Способ измерения радиуса кривизны цилиндрической поверхности
е ь
И 3 О Б Р Е Т Е Н И Я
Союз Советских
Социалистических
Республик
Ж
1 ,l — (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено )31176 (21) 2418219/25-28, с присоединением заявки М— (23) Приоритет— (51)м. КЛ.2
G -01 В 11/08
G 01 В 11/24
Государственный комитет
СССР оо делам изобретений и открытий
Опубликовано 250430. Бюллетень N915 (53) УД 531.793 (088. 8) Дата опубликования описания 2504.80 (72) Авторы изобретения
Н. М. Балясников и Л. Г. Балясникова (71) Заявитель (5 4 ) СПОСОБ ИЗМЕ PE НИЯ РАДИУСА КРИВ ИЗ НЫ
ЦИЛИНДРИЧЕСКОИ ПОВЕРХНОСТИ
st 3/2 а с1Д 2В
Изобретение относится к способам измерения радиусов кривизны поверхностей, в частности цилиндрических поверхностей. 5
Известен способ исследования кривизны поверхности, заключающийся в том, что используют экран с линейным растром, освещают его и проецируют линейный растр на иссле-. дуемую поверхность (1).
Недостатком данного способа являются невысокая точность и значительная трудоемкость измерений.
Известен также способ определения радиуса кривизны поверхности, заключающийся в том, что перед полированной контролируемой поверхностью на некотором расстоянии от нее устанавливают непрозрачный объект с известными параметрами, освещают его световым пучком, проецируют объект на контролируемую поверхность и по величине его изображения, полученного от контролируемой поверхности, судят о ее радиусе кривизны (2), Недостатком этого способа является длительность процесса измерения.
Для повышения экспрессности в известном способе измерения радиуса кривизны цилиндрической поверхности путем освещения ее с последующей регистрацией отраженных лучей на исследуемой поверхности параллельно ее образующим располагают щель, на пути отраженных лучей располагают экран и по величине изображенной на экране освещенной эоны поверхности определяют ее кривизну с использованием соотношения: где р- ширина изображенной на экране освещенной зоны поверхности
L — - ширина щели;
S — расстояние от плоскости щели до экрана;
R — радиус кривизны цилиндрической поверхности
Изобретение поясняется чертежом, на котором дана схема устройства для измерения радиуса кривизны поверхности по предлагаемому способу.
729439
Формула изобретения
Составитель О.Шилкин
Редактор Т. Шагов а Техред О.Андрейко Корректор О. Ковинская
Заказ 1248/35 Тираж 801 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д."./5
Филиал ППП Патент, г.ужгород, ул.Проектная,4
Щель 1 с фиксированным расстоянием Ь между кромками ножей устанавливают на фиксированном расстоянии S от экрана 2. На экране нанесена шкала, рассчитанная по приведенной выше формуле.
К ножам щели упруго поджимают исследуемой поверхностью деталь 3 с возможностью вращения вокруг оси, перпендикулярной к оси цилиндра, вследствие чего происходит установка образующих цилиндра параллельно ножам щели. Освещают ограниченный щелью участок поверхности коллими-. рованным пучком света и по ширине освещенной зоны на экране по шкале определяют радиус кривизны цилиндрической поверхности. Таким образом, наличие минимального числа несложных операций позволяет производить экс-прессное измерение радиусов кривизны цилиндрических поверхностей.
Способ измерения радиуса кривизны цилиндрической поверхности путем освещения+ее с последующей регистрацией отраженных лучей, о т л и ч а .ющи йс я тем, что, с целью пов выше ния экспресс ности, на исследуемой поверхности параллельно ее образующим располагают щель, на пути отраженных лучей располагают экран и по величине изображенной на экране освещенной зоны поверхности определяRT ее кривизну с использовани м сооТношения: где — ширина изображенной на экране освещенной зоны
i5 поверхности;
Ь вЂ” ширина щели;
S — расстояние от плоскости щели до экрана;
R — радиус кривизны цилиндрической поверхности.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1. Авторское свидетельство СССР
9. 160887, кл. С 01 В 9/02, 06.04.63.
2. G . Richt "Mess †u Phufmetho
den der optischen Fertigang, Hand 1, AcademicverIag, BerIin, 1955, с.44-46.
