Измеритель динамических параметров функциональных электронных устройств

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ ()532065

Со)оз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

X ), «-... (61) Дополнительное к авт. Свнд-I)y— (22) Заявлспо 16.01.75 (21) 2099305 21 (5! ).(1.Кл.з С 01 R 31:28 с T)p»coed!I!le!I)!ex! заявки—

Государственна!й комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет— (43) Опубл!!ковано 15.10. (6. 1э!Ог!л TL»» 6 38 (45) Дата гпуб iiIKOR2II»)I оп»сан»я 18.10.76 (53) У 11Х 621.317.799:

:621.3.049.75 (088.8) (?2) Авторы

:130(!pcTP)!Ня А. А. Богородицкий, А. Г. Рыжевский, Б. А. Супонин, М. П, Шадрин и Ю. В. Шишков (7l) Заявитель Пензенский филиал Всесоюзного научно-исследовательского технологического института приборостроения (54) ИЗМЕРИТЕЛЬ ДИY>АМИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ

11зобрстеннс от»о нтся к облает;! элск ;)опзмсрптсль. ой те»)IK. I и может быть испо".ü3o2:.11)о лля:!змерсп. !я и контроля параметров

) С.),III I С,ILП, 1:!ЗЕРТОРОВ, ЛОГ:)ЧССК))Х ЭГ)сх!С. Iтов и т. и.

1 13:? с f:IО cтроЙст .30 л:)я пзмереllllй лпн !— х) и ч сок;! х. хар акте;):!стп к логических эл сх: сilтОВ, солержагцес ко lb!ILВой ге)!ератор, блок lзмсрс:. »я Rblxoл !ого пгпа 12 кольцевогO г(:;срлторл, пep ключлтслц лля заме:!ы этало:ных э,leмс:.ITo, 3 ко.ib»eзо! О Гепсpатора:1(. и»!т;схlым э.lсх!сптoх! (!1.

1 1 3:3 с" Т!! О i м с т р О Й с т В О:1 хl Lс т : I (> л О с т 2 т О I—

:!у)о точ»ость )!змсрсння, кроме то: о,:ie»оз.> л., ".Ня выход:)ого наппяжения.

11R>3eст»о уcT JO)icIRO лля нзмергнпя л:I»<1. 12 Л 3! PTPOR \)П КР ОСХЕ3! НЛ 0<.1! О)><.. кольцсзо "o —. . сратора, солержагцее схему

С 0 3 П Л Л С ) i ß, i(3 Ы Х 0;1 М К 0 Г 0 P O l! Гl О:! К, I IO < i С, Л

ЦС.",Ь .!ОСЛСЛО:„iTСЛЬ.!О СОСЛ.:1:!СП!ibiX МИКРОcxåм, пр:.I÷åì зыхол послед>!ей м :!кросхсмы соединен с испытуемой мнкросхемой, выходом

ПОЛКЛЮ !P»»0)i К llICK )!IXI)III ËÒÎÏ>, ЗЫХОЛ КОторого через ключ 1<олкл)очен к одному пз

ВхОлОВ схемы соз:I2äe>I)iÿ, à зтОрОП зхол схе lU СОЗПЛЛС:1:!Я ЧЕРСЗ КЛЮЧ ПОЛКЛЮЧЕЧ К ВХОд), испытуемой м)!кросхемы, второй Rxoä,:Ic—

K, 3:1мll» 1 ГОРЛ . IОЛК,IК) IС!I К »СТО I:!ПКУ ОПО;3)lbIX

:::: !< ря:кс»:< il 1-!.

Ол». I KÎ:12»сот:!Ос»строЙство lixieeT »3)(11)i .1»:! !) I;I I(.С Кlili ЛП 2 П 23011 113 МЕРЕН)IЯ, Т2K К2K л,!я:)о 3i<, ü:iîãî фу:!кцпо:!Прова))пя устройСТ)3Л 3:I p 031 e :I ЗЛЛСржяll:ICÏÛТ>>ЕХIОГО

Л:IC!(;:! I Х))l:I ЛTO;) 2 30.lit(110 0»I! I> ьш .> 12 1:.:.i! I! зллсржск этлло Пых эл(3)с.:I I ÎR, л TЗK 1>л! :i:lформац»10 О пзме(зяех)03)

11 ll lм:!чсск03! 1 арi!31eтpL iii .сст !3 ссOp только

3! <. Л Л Я Ч Л С ГЬ ПСР))ОЛ2 C ) Е,!О 32 !!!I Я KОЛ ЬЦСВО) 0

l - l - P2TÎP<2, то 0: Ран)!чllВ<)стсЯ Р )з)зсшлюп1лЯ с»особ !осТ» 3стрОЙств;3

С це,! bio л;ш:!ре:!)!я лпапазо:.1;3 пзмср;>»»я;! повыше:3;!я разрешаюгцей спосоопост)! у; Tpoilc. Вл з пзмср;!тель Линам)!ческпх парл., .Г;.0R фу:!кц)!о )2 !b:!ых электронных ус). 01!Отз:!л Oc:.0RC .(ольцсвого гс .Ср2Тор2, солсзжлн(НЙ фо»мцрозатсль Входных с)IГн210!3, ыхОЗ, которо-.о полклк3

: обработки R>i>!x0;I!!blx снгналоз и к вход))ым ::K:!Мам;!сгытус»ого устройства, пороговый эл,>мс»т, »сточ).:)к опорных напряжений, пол...Ю le:I:11",é ОЛ)!03!3 ПЗ ВХОЛОВ ПОООГОВ010

:.<Сз)С:!ТЛ, .",P»TO)l RXO;1 КОТО IOI O СОСЛПНЕН

Выход):bi3lii зажпмлм испытуемого устройс-3:1,:3ВRP;:с ц.! Нзолрох!нос звено н цепочка )IR !..Л ):!Л, 1"., 11> 10:) " TO(<1:!0 RKC!IOзнсторам:I> олпн цз которых соелпПОСЛ СЛОR>2> L>! b! О С ОЛН;IМ ПЗ Л<)ОЛОЗ, 532065 пр:1 этом 3:!2 (с!(не напряже:(:(я L (ачинает уменьшаться.

Таким образом, 1121)pÿæBíèå L „в„.„иа зых02с порогîзог0 элеменTà 9 пгpåхОдиT з об l2cTb положительных значений однозргме".flio с началом спада импульса напряжения iia выходе элемента 1, пр(!чгм при L, „„)0 i:.2

Вход изодромного ззгиа 3 подается гораздо большее иапряже!i;Iе, чем при L „,.„, (0. т. е.

+и„,, -U, В момент ВРемгии 1 напРЯже:(:.rc . вв.. на

ЗЫХОдЕ ИСПЫтуЕМОГО ЭЛЕМЕНта ДОСтИГ:(гт зиз— чен(я U, „, схема сравне:(ия 10 в:roBr, cpа-!

)2TbIBilpT, а !12 PE Bblxo30 напряжг:i:tc- („„,. иач((иает уменьшаться: в момен(BpåìcHè (; переходит з область отрицателы(ь(х ":IB÷P:I:.Ié, (Ip!1 этом форм;!роватгль 11 форм::(ругт

Г(ус(1» с е1 а и;) я ж г н и я О т p l l! l а т г;1 ьн О и по, 1 я:) 1i О с т:. ..

Период времен:,I 14 — 7;, является часть(0 времени спада импульса напряжения L на выходе испытуемого элемента, определяемого значением Увв,. В течение времен;1 Т,-„ напряжение на выходе схемы сраз:(си(я 10 положительно и увеличивается. В течение времени 1; — t4 напряжение U„,,„„также положителыю, но уменьшается, Поскольку 30 скорости 1121)2cT2111!H выход (ого:!ап;)яж;f!lH (/„в„„иа ВЫХОД;: СХЕМЫ CP23! ;Å I! H

l0 при переходе из области отрицатг".ûtû

3:(ачеиий в область полож((тель;(ых 31(ачг((ий

1t . !аоборот рав!tbt, то 35

13 5 14 Тсв

Следователь:io, за время 1; — -(,(=2Т,, к входу изодромного BBeila 3 прикзадывагтся 40 полное напряжеш:е с Выхода порогозо-о элсме(!та 9, равное UB.

В соотВетстВП:.t с фуHкцигй Ге.)едачl(изодромиого звена напряже!I„Ie t!2 его выходе

4;) после момента Време,i!1 t; рав.to

U„,„,, U„- — U,>

В тече((не времени 16 — t„=To к входу изодромного звена 3 прикладывается малое отрицатель!Ioe напряжение, так как U„„„(0, диод 5 закрыт, а значеи fe Выходного напря)кения U„„, изодромного звена 3 линейно уменьшается, достигая B момент времени 4

:.улевого уровня

Р,, (/выхв (/вав (/) . 0 (3) — Р-, 60 при 1=ТО, где L,„„— L,„!, Подставив в выражение (3) значение t= Т,„ и U„„„, после простейших преобразований

ПОЛУЧИМ

Т =2T„R-"- т с". Р (4) Т= Т, —.— T,, — - 2Тс„+ T„, (5) Подставляя г Bü!ðажение (5) выражение (4), полмчим

Р,- т=т.. .т, т,,(;(, — )) (r

1 в

Гдг Т с, и » )ио 30».\101(11 OT . (2Ч2 12 СП2Д2

i 1 и; . 1 ü с 2:! 1 2: i .) я ж .ч! и я 1! 2 В ы х 0 д г и с и ы т м е м 0 Г 0 эл )(г:(та .до мо)lг:!т" г. О cp2BBPí!1H со 3:-lаче, :... м U„, 1 13 хl г Э г! (и г 3: i 2 H I: I:1 Я Вo!» хl г:1:1 т,(, ф р 0 Н Т 2 л» !P)! Н

Т П;)О:(= .ОД:IТ 3 Ti)!-! T2! -Ò2.

В пгр30. такTP, у тзназз:132я

L „,, =О,1 U„,.„,.„,,„, 3 2 и ) XI !! н 2 ю т 3 (1 2 1 г . (и г Т . В о 3 T o j) o )I т 2 к те, т.-.назл:(за я

U„,. = 0,9U, 32 ПО)11(и 210Т 3 :! 2Ч гl-:иг T . O«2B!13!f О, ЧТО

Т =Т,, — Т!„., --Т,-„ 2 1-- Р -Р . (7) (Р, -(- Рв

В третье т.-:ктг:!аходят раз! ость

Ы = т — Т = (Т,. — т;„- (тсв — т, „) R,4R I

Р, Очгзид:.о, что Т,,„— Т,-„= тф, В: (омг н Г 3:) Смени t(; выходное и а пряже:(:(е изодром 10 "0 ззгна 3 переход;(т в область от;): и, 1 т г,) ь н ы х 3! I 2 ч г! i!!!!, и р 0 и е с с ф О;) ) 1 и р О в 2I! я и. п Iь :! 01! по 51 доз атгльности пОВтор ..тся.

Т:! к(!)1 Об;) 330м, Вкчlочгние в itBtlb кольцеВОГЭ с(,.") r Top 2 ПОС,.ЕДОЗ 2ТЕЛЫIО Согд ИНЕ!I: «Ы Х Ц г П 0 Ч К (! 113 Д 3 М Х Д И 0 Д 0 В И Р Е 3 И С Т 0 т) 0 В l f изод;)омно(0 ззе:(2 позволяет реал:(зовать в

o ibi!cBoro ((йно-.о :)асш;(ргния измеряемого интервала зргм м(l. В и!(Тервал времени t; — ;=2T,.„

:!)одромно. ззг((о 3:I:(тегрирует значе((ие на.I .)Hæc.I!(5I полож:(телы(ой по IHpHîñòè + L „, !

1 ..(:I rip)3;1,1 Bppìcíè tB — tg — значение отриR. цатгльн(н,);:,::.пряже:!Пя — U — —, что по R.--R-

330.! H T расшир:(ть изме;)ягмый 1!!(терзал зреR,—. R,1 !i!(3 — — — — p23 1 . Во стОлькО жг р23 х BpR. ли и!ть долю по,.c3:(ой информации в периоде следования кольцевого генератора.

Зна lci!!iг пгр (oда Т следования импульсов (2 выходе форм:iрозателя 1 входных сигнаë0ç мож:(о вычислить, просумм:(розав значе;".(я гго =о тазляюгц((х

Ех z

Состава-.с,.в А. Рассчотров

Pc"„аа.ор T. Янова Тех,ед Л. (,очегиирова (о, сато И. Симакина

За:".!3 92i !2(Т Т1! д. X 16 T:ii i,;, (029 По гппсиое

Ц((П! (П(1 Государственпогс ио от т» Гово-.а .11 iii:ii г, . в ГГГР

lIo депаи . ооретеип(1 и от:.ргитип. 1осива, x(>-3,, iix: сваи liQii.. g. 4, 5

I lliI. :а!пк фи . пред, < Патент»

Измеритель динамических параметров функциональных электронных устройств Измеритель динамических параметров функциональных электронных устройств Измеритель динамических параметров функциональных электронных устройств Измеритель динамических параметров функциональных электронных устройств Измеритель динамических параметров функциональных электронных устройств 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к классу устройств для контроля и диагностики параметров тиристорных преобразователей, управление которыми осуществляется на базе микропроцессорной техники

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Изобретение относится к области диагностирования силовой электротехники, в частности тиристорных преобразователей, и предназначено для поддержания надежности тиристорного преобразователя на требуемом уровне и своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода последних в специальный контрольный режим

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в качестве устройства диагностики при проведении пусконаладочных работ, эксплуатации и ремонте устройств автоматики и вычислительной техники на микросхемах эмиттерно-связанной логики (ЭСЛ)

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике для диагностики состояния объекта по результатам преобразования детерминированных и случайных сигналов и может быть использовано в телеметрических системах с эвакуируемыми накопителями информации ("черный ящик") и радиоканалом для передачи катастрофических отказов

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования разветвленных электронных цепей

Изобретение относится к способам электрического контроля и испытаний на постоянном и переменном токе с последующей отбраковкой подложек из диэлектрика или полупроводника, содержащих изделия электронной техники и электротехники (электрорадиоизделия), содержащих плоские и объемные проводящие области, содержащих активные и пассивные функциональные элементы в виде полупроводниковых приборов, многослойных трехмерных структур, пленок с различным типом электрической проводимости, жидкокристаллических панелей и др

Изобретение относится к автоматике и контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и поиска неисправностей в цифровых электронных устройствах

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности цифровых блоков и схем, поиска и локализации в них неисправностей как в процессе регулировки, так и в процессе эксплуатации
Наверх