Эмиссионные микроскопы, например автоэлектронные микроскопы (H01J37/285)

H01 Основные элементы электрического оборудования(70435)

H01J Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы (искровые разрядники H01T; дуговые лампы с расходуемыми электродами H05B; ускорители элементарных частиц H05H) (10498)

H01J37 Разрядные приборы с устройствами для ввода объектов или материалов, подлежащих воздействию разряда, например с целью их исследования или обработки (H01J33,H01J40,H01J41,H01J47,H01J49 имеют преимущество; исследование или анализ поверхностных структур на атомном уровне с использованием техники сканирующего зонда G01N13/10, например растровая туннельная микроскопия G01N13/12; бесконтактные испытания электронных схем с использованием электронных пучков G01R31/305; детали устройств, использующих метод сканирующего зонда вообще G12B21) (805)

H01J37/285 Эмиссионные микроскопы, например автоэлектронные микроскопы(39)

Способ и система выравнивания изображений слоёв образца, полученных с помощью растрового электронного микроскопа с фокусированным ионным пучком // 2743231

Изобретение относится к способам обработки изображений и предназначено для выравнивания изображений слоев, полученных с помощью растрового электронного микроскопа с фокусированным ионным пучком, для последующего построения трехмерной модели образца.

Электрохимический сканирующий туннельный микроскоп // 2638941

Изобретение направлено на создание электрохимического цифрового сканирующего туннельного микроскопа. Технический результат - повышение точности, производительности и надежности измерений, а также расширение функциональных возможностей при исследовании электрохимических процессов.

Сканирующий туннельный микроскоп // 2465676

Изобретение относится к области приборостроения. .

Способ измерения температуры наночастицы // 2431151

Изобретение относится к области нанотехнологий, в частности к измерению температуры одной проводящей (металлической или полупроводниковой) наночастицы с помощью сканирующего туннельного микроскопа, работающего в режиме наноконтакта и использование эффекта Зеебека в наноразмерной контактной области.

Способ исследования поверхности твердого тела туннельным микроскопом // 2358352

Изобретение относится к исследованию микрорельефа как проводящих, так и непроводящих поверхностей образцов твердых тел. .

Сканирующий туннельный микроскоп // 2296387

Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано для получения топографии проводящих поверхностей, а также изучения физико-технологических свойств твердых тел. .

Сканирующий туннельный микроскоп // 2218629

Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано для получения топографии проводящих поверхностей, а также для изучения физико-технологических свойств твердых тел. .

Способ визуализации изображений объектов, эмитирующих заряженные частицы, и устройство для реализации способа // 2210138

Изобретение относится к области электронных приборов, в частности к эмиссионным видеоустройствам. .

Тестовый объект для калибровки растровых электронных микроскопов // 2207503

Изобретение относится к области электронной микроскопии. .

Зондирующий эмиттер для сканирующего туннельного микроскопа // 2117359

Способ визуализации на экране изображений исследуемых объектов и устройство для реализации способа // 2101800

Изобретение относится к электронным вакуумным приборам, в частности к эмиссионным микроскопам и видеоусилителям, и раскрывает способ визуализации и увеличения изображений исследуемых объектов. .

Способ исследования поверхности микрообъектов и устройство для его реализации // 2092863

Изобретение относится к области исследования поверхностных слоев вещества методами СВЧ и сканирующей туннельной спектроскопии. .

Устройство для исследования поверхности проводящих образцов // 2077091

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в исследовательских и технологических установках для контроля рельефа поверхностей и локального воздействия на них. .

Способ определения топографии поверхности вещества посредством сканирующего туннельного микроскопа // 2072581

Изобретение относится к области приборостроения, в частности, к сканирующей туннельной микроскопии (СТМ), используемой для исследования поверхности проводящих веществ. .

Способ изготовления зондирующего эмиттера для туннельной микроскопии // 2058612

Изобретение относится к эмиссионной электронике и предназначено главным образом для изготовления микроострий-зондов для туннельных микроскопов, а также точечных автоэлектронных источников и образцов для автоэмиссионной микроскопии.

Туннельный микроскоп // 2054740

Способ диагностики диэлектрического слоя на проводящей поверхности // 2047930

Изобретение относится к методам исследования тонких пленок и поверхности твердого тела, в частности адсорбированных слоев, находящихся в равновесии с газовой фазой при высоких давлениях. .

Сканирующий туннельный микроскоп // 1833046

Изобретение относится к туннельной микроскопии и может быть использовано для исследований быстропротекающих динамических процессов на поверхностях изучаемых объектов. .

Сканирующий туннельный микроскоп // 1797149

Туннельный микроскоп // 1721662

Изобретение относится к исследованию поверхности методом туннельной микроскопии. .

Устройство для исследования топографии проводящей поверхности // 1709429

Изобретение относится к структурным исследованиям поверхности с использованием туннельного эффекта. .

Сканирующий туннельный микроскоп // 1705915

Туннельный микроскоп // 1597961

Изобретение относится к туннельной микроскопии и может быть использовано для микроанализа поверхности твердых тел. .

Туннельный микроскоп // 1520609

Изобретение относится к электронной технике, в частности к микрозондовым приборам, в которых для исследования поверхности используется тунельный ток. .