Установка для измерения длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок

 

Союз Советски н

Социалистических

Респубпии

< >744783 (6l ) Дополнительное к авт. свиЛ-ву (22) Заивлено 29.03.78 (21) 2595986/3 8-25 (51)M. Кл.

Н 01 У 31/60 с прнсоеднненнем заявки ¹

Гоеуднрстеенный комитет (23) П рноритет г" (53) УДК 621.385.

Опубликовано 30.06.80, Бюллетень № 24

Дата опубликования описаний 02,07.80 но аелам нэооретеннй н открытий.032(088.8) (72) Авторы изобретения

А. М. Кубилис и Ю. И. Полесский (7I ) заявители (54) УСТАНОВКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИТЕЛЬНОСТИ

ПЕРЕХОДНЫХ ПРОЦЕССОВ В СИСТЕМАХ УПРАВЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОННЫМИ ПУЧКАМИ

Э/1ЕКТРОННОЛУЧЕВЫХ ТРУБОК

Изобретение относится к .области измерительной техники и может быть ис польэовано при исследовании процессов отклонения и фокусировки электронных пучков, Известна установка для исследования систем фокусировки и отклонения электронных пучков электроннолучевых трубок (ЭЛТ), работа которых основана на иоследовании характеристик изображения, формируемого на экранах электроннолуче вых трубок, связанных с исследуемыми системами фокусировки и отклонения (1J.

Установка позволяет оценить качество фокусировки электронного пучка ЭЛТ по разрешающей способности изображения, формируемого на экранах ЭЛТ, определяемой методом штрихового растра. Установка содержит ЭЛТ с исследуемой фокуси« руюшей и отклоняющей системами, маскирующий экран, установленный перед экра.ном ЭЛТ, объектив, установленный эа мао; кирующим экраном, теневую маску, установленную эа объективом, фотоумножитель, 2 установленный за теневой маской и связанный оптически через теневую масху и объектив с экраном ЭЛТ, схему питания фотоумножителя, генератор развертки, связанный с отклоняющей системой и осцил лограф, связанный с фотоумножителем.

Генератор развертки обеспечивает периодическое вычерчивание лучом ЭЛТ m резка прямой линии. Изображение перемещающегося светового пятна при помощи объектива проецируется на теневую маску.

Теневая маска модулирует световой поток, который затем попадает на фотоум-. ножитель. Электрический сигнал, формируемый на выходе фотоумножителя, обеспечивает формирование на экране осциллогра фа модулированных импульсов. Качество фокусировки оценивается по глубине мэ-: дуляции.

Ю

Устайовка имеет недостатки, заключаю шиеся, во-первых, в невозможности опре деления времени переходных процессов в исследуемых фокусирующих системах и, 44783 4

Установка содержит генератор 1 управляющих импульсов, регулируемые источники 2, 3, 4, 5 и 6 наттряжения, ключи 7, 8, 9, 10 и 11, усилители 12, 13, 14, l5 и 16, переключатели 17, 18, 19, 20 и 21, источник 22 тока статической фокусировки, регулируемый элемент 23 задержки, формирователь 24 импульсов под» света 24, шину 25 запирающего потенцйа10

7 в невозможности исследования цепей отклонения.

Известна установка для измерений длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок, содержащая электроннолучевую трубку, исследуемую фокусирутоше-отклоняющую систему, состоя щую из блоков отклонения и статической фокусировки, а также блока коррекции ио,кажений размеров и формы пятна, возникающих при отклонении элекфонного пучка, включающего блок динамической фокусировки, содержащая также источник электропитания блока статической фокусировки, связанный с блоком статической фокусировки, усилители, связанные с выводами блоха отклонения и блока коррекции искажений размеров формы пятна, фор. мирователь импульсов подсвета, связанный с электроннолучевой трубкой, и микроскоп, установленные перед экраном электронно лучевой трубки и генератор управляющих импульс.ов 21;

Не достатком установки является низкая точность измерений. Это вызвано необходимостью поиска нолем зрения микроскопа точки пересечения линий прямого и обратного хода луча, а также подсчета чис ла меток времени на отображаемой линии, часть из которых закрыта корпусом микроскопа, Кроме того, эта установка не позволяет выполнить измерения длительности переходных процессов в цепях динамичес кой фокусировки и коррекции астигматизма отклонения.

Бель. изобретения - повышение точности измерений и расширение функциональных возможностей.

Бель достигаетса тем, что установка содержит pel óëèpóeìûä- элемент задержки, установленный между выходом генератора управляющих импульсов и входом формирователя импульсов подсвета, шины отпирающего и запирающего потенциалов и регу лируемый источник напряжения, ключ и переключатель, установленные в исслеттуемьтх цепях, причем входные контакты каждого переключателя соединены с вьптодом генератора управляющщс импульсов и шинами запирающего и отпирающего потенциалов, а выходная клемма каждого переключателя соединепа с управляющим входом соот,.ветствующего ключа, другой вход которого соединен с регулируемым источником на .пряжения, а выходом - со входом соответ ствутощего усилители.= -=--:

На чертеже представлена структурнаа схема установки, ла, шину 26 отпирающего потенциала, мж» роскоп 27 с механизмом 28 перемещениа, электроннолучевую трубку 29, а также иоследуемую фокусирующе-отклоняющую систему, состоящую из блока 30 отклонения, блока 31 статической фокусировки, катуш- ки 32 динамической фокусировки, катушки 33 и 34 коррекции астигматизма оч клоненна.

Подготовка установки к измерениям производится следующим образом.

Переключателями 17 и 18 подсоединяют входы ключей 7-11 к шине 25 запирающего потенциала. Ключи 7-11 при этом закрываются и в блоке отклонения 30, катушках 32 динамической фокусировки и коррекции астигматизма отклонения 33 и 34 ток не протекает. Регулировкой иоточника 22 тока статической фокусировки фокусируют луч. Отпирание электроннолучевой трубки производится импульсами подсвета, формируемыми формирователем

24, синхронизированным генератором 1 импульсов напряжения прямоугольной формы, Затем производят регулировку уста новки в статическом режиме. Для этого переключателямтт 17-21 производят под»ключение входов ключей 7-11 к шине 26 отпирающего потенциала. Ключи открыва4 ются и входы усилителей 12-16 подклточаются к выходам регулируемых источников 2-6 напряжения. Ток на выходе усилителей определяется уровнем напряжения на их входах. Регулировкой напряжении источников 12 и 13 устанавливают требуемое положение светового пятна на экране электроннолучевой трубки, а регулировкой напряжения источников 1 4-16 обеспечивают фокусировку луча и коррекцию астигматизма отклонения. Наблюдение за формой и положением пятна осуществляеться при помощи микроскопа 27, устанавливаемого в требуемое положение механизмом 28 перемещении. Дальнейшие опе»55 рации зависят от тогор какая цепь иссле дуетса, При определении длительности пе» реходттьтх процессов отклонении переключателями 17 и 18 подклточатот входы клю, чей 7 и 8 к выходу генератора 1. При

744783 6 намической фокусировки и коррекции аотигматиэма отклонения.

5 атом усилители 12 и 13 начинают формировать в катушках отклоняющей системы 30 импульсы. тока, амплитуда которых определена предварительной регулировкой источников 2 и 3 напряжения. Луч

5 при этом периодически отклоняется. Как указывалось выше, отпирание электронно,лучевой трубки осуществляется импульсами прямоугольной формы. Длительность этих импульсов устанавливается приблизи тельно в 50»100 раэ меньшей ожидаемой длительности переходного процесса. При отсутствии задержки положение светового пятна соответствует началу переходного процесса отклонения. При увеличении задержки пятно перемещается по направлению к положению, установленному регулировкой источников напряжения 2 и 3 в статичеоком режиме. Увеличивая задержку элемента 23, находят ее значение, при котором пятно с заданной точностью занимает в поле зрения микроскопа положение, установленное регулировкой в статическом режиме. Увеличивают задержку далее, проверяя, не увеличивается ли отклонение пятна от заданного положения. В том случае, если отклонение не увеличивается, уменьшают задержку до значения, при котором пятно еще остается в заданном положении и считывают показания указателя величины задержки, вносимой элементом 23 за.держки. Длительность переходного процесса отклонения принимают равной величине задержки.

При определении длительности перехо

35 ного процесса в цепи динамической фокусировки к генератору 1 подключают не ключи 7 и 8, а ключ 9 и; увеличивая за,, держку, добиваются того, что размеры nm на достигают значения, установленного регулировкой в статическом режиме и не увеличиваются при дальнейшем увеличении задержки. Аналогичным образом устанавливают длительность переходных процессов

45 в цепях коррекции астигматизма отялоне»ния. При комплексных проверках длитель- . ности переходных процессов производят подключение к генератору 1 ключей 9, 10 и 11 или всех ключей в зависимости от целей, преследуемых той или иной проверкой.

Применение изобретения позволяет со кратить время проверок в 3-5 раз при высокой точности измерений, Установка обео- печивает возможность измерения длительности переходных процессов не только в отклоняющей системе, но и в системах диФорм ула изобретения

Установка для измерения длительности переходных процессов в системах управле ния электронными пучками алектроннс лучевых трубок, содержащая элекч эонно лучевую трубку, исследуемую фокусирующе отклоняющую систему, состоящую иэ бло» ков отклонения и статической фокусиров ки, а также блока коррекции искажений размеров и формы пятна, возникающих при отклонении электронного пучка, включающего блок динамической фокусировки, содержащая также источник алектропитания блока статической фокусировки, связанный с блоком статической фокусировки, усилители, связанные с выводами блока отклонения и блока коррекции искажений реемеров формы пятна, формирователь импульсов подсвета, связанный с электроннолучевой трубкой, и микроскоп, установленные перед экраном электроннолучевой трубки и генератор управляющих импульсов, отличающаяся тем, что, с целью повышения точности измерения и расширения функциональных возможностей, содержит регулируемый алемент задержки, установленный между выходом генератора управляющих импульсов и входом формирователя импульсов подсвета, шины запирающего и отпирающего потенциалов, переключатель, регулируемый источник напряжения, и ключ, установленные в исследуемых цепях, причем входные клеммы каждого переключателя соединены с выходом генератора управляющих импульсов и шинами очпирающего и запирающего потенциалов, выходная клемма каждого переключателя соединена с управляющим входом соответствующего ключа, соединенного вторым входом с регулируемым источником напряжения, а выходом - co входом соответствую щего усилителя.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1 . Миллер В. А., Куракин Л. А. lips-» емные алектроннолучевые чрубки. М., Энергии, 1971, с. 121-123.

2. Горелов А. А., Овчинников Е. К.

О переходных процессах дискретного откло нення светового пятна высокоточного телевизионного датчика. Вопросы радиоэлектроннкн ° серня Гехника телевидения °

1970, вып. 3, с. 53-58 (прототип).

744783 т

Составитель Ю. Кутенин, Редактор И. Нанкина Техред О. Легеза Корректор М. Bat Ула

Закю 3827/19 Тираж 844 Подписное

0НИИПИ Государственного комитета СССР но делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж 35, Раушскан наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, г. Унгерна ул, Праентиаи, 4

Установка для измерения длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок Установка для измерения длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок Установка для измерения длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок Установка для измерения длительности переходных процессов в системах управления электронными пучками электроннолучевых трубок 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области информационной техники, а конкретно - к построению крупномасштабных экранов коллективного пользования из набора отдельных экранов меньшего размера

Изобретение относится к области электровакуумной техники и может быть применено при построении хронографических электронно-оптических преобразователей (ЭОП), используемых при исследовании оптических процессов пико- и фемтосекундного диапазона

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для исследования оптических процессов пико- и фемтосекундного диапазона
Наверх