Устройство для получения проб

 

6393

10 где $ — толщина подложки:

Д1 - меньший диаметр отверстия поверхности подложки: т - температура.

Рассчитанная по этой формуле толщина дает возможность прохождения луча (в пределах применяющегося излучения) без эарезания при цилиндрической форме осевого отверстия.

Устройство работает следующим образом.

Лазерное излучение от источника 1 проходит через осевое отверстие 4 подложки 2 .и пропадает в выбранную под микроскопом точку исследуемой поверхности материала 3. Происходит мгновенный взрывообразный выброс пгрбы с образованием кратера, Выброшен19 ф йая проба оседает на поверкам ти Il(>)f— ложки 2 в форм» диска. Затем и дя н у переиосят в углубление электрода, который используют в качестве нижнего электрода при спектральном анализе.

Формула изобретения

Устройство для получения проб твердых материалов, включающее источник лазерного излучения и подложку с осевым отверстием, о т л и ч а ю щ е— е с я тем, что, с целью повышения достоверности проб, подложка выполнена в виде диска, причем диаметр осевого отверстия одной из поверхностей подложки меньше или равен диаметру отверстия другой поверхности.

Составитель А." Хачатурян

Редактор Л. Гольдина Техред А. Ач Корректор Г.Решетник

;Заказ 57 7 39 Тираж 907 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4