Устройство для автоматического контроля толщины нанесения светочувствительного слоя на фотопленку

 

J% 79238

Класс 42Ь, 10

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬС1ВУ— с ;

) 111

Б. В. Дерягин, H. P. Кудрявицкий и С. М. Лейй

УСТРОЙСТВО ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ

ТОЛЩИНЫ НАНЕСЕНИЯ СВЕТОЧУВСТВИТЕЛЬНОГО СЛОЯ

НА ФОТОПЛЕНКУ

Заявлено 3 февраля 1949 года в Комитет по изобретениям и открытиям при Совете Министров СССР за № 391512

Опубликовано 28 февраля 1950 года — — — =К вЂ” г.

С, CI f 1 а

971

Предметом изобретения является устройство для автоматического контроля толщины нанесения светочувствительного слоя на фотопленку, в котором контролируемая пленка проходит последовательно между пластинами конденсаторов, один из кигорых расаола кен до поливной кюветы, а другой — после нее.

Известно уже применение конденсаторов, включенных в мостовые схемы, для измерения толщины движущихся лент.

Предлагаемое устройство отличается от уже известных устройств подобного рода применением двух емкостных конденсаторов, включенных в колебательные контуры, настроенные в резонанс с колебательным контуром лам нового генератора, Это устройство позволяет осуще ствлять автоматический контроль за толщиной светочувствительного слоя в процессе его нанесения.

На чертеже изображена схема устройства для автоматического контроля толщины нанесения светочувствительного слоя на фотопленку.

Устройспво состоит из двух пар

;конденсаторных пластин, из которых первая пара пластин производит измерение толщины подложки (до поливной кюветы), а вторая пара плаcTHH — измерение суммы толщин нанесенного слоя эмульсии и подложки.

Разность измеряемых толщин и есть собственная толщина эмульсионного слоя.

Разность эта получается автоматически при помощи двух колебательных контуров, направленных навстречу один ppyI.os и настроенных на колебательную частоту общего генератора. Отсчет производится по из мерительному прибору, включенному в цепь контуров.

Если обозначить через

Ср и С вЂ” соответствующие емкости конденсаторов, (H fg — соответствующие диэлектрические проницаемости материалов, 62 — иско мую толщину эмульсионнОГО слоя, то: № 79238

972

Измерительный прибор состоит из лампового генератора и двух колебательных контуров с пластинами конденсаторов 1 и 2, настроенных в резонанс.

Между обкладками конденсаторов колебательных коктуров пр отягивается пленка, являющаяся диэлект риком.

При нанесении эм ульсионного слоя, проходящего через конденсатор 2, нарушается резонанс между контурами. Нарушение резонанса показывает ламповый вольтметр З,,подключенный к цепи колебательных контуров. Таким образом, устанавливается зависимость между токами колебательных контуров и толщиной эмульсионного слоя. Отградуирова в прибор в необходимых единицах измврения, в данном случае в мииронах, можно получить отсчеты, соответствующие размерности.

Отв. редактор М. М. Акинин

Предмет изобретения

Устройство для автоматического контроля толщины нанесения светочувствительного слоя .на фотопленку, снабженное емкостными конденсаторам и, о тл и ч а ю щеес я тем, что, с целью осуществления контроля в процесе и эготовления фотопленки, в нем применены два плоских воздушных конденсатора, между пластинами которых пропускается контролируемая пленка, установленные до и после поливной кюветы с эмульсией и являющиеся емкостью двух противоположно настроенных колебательных контуров, работающих в резонанс с колебательным контуром лампового генератора, нарушение резонанса которого, в результате изменения емкости одного из конденсаторов, вызывает отклонение стрелки лампового вольтметра, включенного в цепь контура.

Редактор А. И. Киселев

Устройство для автоматического контроля толщины нанесения светочувствительного слоя на фотопленку Устройство для автоматического контроля толщины нанесения светочувствительного слоя на фотопленку 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе

Изобретение относится к автоматическому управлению и может быть использовано при изготовлении проводов и кабелей с пластмассовой изоляцией (оболочкой)
Наверх