Устройство для контроля неровностей поверхности по способу светового сечения

 

ОП ИС

И306РЕТЕН ИЯ

АНИЕ

Союз Советских

Социалистииеских

Реслублик (- 667805

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 10.02.76 (21) 2322108/25-28 с присоединением заявки №вЂ” (5!) М. К,.

G01 В! 1/24

Государственный кеихтет

СССР па делам изобретений

H OTKPblTNH (23) Приоритет —, /

Опубликовано 15.06.79. Бюллетень № 22

Дата опубликования описания 25.06.79 (53) УДК 531.717..2.531.728 (088.8) (72) Автор изобретения

К. И. Куштанин (71) Заявитель (54) УСТРОЛСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ НЕРОВНОСТЕЛ

ПОВЕРХНОСТИ ПО СПОСОБУ СВЕТОВОГО СЕЧЕНИЯ

1 2

Изобретение относится к области техни- а система наблюдения снабжена соединических измерений в машиностроении, кон- тельным элементом, например кубиком с покретно к контролю формы рабочей поверх- лупрозрачной диагональной плоскостью, ности фильер. вводящим в систему и направляющим вдоль

Известно устройство для контроля не- ее оси пучки изображения марки. Это позровностей поверхности, содержащее осве- 5 воляет просматривать и измерять полости титель„марку с контрастными элементами, изделий. систему проецирования (1). Контроль фильер сопряжен со значительными трудностями — ---- -- -- На фиг. 1 изображена оптическая схема; устройство недостаточно универсально. на фиг. 2 — изображения линий марки.

Известны устройства для контроля неровностей поверхности по методу светового "О Устройство содержит осветитель 1, марсечения, содержащее осветитель, марку в"ви= - — ку 2, систему 3 проецирования марки в плосде пластинки с контрастными элемента@и,- -. - кость измерения, систему 4 наблюдения изобсистему проецирования марки в плоскость ражения в этой плоскости и кубик 5 с полуизмерения и систему наблюдения изображе- прозрачной диагональю. Пучки от освещенния в этой плоскости (2). В подобных уст- 1> ных элементов марки 2 направляются соедиройствах ось системы проецирования марки нительным кубиком 5 вдоль оси системы 4. лежит в плоскости измерения, что не позво- Изображения линий марки, сфокусированляет использовать их для контроля внут-" иые в плоскости измерения, пересекаясь с ренних поверхностей, например рабочей по- поверхностью изделия, образуют в точке певерхности фильер. ресечения световые пятна, имеющие сужения. !!ель изобретения — контроль внутрен- 2О Наблюдая через систему 4 положение этих них поверхностей вращения в сечениях, пер- сужений, судят о форме проверяемой поверх- пендикулярных оси изделия. ности. Несмотря на дискретность такой проДля этого элементы марки выполнены верки, устройство обеспечивает точность в виде радиально расположенных лИний,, и производительность контроля.

667805

Формула изобретения

Составитель В. Чудов

Редактор Н. Аристова Техред О. Луговая Корректор А. Гриценко

Заказ 3448 35 Тираж 865 Подписное

ЦН И И ПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП «Патент>, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для контроля неровностей поверхности по способу светового сечения, содержащее осветитель, марку в виде пластинки с контрастными элементами, систему проецирования марки в плоскость измерения и систему наблюдения изображения в этой плоскости, отличающееся тем, что, с целью

" контроля внутренних поверхностей вращения в сечениях, перпендикулярных оси изделия, контрастные элементы марки выполнены 1О

4 в виде радиально расположенных линий, а система наблюдения снабжена светоделительным кубом, установленным в месте пересечения оптических осей системы проецирования и системы наблюдения.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР № 201667, кл. G 01 В 9/04, 06.07.65.

2. Карташев А. И. Шероховатость поверхности и методы ее изменения. М., Машгиз, 1964, с. 62-63.

Устройство для контроля неровностей поверхности по способу светового сечения Устройство для контроля неровностей поверхности по способу светового сечения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения геометрических параметров объектов и оптическим устройствам для осуществления этих способов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактных измерений профиля деталей типа тел вращения, а также слабой волнистости поверхности в виде пространственной функции

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля технического состояния рельсового подвижного состава

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам для бесконтактного измерения отклонения поверхности длинных узких объектов от прямолинейного на заданном отрезке и может быть использовано для контроля прямолинейности поверхности катания рельса
Наверх