Устройство для снятия семейства характеристик электронной лампы

 

% 62083

Класс 21g, 13;, CCCP

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

П. А. Бабский

УСТРОЙСТВО ДЛЯ СНЯТИЯ СЕМЕЙСТВА ХАРАКТЕРИСТИК

ЭЛЕКТРОННОЙ ЛАМПЫ

Заявлено 28 ноября 1940 г. ва М 5497/30919 в Народный Комиссариат обороны СССР

Предметом изобретения является устройство для снятия семейства характеристик электронной лампы с помощью электронного осциллографа. Согласно изобретению, для автоматической подзарядки конденсатора смещения управляющей сетки на одну и ту же величину за каждый период в цепь анода испытуемой лампы включен тиратрон, а в цепь сетки ее — тиратрон и кенотрон.

Сущность изобретения поясняется прилагаемым чертежом, на котором изображена электрическая схема предлагаемого устройства.

Устройство работает следующим образом.

Пусть в некоторый момент времени:потенциал на вторичной обмотке !! трансформ атора с левой стороны (со стороны, соединенной с анодом тиратрона Т,) имеет положительный знак, Тогда, при некоторой величине этого потенциала, за?кжется тиратрон Т, в анодной цепи испытуемой лампы Л. Следовательно, на анод исследуемой лампы будет подаваться положительное напряжение и через лампу пойдет ток. который будет увеличиваться с увеличением подводимого напряжения.

Будем считать, что в это время потенциал управляющей сетки U,t равен О. В это ?KC время с левой стороны обмотки !П потенциал имел положительное значение и ток через кенотрон К отсутствовал.

Во вторую половину периода знак потенциалов на обмотках !! и !!! изменится на обратный, и ток через испытуемую лампу Л проходить не будет, а через кенотрон К пойдет ток в направлении, указанном стрелкой, и зарядит конденсатор С так, что пластина конденсатора, присоединенная к управляющей сетке испытуемой лампы, будет иметь отрицательный потенциал, равный — Л /я1, который определяется емкостью конденсатора С и температурой катода кенотрона.

В третий полупериод анодная цепь испытуемой лампы снова становится токопроводящей, а кенотрон в цепи сетки не проводит тока и потенциал на конденсаторе С и на управляющей сетке испытуемой лампы остается постоянным в течение полупериода.

В четвертый полупериод анодная цепь испытуемой лампы снова запирается, а кенотрон в цепи сетки опять пропускает определенное количество электричества, практически равное тому, которое было пропущено во второй полупериод, благодаря высокому напряжению обмотки 111, и конденсатор заряжается еще на величину, равную — AU >, следовательно, теперь конденсатор будет заряжен до разности потенциалов, равной — 2 Л0д При некоторой разности потенциалов на конденсаторе С тиратрон Т в цепи управляющей сетки испытуемой лампы заж кется и конденсатор разрядится до нуля.

Ток в анодной цепи испытуемой лампы проходит через сопротивление Рда и создает на нем падение напряжения, которое и подводится к вертикальным отклоняющим пластинам электронного осциллографа.

На горизонтальные отклоняющие пластины электронного осциллографа подводится с сопротивления Rua напряжение, пропорциональное анодному напряжению испытуемой лампы.

Электронный луч осциллографа, следуя за этим напряжением, одновременно описывает на светящемся экране осциллографа одну, другую,... пятую, десятую и т. д. характеристику, которые глаз видит как целое семейство.

Такая схема дает возможность снимать семейство характеристик электронной лампы в большом количестве; при частоте питания, большей 50 гц, этн возможности увеличиваются еще больше. При частоте

f = 50 гц число характеристик в одном семействе вполне достаточно для целей практического применения.

Точность характеристик определяется качество деталей, особенно качеством конденсатора С, и величиной напряжения на обмотке !11 трансформатора. В цепи конденсатора С включен миллиамперметр mA, а в цепи сеток испытуемой лампы вольтметр V.

Предмет изобретения

Устройство для снятия семейства характеристик электронной лампы с помощью электронного осциллографа, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что для автоматической подзарядки конденсатора смещения управляющей сетки на одну и ту же величину за каждый период в цепь анода испытуемой лампы включен тиратрон, а в цепь сетки ее — тиратрон и кенотрон. № 62083

К +

re -с

Подо. к печ. 10/Ill — 62 г. Формат бум. 70 К 108 /и.

Зак. 335/!. Тираж 200.

ЦБТИ при Комитете по делам изобретений н открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, М. Черкасский пер., д, 2/6.

Объем 0,26 изд. л.

Цена 5 хоп.

Типография, пр. Сапунова, 2.

Редахгор Ю. Б. Городецкий. Тсхрсд А. А. Камышникова. Корректор В. П. Фомина.

Устройство для снятия семейства характеристик электронной лампы Устройство для снятия семейства характеристик электронной лампы Устройство для снятия семейства характеристик электронной лампы 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к технике создания интенсивных ионных потоков и пучков и может быть использовано при определении показателей надежности (ресурса) различных ионных источников, в частности, ионных двигателей

Изобретение относится к термоэмиссионному методу преобразования тепловой энергии непосредственно в электрическую и может быть использовано при создании энергоустановок с термоэмиссионным реактором преобразователем (ТРП) с расположенными внутри активной зоны термоэмиссионными электрогенерирующими сборками (ЭГС)

Изобретение относится к разряднику защиты от перенапряжений для высокого или среднего напряжения

Изобретение относится к области электротехники, а именно к устройствам для испытания электровакуумных приборов

Изобретение относится к электрическим измерениям, в частности к измерению параметров разрядников с шунтирующими сопротивлениями и ограничителей перенапряжений, предназначенных для защиты электрооборудования от грозовых и коммутационных перенапряжений
Наверх