физики, а точнее - к области регистрации нейтронов

Изобретение относится к технике измерения ионизирующих излучения и может быть использовано в детекторах нейтронов прямого заряда

Изобретение относится к ядерной энергетике и может быть использовано в сборках детекторов системы внутриреакторного контроля, используемых для контроля за состоянием активной зоны ядерных реакторов, преимущественно в реакторах с водой под давлением и в кипящих реакторах

Изобретение относится к определению характеристики ионизационной камеры деления

Изобретение относится к области измерений ядерного излучения и предназначено для измерения и определения доз нейтронного излучения

Изобретение относится к области дозиметрии быстрых и тепловых нейтронов и гамма-излучения и предназначено для использования в комплексах и системах радиационного контроля
Наверх