Способ приклеивания резиновой подошвы обуви

 

Класс 71 a, 16,;

Ж 73547

СССР

О ПИСАН И К ИЗОБ 1=к ГЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ.

И. Б. Басс

СПОСОБ ПРИКЛЕИВАНИЯ РЕЗИНОВОЙ ПОДОШВЫ ОБУВИ

Заявлен.i 7 гноля 1947 голл в Министерство легкой промыпгленно;ти СССР за Хе 4937/356372 января 1949 голл

Опубликовано 31

Предлагаемый способ заключается в том, что склеиваемая поверхность резиновой подошвы подвергается шершеванию абразивным материалом, а затем обраоатывается перекисью водорода, например, 30"о-ной концентрации, в течение

1 — 1,5 час. После такой обработки подошве дают подсохнуть и затем ее приклеивают к затяжной кромке верха обуви известным способом при помощи обычно применяемых клеев: аго, казеинового, казеиново-известкового и т. п.

Предмет изобретения

Способ приклеивания резиновой подошвы обуви с применением клеев, имеющих полярный характер, о т л и ч а ю щ,и и с я тем, что псдлежащая приклеиванию поверхность подошвы после шершевания обрабатывается перекисью водорода. на пример, 30 о-ной концентрации, в течение 1 — 1,5 час., подсушивается и приклеивается обычным путем. бтн. редактор M. M. Акишин

13елактор И. А. Малинкин

1.07

Способ приклеивания резиновой подошвы обуви 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электронным вакуумным приборам, в частности к эмиссионным микроскопам и видеоусилителям, и раскрывает способ визуализации и увеличения изображений исследуемых объектов

Изобретение относится к области электронной микроскопии

Изобретение относится к области электронных приборов, в частности к эмиссионным видеоустройствам

Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано для получения топографии проводящих поверхностей, а также для изучения физико-технологических свойств твердых тел

Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано для получения топографии проводящих поверхностей, а также изучения физико-технологических свойств твердых тел

Изобретение относится к исследованию микрорельефа как проводящих, так и непроводящих поверхностей образцов твердых тел

Изобретение относится к области нанотехнологий, в частности к измерению температуры одной проводящей (металлической или полупроводниковой) наночастицы с помощью сканирующего туннельного микроскопа, работающего в режиме наноконтакта и использование эффекта Зеебека в наноразмерной контактной области

Изобретение относится к эмиссионной электронике и предназначено главным образом для изготовления микроострий-зондов для туннельных микроскопов, а также точечных автоэлектронных источников и образцов для автоэмиссионной микроскопии
Наверх