Устройство для измерения ширины линии ферромагнитного резонанса ферритовых пленок

 

Союз Советских

Социалистических

Реслу6лкк (i i)951 208 (6! ) Дополнительное к авт. санд-ву (22) Заявлено 11.12.80 (21) 3213228/18 21 с присоединением заявки М

G 01 Я 33/05

)Ьоударстйсииый комитет (23) Приоритет ао делам изооротаиий и открытий

Опубликовано 15.08.82. Бюллетень Рй 30 (53) УДК 621.317..44 (088.8) Дата опубликования описания 15.08.82

1 (72) Автори изобретения

И. Ю. Бакаленко и E. С, Краснов (7l) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШИРИНЫ ЛИНИИ

ФЕРРОМАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА ФЕРРИТОВЫХ ПЛЕНОК

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерению параметров ферритов, и предназначено для измерения ширины линии ферромагнитного резонанса (ЛЩ ферритовых пленок.

Известны устройства для измерения ЛН, в которых в качестве измерительного устройства используются полые электродинамические системы, а также микрополосковые и полосковые стрелки линии передачи (1) .

Однако gJISI TOI O, V106bI H3MCp Ti линии ферромагнитного резонанса, нужны ферритовые образцы чалых размеров (т.е. необходимо разрушить крупные образцы), для установки об разцов в измерительное устройство необходимо изготовление прецизионных устройств, низкая чувствительность устройства не позволяет про изводить измерения тонких ферромагнитных пленок (3 — 5 мкм) „невозможно проведение локальных измерений в различных областях по площади измеряемой ферритовой пленки, Пленочные образцы произвольных размеров позволяет исследовать установка с измерительным устройством в виде двух короткозамкнутых отрезков микрополосковых линий нанесенных на диэлектрические подложки.

Устройство состоит из двух закороченных микраполосковых линий, нанесенных на две диэлектрические подложки с металлизированными торцами; диэлектрические пластины установлены на немагнитном металлическом основании вплотную металлизированными торца10 ми таким образом, чтобы закороченные микрополосковые отрезки находились встык друг к другу. Связь измерительного устройства со схемой установки осуществляется посредством коаксиальнс-полосковых переходов. Образец в виде ферритовой пленки с помощью прижимного приспособления устанавливается на стыке двух закороченных микрополосковых линий. Подмагничивающее поле с помощью специальной магнитной системы прикладываgp ется перпендикулярно плоскости пленочного образца (2).

Однако сильная зависимость результатов измереций от величины угла приложения по)-" 3()) 1-,.()«!Е(,,;,,; "; " . и

31-пi с(11

i. Ü1X;l: "! ЕП(1 ?. I i 3Я"..) (i;«i . L;?С .Il;" !

>IX:,!r« i

, i, Л ? i? ОВ .«(ПЬ, =- я ;! j j), ) . !

"? «) ! О (° >

« (!.«(-,,,с- :

В> 1.? «

"CTj;O! ..,::. „". —;:.:. ---- .--.,-.-; .-- ..;-"::: -«Ь

:цсс! «. . (., i::=t

;.o.1осl«(orig> (!?(. t«1-с(?3 1

J3 j i 1» i(i, ? У(по (:

l (,)Я (! ? „, и! °,,,", >()i! ТВ: - >1.«

:(! о:. . :.r::- ; !, ". . "! ": ::., r:ля" гn(. яраз(иец1((3(:;,«с ц)у> «и,(-:(1? ((СЕО)(>пи,.lxl - r;,ä.- l .)и —;:". "- ." r 3.А 7

i«JL(J П(\ЛЯ C ПОМОЦ(ЫО ЦЕ>(Т31 О>в! "11 11 -lçxiñpat)òñ > минимальный козф t. "» > . ) ll !КЕ!(т ЗатуХЯПия (IO Гио!ццоСТИ СИГПЯ:Iа НЯ вьIхоце измерительного устрокства на резо? ) 3i i 13 о! ?? Я сто те, ПО изме рс ннои е(еличи1ее В ы:, rxi:(*:,)! уровень затухания, на котором не)oxl цк)(о прокзвод1(ть изме()ения. Путем изменс)п(я (я.".тоть! производится установка вычисленного уровня затухания на Jzsyx частолх (t(и т2. 11о результатам определения ,астот и .:; вьп(исляется )11 исследуемого образца по формуле

1 Д Y

l (ЕЕ в

П.)- ):о>ке)п(ое устройство дает возмоекность

i.o .. сить ro?п(зсть измерений й1 за счет ис:кл(зчепия ке п)явильной установки образца

Оп (кз те:п>по )знс!цнего ((од>лагничква(оп)его п(т

)я пе т;)сбуст громоздких )лагнитных систем харя";ò-:;ñ".pi!çóåIOJI простотой установки изме(? я лы. Образцов. (()») x(ó ë а к з о б р е, с н и я ( уст.)ойство,(ля измерения п(иркны линии (>рj?(> (ç31(ит((ого р >» а ферри овых пле.(О(с> содерж(ш(ее два короткозамкну)ых отрезка:.? (есро.!(о (осково(3 линии> нанесеннь(х на, (:-:.:, И(зле к; р>(ческкс подложки> установлеееные в пп)тпук: одна к другой своими металлизиро3(п(п(l«131 торцамк. o — л и .. а ео (ц е е (; л (-. ., г(о«с цслыс повьппения точе(ос» (ь е >(пп!> в (его дополнительно введе:.1)я Н«с гояпн(,!х:.(ягнита(а измерительное

i l cI i o L ы пот! нсно в виде двух стальных, :,".:) !Н> i !xа)кдоЙ кз ко "op3>(x прикрсплены .;,l!:О((мс!ц?ьп(и пол(асами два постояннь?х мага коро- козамкнутые отрезки микропс .li:;.;:!3ых (кп((й разме(цсны между двумя !о., . oil 1 l l 1>! м(! . .1: l!! и; ((ми е(я ОднОЙ и 3 стяльl::(>i X П:1:: " !iii. !

1сто 3ники информации, .j. И()я гыс;3 3!LJ(xiÿrr)30 I!pe зк слептизе .(1(:Оь., H (1)3 "i, 1(11р. М((к Рок ристалл1>1 !

x:., 1):.! (((, !3 р-;Lxt) 3;((,i<тронике >«1.> (Оветс )с- р,:(дко"", .197=., с. 269-272. .":-" -(е ни о .- .. 1!. и др. Измерение ц)ир(п(ы лп: rl*. рромягнктного резонанса фер.

»! (оп ы: пленок "Вопрос . специа.(ьной радис; . р.)ник,-: - -:р. t IIO вып. I, 1978.

95!О

Составитель Г. Змиевская

Texðåà Т. Маго ка Корректор A.дзятко

Редактор М. Ль1лын

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Заказ 5940/51 Тираж 717 Подтисное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и отхрьгий

1! 3035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4!5

Устройство для измерения ширины линии ферромагнитного резонанса ферритовых пленок Устройство для измерения ширины линии ферромагнитного резонанса ферритовых пленок Устройство для измерения ширины линии ферромагнитного резонанса ферритовых пленок 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к магнитометрам и может быть использовано для измерения напряженности магнитного поля и вектора магнитной индукции в науке, промышленности, медицине

Изобретение относится к электроизмерительной технике и, прежде всего, к магнитометрии

Изобретение относится к области электротехники, в частности к магниторезистивным считывающим элементам, и может быть использовано в компьютерной технике для считывания информации с магнитных носителей с высокой информационной плотностью, а также в сенсорной технике и автоматике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения напряженностей магнитных полей, например, в геофизических исследованиях

Изобретение относится к электроизмерительной технике

Изобретение относится к приборостроению и может быть использовано для определения полей рассеяния микроскопических объектов, в частности магнитных головок

Изобретение относится к способам измерений параметров тонких магнитных пленок (ТМП) и может найти применение при научных исследованиях и технологическом контроле образцов ТМП, например, гранатовых эпитаксиальных структур
Наверх