Способ спектрального количественного анализа

 

Еласс 42i, Зов ссср

" фР

ОПИСАНИЕ ИЗО

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Л. С. Гсльдман

СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО КОЛИЧЕСТЕЕЧКОГО АНАЛИЗА

Заявлено 14 октября 1950 r. за ЛЪ 436613 в Гостехнику СССР

Опубликовано в < Бюллетене изобрстен IH. М 9 за 1951 г а С вЂ” концентрация анализируемого элемента, строят график, пользуясь которым по значеншо М для анализируемого элемента в пробе находят его концснтра1.пю.

Вследствие применения графиков. построенных с учетом влияния изменений условий возбуждсш|я (самоиндукции, силы тока, величины вспомогательного искрового промежутка и т. д.) в процессе съемки, а также различия в свойствах фотопластинок, описываемый способ дает возможность производить спектральный анализ по раз построенным графикам и нс прибегать к систематической проверке эталонирования. Кроме того, по графикам, построенным в одной лаборатории, можно производить анализ аналогичного сплава в другой лаборатории, так как различия в свойствах фотопластинки учитываются известными методамн. а различия в условиях возбуждения учитываются по описываемому методу.

Предмет изобретения

Способ спектрального количественного анализа, о т л и ч а ю щ и Йся тем, что, с целью исключения влияния изменений условия возбуждения в процессе анализа, в спектре в координатах S =y(>gC, т где. Ь S = л А .т

Описываемый способ спектрального количественного анализа отличается от известных тем, что в спектре сплава, подлежащего анализу, кроме линии анализируемого элемента, подбирают две максимально негомологичпые липин основного компонента сплава или контрэлектрода. В процессе съемки эталона умышленно варьируют условия возбуждения, добиваясь максимального разброса значений относительно интенсивности подобранных ранее двух негомологичных линий. Затем строят графики для нескольких значений эталона в координатах л 1 41 т т .т и т „т т

71 "1 72 где Я, S, S — значения почернения используемых линии;

Т,, Т, Тт — значения контрастности для тех же линий.

Избрав среднее значение от «ст

Лят 1 2 т т (1 т.

ыи f

3ЬТВЖТ,61 тихачк м 1

%ВИМЬТЕКЛ

БРЕТЕНИЯ

¹ 91871

8А

Ст. редактор A. А. Сержпиискаи

Л59643 от 7/VI 1956 г. Стандартгиз. Объем 0,125 и. л. Тираж 2000 Цена 25 иоп, Типография ивд-ва «Московская правда, Погаповский пер., 3. Зак. 2692 сплава, подлежащего анализу, кроме линий анализируемого элемента, подбирают две максимально негомологичные линии основного компонента сплава или контрэлектрода, в процессе съемки эталона умышленно варьируют условия возбуждения, добиваясь максимального разброса значения относительно интенсивности подобранных ранее двух негомологичных линий, затем строят графики для нескольких значения эталона в координатах т т т и 1 т т т А т1 т1 12 где SA, $т, и S, — значения почернения используемых линий; тА, 1 и 12 †значен контрастности для тех же линий, и, избрав

Z 51 Ь т т среднее значение 4 S

z т

Ч1 т2 в координатах ЬS=f (tgC), 8А 51 т где Ь5=, а С вЂ” кон1А т1 центрация анализируемого элемента, строят график, пользуясь которым, по значению Ь S для анализируемого элемента в пробе находят его концентрацию.