Селективный дефектоскоп

Авторы патента:

G01N27/86 - Исследование или анализ материалов с помощью электрических, электрохимических или магнитных средств (G01N 3/00-G01N 25/00 имеют преимущество; измерение переменных электрических или магнитных величин и исследование электрических или магнитных свойств материалов G01R)

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (11) 616579

Сеюз Советсння

С©цнапнстнчесння

Респубяни (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22) Заявлено 230277 (21) 2458906/25-28 (51) М. Кл. (01 Й 27/86 с присоединением заявки И

Государственный комитет

Совета Министров СССР ио делам изобретений и отнрытий (23) Приоритет (43) Опубликовано 250778. Бюллетень ЭЙ 27 (SS) УДК

620.179,14 (088.8) {45) Дата опубликования описания 150678

Ю.N. Врон, Л.С.Пачковский и Ю.Н.Русскевич (72) Авторы изобретения

P1) Заявитель научно-исследовательский и опытно-конструкторский институт автоматизации черной металлургии (54) СЕЛЕКТИВНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП

Изобретение предназначено для неразрушающего контроля качества поверхности цилиндрических изделий и может быть использовано для контроля длинномерных цилиндрических иэделий в чер-6 ной металлургии.

Известен дефектоскоп селективного контроля поверхности проката, в котором для повышения надежности обнаружения продольно ориентированных дефектов используется запись информации о дефекте на движущийся магнитоноситель с последующим считыванием и логической обработкой этой информации s электронном блоке(1).

Недостатком такого дефектоскопа является возможность пропуска протяженного дефекта, если такой дефект смещен относительно ферроэондов и ко- ® роче двойного расстояния между ними.

Известен дефектоскоп наиболее близкий к изобретению по технической сущности, содержащий два одинаковых измерительных канала, выполненные каж" дый в виде последовательно соединенных феррозондового преобразователя, усилителя с детектором и амплитудного дискриминатора, первую схему совпадения, входы которой соединены с выа ходами амплитудных дискриминаторов, и выходной индикатор(2), Известное устройство позволяет определить характер и местоположение дефекта, но не позволяет определять наличие дефектов, смещенных относительно преобразователей феррозондов.

Целью изобретения является повышение точности контроля.

Это достигается тем, что предлагаемый дефектоскоп снабжен второй схемой совпадения, схемой ИЛИ, входы которой соединены с выходами схем совпадения, преобразователем угла поворота и регистром сдвига, тактовый вход которого соединен с преобразователем угла поворота, а .логический вход- с выходом одного из амплитудных дискриминаторов. Выход другого амплитудного дискриминатора и выход регистра сдвига соединены со вхо-: дами второй схемы совпадения.

На чертеже изображена структурная схема селективного дефектоскопа.

Селективный дефектоскоп для контроля длинномерных иэделий содержит. узел 1 сканирования, включающий основание 2, преобразователь 3 угла поворота, два канала, выполненные каждый в виде феррозондового преобразовате3 ля 4 и 5, усилителя б и 7 и амплитудного дискриминатора 8 и 9, первую схему 10 совпадения, вторую схему 13., совпадения, регистр 12 сдвига, схе.му .13 ИЛЙ и выходной индикатор 3,4.

Основание 2 с установленными на

:.нем преобразователями 4 и 5 механи-., 8 чески скреплено с узлом 1. Преобразователи 4 и 5 образуют два канала измерения и соединены соответственно с усилителями .б и 7, выходы. которых подключены ко входам амплитудных 3Î дискриминаторов 8 и 9. Выход дискриминатора 8 соединен с логическим входом регистра 12 и одним входом схемы 10 совпадения. Тактовый вход регистра 12 соединен с преобразова- 35 телем 3, а выход вЂ” с одним входом второй схемы ll, совпадения. Выход дискриминатора .9 соединен с другими входами схем 3.0 и 11 совпадения, выходы которых соединены с входами схе- я3 мы ll ИЛИ, а ее выход вЂ” Ь индикатором 13.

Через узел 1 сканирования движется иэделие 15 с условно показанными дефектами 16.

Основание 2 вращается узлом 1 сканирования вокруг поступательно движущегося изделия 15. Когда дефект 16 находится одновременно под обоими преобразователями 4 и 5i то их сигЯ0 налы после усиления усилителями 6 и 7 и оценки величины сигнала (глубины деФекта) амплитуднымн дискриминаторами 8 и 9 поступг.от на оба входа схемы 10 совпадений, на выходе которой также появится сигнал. Сиг- 35 нал с выхода схемы 10 совпадений через схему 13 ИЛИ поступит на индикатор 14 и дефект будет зафиксирован.

Если дефект находится только под . 40 преобразователем 4, то его сигнал, усиленный усилителем б и оцененный по величине амплитудным дискриминатором 8, поступит одновременно на один из входов схемы совпадений,30 и ло- 45 гический вход регистра 12. Так как сигнал на втором входе схемы 10 совпадений отсутствует, то и на ее выходе сигнала не будет.

Сигнал, поступивший на логи юеский вход регистра 12, через оборот, благодаря сигналу преобразователя 3, когда основание 2 окажется опять над тем же дефектоМ, появится на выходе регистра 12 и поступит на один из входов схемы 11 совпадений. Если дефект 16 длиннее, чем расстояние между преобразователями 4 и 5, то на другой вход схемы 11 совпадений так- . же поступит сигнал. С выхода схемы 11 совладений сигнал через схему 13 ИЛИ поступит на индикатор 14 и дефект будет зафиксирован.

;Предложенный селективный дефекто" скол повышает точность выявления протяженных поверхностных дефектов при контроле длинномерных изделий цилиндрической формы.

Формула изобретения

Селективный дефектоскоп, содержа" щий два одинаковых измерительных канала, выполненные каждый в виде последовательно соединенных феррозон,.с:,свого преобразователя, усилителя и амплитудного дискриминатора, первую схему совпадения, входы которой соединены с выходами амплитудных дискримин TopoBр и вы одной индикаторр" отличающийся тем, что, с целью r.oýûà|íèÿ точности контроля, он сп-.áÿåí второй схемой совпадения, схемой ИЛИ, входы которой соединены с выходами схем совпадения, преобраscBB.телек угла поворота и регистром срвига, тактовый вход которого соединен с преобраэователем угла Поворота, а логический вход вЂ” с выходом о -,ного иэ амплитудных дискриминатоРс:в„ выход другого амплитудного дискриминатора и выход регистра сдвиге. соединены со входами второй схемы

ocвпадения, Источники информации принятые во внимание при экспертизе :

1. Авторское свидетельство СССР

Р 76708, кл.Q 01Я 27/86, 1968.

2. Лвторское свидетельство СССР

Р 4 02796, кл. Q 01 Ц 27/88 1971 .

616579

Составитель A.Ìàòâååâ

Техред N.Норисова Корректор С.Гарасиняк

Редактор Л.Народная

Филиал ППП Патент, r.Óæãoðîä, ул.Проектная,4

Заказ 4060/42 Тираж 1112 Подписное

ЦИНИПИ ГосУдарственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д,4/5

Похожие патенты:

Вихретоковый преобразователь // 616577

Устройство для магнитошумовой структуроскопии // 616573

Проходной вихретоковой преобразователь к дефектоскопу // 616572

Способ электромагнитной дефектоскопии // 616571

Вихретоковой преобразователь для измерения длины трещин в электропроводящих материалах // 616570

Способ определения титана в органических производных ортотитановой кислоты // 616569

Способ определения галогенид-ионов // 614373

Автоматическая контрольносортировочная линия производства труб // 613235

Устройство для дефектоскопии цилиндрических изделий // 611145

Модулятор для импульсного спектрометра ядерного магнитного резонанса // 610010

Устройство для определения наличия и толщины пленки электролита на поверхности металлических объектов // 2107891

Электрохимический анализатор физико-химических свойств материалов // 2112965

Стационарный ph-метр для контроля жидких сред // 2112975

Изобретение относится к измерительным приборам и может быть использовано для контроля жидких сред, например молочных продуктов

Способ измерения объемного содержания компонента многокомпонентной однородной смеси // 2119658

Сенсор паров ароматических углеводородов // 2119662

Изобретение относится к аналитическому приборостроению и может быть использовано для определения концентрации паров ароматических углеводородов в атмосфере промышленных объектов и при экологическом контроле

Способ контроля анизотропии прочности твердых материалов и изделий // 2134876

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля анизотропии прочности твердых металлических и строительных материалов и изделий

Способ определения ресурса работы несущего элемента из жаропрочного термически упрочняемого алюминиевого сплава в конструкции летательного аппарата // 2140071

Изобретение относится к области исследования физико-механических свойств металлов и может быть использовано при диагностировании фактического состояния конструкции летательного аппарата после определенной наработки в процессе профилактических осмотров самолета

Способ определения запаса прочности нагруженного материала // 2141648

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа материалов путем определения их физических свойств, в частности предела прочности

Способ определения некомпенсированного электрического заряда материальных тел // 2145103

Изобретение относится к геофизике (гравиметрии, геомагнетизму), к общей физике и может быть использовано при определении взаимодействия материальных тел, при расчетах магнитной напряженности вращающихся тел, объектов, тяжелых деталей аппаратов, вращающихся с большой скоростью

Способ детектирования газовых смесей // 2146816

Изобретение относится к способам анализа смесей газов с целью установления их количественного и качественного состава и может быть использовано в газовых сенсорах