Способ определения глубины залегания дефектов в телах вращения

 

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ, РЕСПУБЛИК

„„SU„„678945 (51)5 С 01 М 23/18

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСКОМ,К СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ll0 ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21) 2528559/25 (22) 30.09.77 (46) 15 ° 02.91. Бюл, В 6 (7?) А.В.Грачев, А.Н,Майоров, К.П.Орлов и В.И.Петухов (53) 621.386(088.8) (56) Румянцев С,В. и др. Справочник рентгено- и гамма-дефектоскописта, M., Атомиздат, 1969, с.192.

Уманский Я.".. Рентгенография ме" таллов и полупроводников. M. "Металлургия", 1969, с.467. (54)(57) 1, СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЛУБИНЫ ЗАЛЕГАНИЯ ДЕФЕКТОВ В ТЕЛАХ ВРАЩЕНИЯ, заключающийся в просвечивании ,изделия потоком проникающего излучения и регистралии теневого изображеИз бретение относится к радиационной дефектоскопии, а именно к радиографическому методу контроля и может быть использовано для определения глубины залегания дефектов в трубах, стержневых изделиях, отливках цилиндрической формы и т.д.

Известен способ определения глубины дефектов с помощью эталонов.

При этом необходнмо использовать набор эталонов разной толщины.

Наиболее близким техническим решением является способ определения глубины залегания дефектов, заключающийся в просвечивании изделия потоком проникающего излучения и регистрации теневого изображения на неподвижную пленку.

2 ния изделия на неподвижную радиографическую пленку, о т л и ч а ю щ и й— с я тем, что, с целью экономии пленки и упрощения обработки результа- тов, в течение экспозиции иэделие поворачивают вокруг его оси на 360, а о глубину залегания дефекта определяют на снимке как расстояние от границы изображения изделия до границ.t полосы изображения дефекта.

2. Способ по п.1, о т л и ч а ю— шийся тем, что глубину залегания дефектов, расположенных в одной плоскости, перпендикулярной оси изделия, определяют как расстояние от границы изображения изделия до границ

Я изменения оптической плотности полосы изображения дефектов.

В этом случае глубина залегания определяется из. следующего соотношения:

Frа

Х = — --- — С, Ж

Ь+а где а — величина смещения изображения 4 дефекта; Ь вЂ” величина смешения источ- CgR ника излучения; С вЂ” расстояние от изделия до детектора; F — расстояние от источника излучения до детектора..

Недостатком этого метода является большой объем вспомогательных операций, включающий в себя два просвечивания со смещением источника излучения, измерение величин, входящих в формулу, и расчет по этой формуле.

Кроме того этот метод приводит к увеличению расхода радиографической пленки.

678945

Цель изобретения — экономия радиографической пленки и упрощение о6работки результатов.

Поставленная цель достигается тем, что изделие в течение. экспозиции поворачивают вокруг собственной оси на

360 . В результате вращения иэделия дефекты перемещаются относительно радиографической пленки, вследствие чего их изображения на снимке принимают вид полос. В этом случае глубина залегания дефектов соответству т расстоянию от границы изображения изделия до границы вышеописанной полосы. Изображения дефектов, расположенных в одной плоскости, перпендикулярной оси вращения иэделия, будут представлять собой наложение полос, отличающихся друг от друга оптической плотностью. В этом случае глубиной залегания является расстояние от границы изображения изделия до границизменения оптической плотности. 25

На фиг.1 изображена схема образования изображения дефектов; на фиг. 2— схема образования изображения дефектов, лежащих в одной плоскости, перпендикулярной оси вращения изделия.

Для определения глубины залегания дефектог. при просвечивании изделие 1 поворачивают, вокруг собственной оси с помощью электромехапического привода на 360

Зону просвечивания, шириной равнИ радиусу изделий и заключенную между двумя параллельными плоскостями, проходящими через образующую изделия I и ось его вращения, ограничивают или коллимацией излучения, или шириной .радиографической пленки 2.

Во время поворота изделия 1 дефекты 3 .перемещаются относительно неподвижной радиографической пленки 2 и на снимке приобретают вид полос 4.

Измеряя иа радиографическом снимке расстояние L от .границы изображения изделия до иэображения дефектов в виде полос 4, определяют глубину залегания дефектов.

Если дефекты 3 расположены в одной плоскости, перпендикулярной оси вращения иэделия 1, то их изображения накладываются друг на друга и приобретают вид полосы 5 с изменяющейся оптической плотностью. В этом случае глубину залегания дефектов определяют измерением расстояния L от границы изображения изделия до границ изменения оптической плотности 6 полосы.

В случае определения глубины залегания дефектов в изделиях, представляющих собой полые тела вращения, размер снимка можно сократить до толщины стенки изделия, что приведет к сокращению расхода радиографической пленки во столько раз, во сколько диаметр изделия больше толщины его стенки.

Способ сокращает объем вспомогательных операций, таких как перемещение источника излучения, замена радиографической пленки, измерение величин, входящих в формулу для определе- ния глубины залегания дефектов, расчет по этой формуле,и сводится лишь к измерению непосредственно глубины залегания дефекта на радиографическом енимке.

678945

Фиг. Я

Техред Л.Олийнык сг Корректор С. Шекмар

Редактор И.Ленина

Заказ 770

Тираж 397

Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101