Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ п1177760 3

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву № 661439 (22) Заявлено 28.12.78 (21) 2704677I18-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 07.11.80. Бюллетень № 41 (51) M. Кл з

G 0IR 31/26

Государственный комитет

СССР ло йелам изобретений и открытий (53) УДК 621.382.3 (088.8) (45) Дата опубликования описания 07.11.80 (72) Авторы изобретения

В. М. Дубовис и Ю. Н. Чернышев (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ

ЛИНЕЙНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЪ|Х МИКРОСХЕМ

Изобретение относится,к электронной технике и может быть использовано для контроля параметров усилителей в интегральном исполнении при их серийном производстве и испытаниях. 5

По .основному авт. св, № 661439 известно устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем, содержащее первый и второй операционные усилители, генератор испытующего сигнала, IQ два резисторных делителя напряжения, резистор, конденсатор, при этом один вход первого операционного усилителя подключен к генератору, другой через конденсатор — к входу испытуемой микросхемы,вы- 15 ход первого усилителя через резисторный делитель соединен с одним входом второго усилителя, другой вход которого через резистор — с генератором (1).

Это устройство единовременно формиру- 20 ет тестовые измерительные схемы для измерения коэффициента усиления и входного сопротивления и повышает быстродействие при контроле параметров микросхем.

Недостатком известного устройства является дополнительная погрешность измерения, определяемая температурой и временной нестабильностью величины выходного напряжения генератора испытующего сигнала, 30

Цель изобретения — повышение точности измерения коэффициента усиления линейных интегральных микросхем.

Поставленная цель достигается тем, что в устройство введены первый и второй детекторы эффективного напряжения, источник опорного напряжения, схема сравнения, усилитель постоянного тока, масштабный усилитель, первый и второй регулируемые усилители, при этом вход первого регулируемого усилителя через масштабный усилитель подключен к выходу генератора испытующего сигнала, а выход через последовательно соединенные первый детектор эффективного напряжения, схему сравнения и усилитель постоянного тока — к объединенным управляющим входам первого и второго регулируемых усилителей, вход второго регулируемого усилителя подключен к выходу испытуемой линейной интегральной микросхемы, а выход — к входу второго детектора эффективного напряжения, второй вход схемы сравнения соединен с выходом источника опорного напряжения.

На чертеже дана структурная схема предлагаемого устройства.

Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем содержит генератор испытующего сигнала 1, опера777603

U„„, = U,„(1 + R,/R„), где

65 ционные усилители 2 и 3, конденсатор 4, резисторы 5 — 9, первый регулируемый усилитель 10, первый детектор эффективного напряжения 11, второй регулируемый усилитель 12, масштабный усилитель 13, второй детектор эффективного напряжения 14, схему сравнения 15, источник опорного напряжения 16 и усилитель постоянного тока 17.

Вход первого регулируемого усилителя

10 через масштабный усилитель 13 подкгпочен к выходу генератора испытующего сигнала 1, а выход через первый детектор эффективного напряжения 11, схемы сравнения 15 и усилитель постоянного тока 17— к объединенным управляющим входам первого и второго регулируемых усилителей.

Вход второго регулируемого усилителя 12 подключен к выходу испытуемой линейной интегральной микросхемы, а выход — к входу второго детектора эффективного напряжения 14. Второй вход схемы сравнения

15 связан с выходом источника опорного напряжения 16.

Устройство работает следующим образом.

При измерении параметров микросхем, например коэффициента усиления и входного сопротивления, выходной сигнал с генератора испытующего сигнала 1 одновременно поступает на неинвертирующий вход операционного усилителя 2 и через резистор 8 на вход операционного усилителя 3.

На инвертирующем входе операционного усилителя 2 действует напряжение, равное по величине напряжению генератора испытующего сигнала. При этом через конденсатор 4 протекает переменный ток, определяемый величиной входного сопротивления испытуемой микросхемы, и на выходе операционного усилителя 2 действует сигнал, равный где Rs — величина сопротивления резистора 5;

R — величина выходного сопротивления микросхемы.

С выхода операционного усилителя 2выходной сигнал поступает на делитель на резисторах 6 и 7, подключенный к инвертирующему входу операционного усилителя

3. Последний осуществляет алгебраическое сложение сигналов, т. е. выходное напряжение равно

R5 3 R0 7вых, — 7вх 1 + ) вх х в

U» величина выходного напряжения генератора;

Rs Rs u Rs — сопротивление резисторов5,8и9.

Выбрав Rs=R0. получим: в живых, — 7вх х а так как UÄ n R,— const, то

U0x R, =- I(= — const, Отсюда

1 1 -7выхз — . вх 0

Rx х

1 х — -К у

10 вых, При этом на выходе микросхемы действует сигнал, равный

U„,„„„„= U„К„.,„., 15 где К, „,.— коэффициент усиления микросхемы, Сигнал с выхода испытуемой микросхемы поступает на вход второго регулируемого усилителя 12, усиливается и измеря20 ется вторым детектором эффективного напряжения 14. Коэффициент усиления регулируемого усилителя 12 равен

Выхм ВЫХЫ (Д

10 1

25 вход вх (и.мс. где К„. — коэффициент передачи второго детектора 14.

На вход первого регулируемого усилителя 10 поступает сигнал с генератора 1, величина которого масштабируется усилителем 13 и равна вхм —— 7вх . 7(м где К, — коэффициент передачи масштаб35 ного усилителя 13.

Выходной сигнал первого регулируемого усилителя 10 детектируется первым детектором эффективного напряжения 11, сравнивается схемой сравнения 15 с величиной

40 выходного напряжения источника опорного напряжения 16, полученный сигнал рассогласования усиливается усилителем постоянного тока 17 и подается на объединенные управляющие входы регулируемых

45 усилителей 10 и 12. Величина выходного напряжения первого регулируемого усилителя 10 равна величине выходного напряжения источника опорного напряжения 16.

Коэффициент усиления первого регулиру50 емого усилителя 10 равен; вых„ вв (д, 10— 3 вх (м где Кд, — коэффициент передачи первого детектора.

Так как регулируемые усилители 10 и 12 идентичны и согласованы по своим параметрам, то коэффициенты усиления усилителей 10 и 12 равны при подаче на их управляющие входы напряжения одинакового уровня: К10 — — К а

777603 м

Кв.Mc. — у х выхино zi1 оп д, так как

Формула изобретения

Составитель 3. Челнокова

Редактор М. Стрельникова Техред А. Камышникова

Корректор А. Галахова

Заказ 2418/15 Изд. № 558 Тираж 1033 Подписное

НПО «Поиск» Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография пр. Сапунова, 2 м

=К= сопз1, тО Ки.мс. = КУвых ° 5 оп "a2

Предлагаемое устройство повышает точность измерения коэффициента усиления линейных интегральных микросхем засчет исключения дополнительной погрешности, 10 определяемой временной и температурной нестабильностью величины выходного напряжения генератора синусоидальных сигналов и единовременно измеряют входное сопротивление микросхем. 15

Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем по авт. св. 20 № 661439, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения коэффициента усиления, в него введены первый и второй детекторы эффективного напряжения, источник опорного напряжения, схема сравнения, усилитель постоянного тока, масштабный усилитель, первый и второй регулируемые усилители, при этом вход первого регулируемого усилителя через масштабный усилитель подключен к выходу генератора испытующего сигнала, а выход через последовательно соединенные первый детектор эффективного напряжения, схему сравнения и усилитель постоянного тока — к объединенным управляющим входам первого и второго регулируемых усилителей, вход второго регулируемого усилителя подключен к выходу испытуемой линейной интегральной микросхемы, а выход — к входу второго детектора эффективного напряжения, второй вход схемы сравнения соединен с выходом источника опорного напряжения.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР № 661439, кл. G 018 31/26, 1977 (прототип) .

Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к классу устройств для контроля и диагностики параметров тиристорных преобразователей, управление которыми осуществляется на базе микропроцессорной техники

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Изобретение относится к области диагностирования силовой электротехники, в частности тиристорных преобразователей, и предназначено для поддержания надежности тиристорного преобразователя на требуемом уровне и своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода последних в специальный контрольный режим

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в качестве устройства диагностики при проведении пусконаладочных работ, эксплуатации и ремонте устройств автоматики и вычислительной техники на микросхемах эмиттерно-связанной логики (ЭСЛ)

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике для диагностики состояния объекта по результатам преобразования детерминированных и случайных сигналов и может быть использовано в телеметрических системах с эвакуируемыми накопителями информации ("черный ящик") и радиоканалом для передачи катастрофических отказов

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования разветвленных электронных цепей

Изобретение относится к способам электрического контроля и испытаний на постоянном и переменном токе с последующей отбраковкой подложек из диэлектрика или полупроводника, содержащих изделия электронной техники и электротехники (электрорадиоизделия), содержащих плоские и объемные проводящие области, содержащих активные и пассивные функциональные элементы в виде полупроводниковых приборов, многослойных трехмерных структур, пленок с различным типом электрической проводимости, жидкокристаллических панелей и др

Изобретение относится к автоматике и контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и поиска неисправностей в цифровых электронных устройствах

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности цифровых блоков и схем, поиска и локализации в них неисправностей как в процессе регулировки, так и в процессе эксплуатации
Наверх