Контактное устройство

Авторы патента:

G01R31/28 - испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигнала (испытание на короткое замыкание, обрыв, утечку или неправильное соединение G01R 31/02; контрольные вычислительные устройства G06F 11/00; статические запоминающие устройства для контроля работы накопителей G11C 29/00)

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистических

Республик (11) 571937

К АВТОРСКОМУ СВИДВТИЙЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. сеид-ву(22) Заявлено 17»10.74 (21) 2069872/21 (51) М. Кл.

Н 05 К 1/04 с присоединением заявки №

Гааударстаанный иамитет

Савата Мнинатраа СССР аа двлам нзабретаний н аткрытий (23) Приоритет (43) Опубликовано 05 pg 77 юллетень ¹ эз (4б) Дата опубликования описания 25.10.77 (53) УДК 621.315. .684 (088.8) (72) Авторы изобретения

Ю. В. Богданов, А, В. Абрамов и Н, Q.,Мальченкова. (71) Заявитель (54) КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО

Изобретение относится к области радио техники и может, быть использовано для контроля микросхем, Известны контактные устроиства для контроля микросхем, содержашие основание из магнитомягкого материала, на котором размещены взаимоподвижные контактные элементы в виде зондов с держателями, на каждом из которых закреплен магнит. Зонды ооеди» иены проводниками с. измерительным приб<гром (1 J

При перемешении зондов проводники, размещаясь по основанию, создают неудобство в работе и могут снизить надежность конт

PQHЯ» от другой частей, а держатели зондов - из токопроводяшего материала.

На фиг, 1 изображено описываемое устройство на фиг. 2 - контактный элемент.

Контактное устройство содержит основание 1 из ферромагнитного материала, например, в виде стальной плиты, разделенной перегородками 2 на изолированные одна от другой части, На основании размешены взаимо1а подвижные, контактные элементы в виде зон-! дов 3 с держателями 4 из токопроводяшего материала, снабженными магнитами 5. Меж- ду магнитами и основанием имеется зазор, Устройство работает следуюшим образом, Микросхему 6 устанавливают на основание, каждая из изолированных частей которо

Бель изобретения - повышение удобства го соединена с измерительным прибором, и эксплуатации и надежности контроля - дости- подводят зонды 3 к контролируемым точкам. гается тем, что в контактном устройстве, Положение зондов фиксируется притяжением преимушественно для контроля микросхем, q магнита к основанию. содерлешем основание из магнитомягкого ма- Отсутствие проводников на основании упротериала и размешенные на нем взаимоподвиж шьет эксплуатацию устройства. иые контактные элементы в виде зондов . с . Ф о р м у л а и з о б р е т е н и я держателями, снабженными магнитами, осно- Контактное устройство, нреимушественно вание выполнено в виде изолированных одна для контроля микросхем, содержашее основа571937

Фиа1

Составитель Н. Блинкова

Техред И . Гоксич Корректор П. Макаревич с

Редактор Л. Утехина

Заказ 3

2/41-: Тираж 1003 Подписное

ОНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д 4/5

Филиал ППП Патент", r, Ужгород, ул. Проектная, 4 ние из магнитомягкого материала и размешенные на нем взаимоподвижные контактные апементы в виде зондов с держателями, снаб женными магнитами, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что, с целью повышения удобства эксплуатации и надежности контроля, основание выполнено в виде изолированных одна от другой частей, а держатели зондов - из токэпроводящего материала.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:

1 Авторское свидетельство СССР

Ж 528713, кл. Н 05 К 1/04, 19731

Устройство для проверки и измерения параметров цифровых полупроводниковых элементов // 570884

Устройство для автоматического контроля параметров радиоэлектронной аппаратуры // 570855

Устройство контроля и диагностики цифровых схем // 562783

Устройство для измерения области работоспособности электронных схем // 555353

Устройство для измерения динамических параметров схем // 555352

Измерительный зонд // 553763

Устройство для проверки выходных параметров электронных схем // 553553

Устройство для измерения задержек сигналов в четырехполюсниках // 551574

Устройство для определения оптимальных параметров электронных схем // 550645

Устройство контроля импульсов управления тиристорами преобразователя // 2111500

Изобретение относится к классу устройств для контроля и диагностики параметров тиристорных преобразователей, управление которыми осуществляется на базе микропроцессорной техники

Устройство диагностирования тиристорного преобразователя // 2133042

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим

Способ диагностирования тиристорного преобразователя // 2133043

Изобретение относится к области диагностирования силовой электротехники, в частности тиристорных преобразователей, и предназначено для поддержания надежности тиристорного преобразователя на требуемом уровне и своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода последних в специальный контрольный режим

Логический тестер // 2133475

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в качестве устройства диагностики при проведении пусконаладочных работ, эксплуатации и ремонте устройств автоматики и вычислительной техники на микросхемах эмиттерно-связанной логики (ЭСЛ)

Способ экспресс-диагностики многоканальных цифровых блоков // 2133479

Способ многоканальной экспресс-диагностики // 2133970

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике для диагностики состояния объекта по результатам преобразования детерминированных и случайных сигналов и может быть использовано в телеметрических системах с эвакуируемыми накопителями информации ("черный ящик") и радиоканалом для передачи катастрофических отказов

Устройство для проверки электронных схем // 2137148

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования разветвленных электронных цепей

Способ отбраковочных испытаний подложки из диэлектрика или полупроводника с топологией, изделий электронной техники на стойкость к внешним воздействующим факторам // 2138830

Изобретение относится к способам электрического контроля и испытаний на постоянном и переменном токе с последующей отбраковкой подложек из диэлектрика или полупроводника, содержащих изделия электронной техники и электротехники (электрорадиоизделия), содержащих плоские и объемные проводящие области, содержащих активные и пассивные функциональные элементы в виде полупроводниковых приборов, многослойных трехмерных структур, пленок с различным типом электрической проводимости, жидкокристаллических панелей и др

Устройство для контроля цифровых электронных схем // 2139565

Изобретение относится к автоматике и контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и поиска неисправностей в цифровых электронных устройствах

Комплекс экспресс-диагностики многоканальных цифровых блоков // 2141686

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности цифровых блоков и схем, поиска и локализации в них неисправностей как в процессе регулировки, так и в процессе эксплуатации