Для измерения толщины (G01B11/06)

G   Физика(403185)
G01   Измерение (счет G06M); испытание (233827)
G01B     Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров (измерение размеров человеческого тела, см. соответствующие подклассы, например A41H1, A43D1/02, A61B5/103; измерительные приспособления в сочетании с тростями для прогулок A45B3/08; сортировка по размеру B07; способы и устройства для измерений, специально предназначенные для металлопрокатных станов B21B38; установочные или чертежные инструменты, не предназначенные специально для измерения, B23B49,B23Q15-B23Q17, B43L; оборудование для измерения или калибровки, специально приспособленные для гранения или (22131)
G01B11/06                     Для измерения толщины(272)

Измерение утолщения на краях // 2788830
Группа изобретений относится к способу контроля однородности толщины покрытия на наматываемом металлическом рулоне с покрытием и станции намотки, контролирующей однородность толщины покрытия на металлическом рулоне с покрытием, Способ содержит этапы, на которых: при помощи станции намотки измеряют первое расстояние между первой опорной точкой и первой точкой на поверхности рулона, измеряют второе расстояние между второй опорной точкой и второй точкой на поверхности рулона, упомянутые первая и вторая точки на рулоне расположены в разных позициях по ширине рулона, вычисляют разность между упомянутым первым расстоянием и упомянутым вторым расстоянием, при этом упомянутую разность обозначают через , сохраняют упомянутую разность , устанавливают пороговое значение, сравнивают каждую сохраненную разность с упомянутым пороговым значением или сравнивают сумму разностей с упомянутым пороговым значением, выдают предупреждение, если упомянутая разность и/или упомянутая сумма разностей выше указанного порогового значения.

Способ определения толщины пленки // 2787807
Изобретение относится к области оптико-физических измерений, на основе эллипсометрии, к способам измерения и контроля толщины пленок. Способ определения толщины пленки включает для материала подложки, не содержащего исследуемую пленку, измерение или расчет значения ψ и Δ на основании известных данных по оптическим свойствам соответствующих материалов, рассчитывают по уравнению ρ=tgψeiΔ номограмму с использованием данных n и K для определяемого материала подложки и возможных численных наборов n, d, K для пленки загрязнения, фиксируют результаты измерения эллипсометрических параметров Δ и ψ соответствующего материала подложки в плоскости в виде кривой, сравнивают результаты эллипсометрических измерений с данными результатов расчетов значений ψ и Δ для соответствующего материала, не содержащего исследуемую пленку, и определяют в случае отличия полученных Δ и ψ от данных результатов расчетов значений ψ и Δ для соответствующего материала, не содержащего исследуемую пленку, толщину и показатель преломления пленки загрязнения посредством номограммы для соответствующего материала.

Способ и устройство управления производственной системой для плоских или нитевидных тел // 2774944
Изобретение относится к способу управления производственной системой для плоских или нитевидных тел, в котором тело перемещают в направлении транспортировки через область измерения, в которой тело облучают измерительным излучением в гигагерцовом или терагерцовом диапазоне частот, при этом измерительное излучение по меньшей мере частично проникает в тело, и детектируют измерительное излучение, отраженное телом, и определяют показатель преломления тела и/или поглощение измерительного излучения телом с помощью детектированного измерительного излучения.

Способ нанесения многослойного покрытия на оптические подложки и установка для осуществления способа // 2771511
Способ включает напыление, осуществляемое путем электронно-лучевого испарения материала покрытия в вакууме и осаждения паров на поверхности подложки при вращении подложек. Контроль процесса напыления путем измерения спектра пропускания покрытия производят комбинированной системой широкополосного оптического контроля, включающей в себя прямой оптический контроль, осуществляемый на каждом обороте подложки вокруг оси вакуумной камеры, и косвенный оптический контроль по образцу-свидетелю, расположенному на той же высоте, что и подложки, и вращающемуся вокруг оси вакуумной камеры.

Устройство и способ детектирования объекта // 2769145
Изобретение относится к устройству для детектирования объекта. Устройство для детектирования объекта, перемещаемого транспортирующим устройством через зону измерения устройства, содержащее указанное транспортирующее устройство, передающее устройство, выполненное с возможностью испускания измерительного излучения с частотой в гигагерцовом или терагерцовом диапазоне на внешний контур объекта, и приемное устройство, выполненное с возможностью приема измерительного излучения, отраженного от объекта при этом между передающим устройством и/или приемным устройством, с одной стороны, и зоной измерения, с другой стороны, расположена защитная решетка, прозрачная для измерительного излучения и проницаемая для газа, при этом в устройстве для детектирования объекта дополнительно предусмотрено продувочное устройство, выполненное с возможностью продувки защитной решетки продувочным газом.

Судовой измеритель толщины льда // 2767293
Изобретение относится к измерительным устройствам, а именно к способам и устройствам для дистанционного измерения размеров объектов, в том числе движущихся. Техническим результатом является повышение точности измерений толщины льда.

Способ и устройство для измерения трубчатого профиля // 2765292
Изобретение относится к способу и устройству для измерения трубчатого профиля, выходящего из экструзионного устройства. Способ осуществляют путем измерения трубчатого профиля (16, 116, 216), выходящего из экструзионного устройства (10, 110, 210).

Способ определения химического состава и толщины двухслойного гальванического покрытия // 2759632
Изобретение относится к области измерительной техники и касается способа определения толщины двухслойного покрытия Ni-Cu методом атомно-эмиссионной спектрометрии. Способ включает в себя изготовление градуировочных образцов, нанесение на них гальванического покрытия, растворение покрытия градуировочных образцов в смеси кислот, измерение содержания никеля и меди в полученном растворе и измерение толщины покрытия градуировочных образцов на атомно-эмиссионном спектрометре.

Системы и способы применения метрологии при абсорбционном формировании изображения для измерения толщины офтальмологических линз // 2746363
Способ измерения толщины офтальмологической линзы включает обеспечение формирующего оптического элемента, имеющего выпукло-изогнутую верхнюю поверхность; записывание эталонного значения интенсивности в указанный формирующий оптический элемент; формирование офтальмологической линзы, имеющей светопоглощающий компонент, на указанной выпукло-изогнутой верхней поверхности формирующего оптического элемента; пропускание света через указанную офтальмологическую линзу, после чего указанный светопоглощающий компонент поглощает часть указанного света при прохождении указанным светом через офтальмологическую линзу; применение света, прошедшего через офтальмологическую линзу, для создания цифрового изображения для указанной офтальмологической линзы, имеющего данные пиксельной интенсивности, которые соответствуют форме указанной офтальмологической линзы; применение информации об указанном свете перед его пропусканием через указанную офтальмологическую линзу, указанном светопоглощающем компоненте указанной офтальмологической линзы, эталонном значении интенсивности, записанном в указанном формирующем оптическом элементе, и указанных данных пиксельной интенсивности для вычисления профиля толщины указанной офтальмологической линзы.

Способ определения толщин оптически прозрачных и мутных сред // 2734576
Способ определения толщин оптически прозрачных или мутных сред заключается в расположении на уровне поверхности, на которой располагается слой оптически прозрачной и/или мутной среды, двух волоконно-оптических источников модулированного по амплитуде монохромного излучения на разных длинах волн инфракрасного спектра и двух приемников излучения с двумя входами волоконно-оптических линий разного диаметра.

Использование полноформатного матричного датчика изображения для измерения толщины пленки в реальном времени на оборудовании для изготовления пленки // 2717384
Изобретение относится к области измерительной техники и касается способа измерения толщины пленки с помощью спектрофотометра. Способ включает в себя испускание первого светового пучка на первую пленку, осажденную на поверхность подложки, и прием с использованием линейного датчика отраженного от первой пленки света, прошедшего через первую градиентную линзу и первый линейно перестраиваемый фильтр.

Способ дистанционного измерения толщины льда, способ дистанционного измерения прочности льда, устройство для дистанционного измерения толщины льда, устройство для дистанционного измерения прочности льда и дистанционный измерительный модуль // 2712969
Использование: для измерения толщины и прочности льда. Сущность изобретения заключается в том, что способ дистанционного измерения толщины льда заключается в том, что с помощью электромагнитного индукционного датчика осуществляют дистанционное измерение кажущейся толщины льда, включающей в себя толщину снежного покрова на поверхности льда; с помощью электромагнитных волн осуществляют дистанционное измерение толщины указанного снежного покрова; и на основе указанной кажущейся толщины льда и указанной толщины снежного покрова определяют истинную толщину льда.

Способ изготовления стальной продукции, включающий стадию получения характеристик слоя оксидов на движущейся стальной подложке // 2702818
Изобретение относится к области техники изготовления стальной продукции. Заявлен способ изготовления стальной продукции, включающий стадию получения характеристик слоя оксидов (22), присутствующего на движущейся стальной подложке (21).

Способ калибровки лазерного толщиномера // 2698495
Лазерный толщиномер дополнительно снабжен калибровочным приспособлением. Калибровочное приспособление жестко зафиксировано штифтованным винтовым соединением на корпусе толщиномера, обеспечивающим перпендикулярность пучков лазерного излучения к плоскости положения эталона, и содержит плату управления, линейный шаговый двигатель для перемещения эталона tetj, зафиксированного в зоне измерения на общем основании с фотоэлектрическими модулями.

Устройство для измерения толщины и диэлектрической проницаемости тонких пленок // 2694167
Изобретение относится к области оптического приборостроения и касается устройства для исследования толщины и диэлектрических свойств тонких пленок. Устройство включает в себя два лазера с различной длиной волны, делительный кубик, расширитель светового потока, линзу, два поляризатора, устройство нарушения полного внутреннего отражения, зеркало, фокусирующий объектив и светочувствительную матрицу.

Способ нанесения многослойного покрытия на оптические подложки и установка для осуществления способа // 2690232
Способ включает напыление путем электронно-лучевого испарения материала покрытия в вакууме и осаждения паров на поверхности подложки при вращении подложек механизмом с планетарной передачей. Осуществляют прямой оптический контроль путем измерения спектра пропускания покрытия на каждом обороте подложки и косвенный оптический контроль по образцу-свидетелю.

Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования и устройство для его реализации // 2672036
Изобретение относится к области электрохимической обработки материалов и касается способа определения толщины покрытия. Способ включает в себя измерение через 5-300 с после начала обработки интенсивности излучения детали в диапазоне длин волн шириной 3-50 нм, включающем характеристическую спектральную линию излучения материала детали, расположенную в области длин волн 200-900 нм.

Способ определения толщин слоев многослойного покрытия в процессе напыления оптических элементов // 2671927
Изобретение относится к установкам для напыления в вакууме многослойных покрытий различных оптических элементов и может быть использовано для контроля толщины покрытий в широком спектральном диапазоне в процессе их напыления.

Устройство для измерения геометрических параметров объектов // 2665809
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к технике измерений толщины пленок и покрытий. В устройстве реализован частотно-интерференционный способ измерения толщины, согласно которому наведение на поверхность покрытия и на границу раздела покрытия с основанием производится интерференцией в инфракрасной области спектра, а измерение толщины производится частотным способом.

Способ измерения толщины тонкопленочных покрытий на теплопроводных подложках // 2664685
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и касается способа измерения толщины тонкопленочного покрытия на теплопроводной подложке. Способ включает в себя нанесение на покрытие тонкого слоя прозрачной жидкости и локальный нагрев покрытия пучком лазера.

Способ калибровки камеры // 2662411
Группа изобретений относится к технологиям калибровки камеры посредством вычислительного устройства. Техническим результатом является расширение арсенала технических средств, направленных на калибровку камеры.

Способ определения оптических констант пленок химически активных металлов или их сплавов // 2659873
Изобретение относится к способам оптико-физических измерений. Способ определения оптических констант пленок химически активных металлов или их сплавов включает измерения эллипсометрических параметров и пленки соответствующего металла или его сплава, предварительно нанесенной путем вакуумного напыления на подложку с последующим расчетом значений констант.

Оптический способ измерения поля толщины прозрачной наледи на лопастях ветрогенератора // 2644625
Изобретение относится к области оптических измерений. Оптический способ измерения поля толщины прозрачной наледи на лопастях ветрогенератора заключается в освещении прозрачной наледи и фиксации видеокамерой изображения искаженного светового кольца, образованного на поверхности под наледью в результате полного внутреннего отражения света на границе раздела наледь-воздух.

Устройство для измерения толщины стенки емкости // 2642165
Изобретение относится к области оптоэлектронного контроля прозрачных или полупрозрачных смесей емкостей типа бутылок, банок с целью выявления дефектов распределения материала. Устройство для измерения толщины стенок емкостей содержит оптическую систему, служащую для улавливания и фокусирования на плоскости регистрации светового датчика световых пучков, отраженных от внешней и внутренней поверхностей стенки.

Способ измерения толщины тонкой пленки и картирования топографии ее поверхности с помощью интерферометра белого света // 2641639
Изобретение относится к области метрологии тонких пленок, а именно к способу измерения толщины тонких прозрачных пленок бесконтактным способом с помощью интерферометра. При реализации способа измерения толщины тонкой пленки и картирования топографии ее поверхности с помощью интерферометра белого света подвергают воздействию белого света подложку с нанесенной измеряемой пленкой и измеряют набор коррелограмм.
Способ определения толщины окисной плёнки алюминия в процессе анодного окисления холодного катода в тлеющем разряде кислорода // 2627945
Использование: для определения толщины окисной пленки алюминия в процессе анодного окисления холодного катода в тлеющем разряде кислорода. Сущность изобретения заключается в том, что способ определения средней толщины окисной пленки в процессе анодного окисления холодного катода в тлеющем разряде кислорода, включающий создание высокого вакуума в области контроля, отличается тем, что определяют площадь рабочей поверхности холодного катода определенной конфигурации, внутренний объем вакуумной области, занимаемой датчиком вакуума, расположенным вне области холодного катода и соединенным вакуумным каналом с вакуумной областью, содержащей технологический прибор с холодным катодом, внутренний объем вакуумной области, занимаемой технологическим прибором с холодным катодом, наполняют вакуумную систему и вакуумные области кислородом до постоянного давления, отсоединяют вакуумные области от вакуумной системы, фиксируют перед началом зажигания тлеющего разряда в технологическом приборе с холодным катодом величину установившегося давления в вакуумных областях, содержащих датчик вакуума и технологический прибор с холодным катодом, зажигают тлеющий разряд во внутреннем объеме вакуумной области, занимаемой технологическим прибором с холодным катодом, фиксируют датчиком вакуума в выбранный момент времени давление кислорода в процессе анодного окисления холодного катода в тлеющем разряде, рассчитывают среднюю толщину окисной пленки алюминия на рабочей поверхности холодного катода определенной конфигурации в выбранный момент времени анодного окисления в тлеющем разряде кислорода по определенной формуле.

Способ определения эффективной толщины диффузионного слоя // 2607297
Изобретение относится к способу определения эффективной толщины диффузионного слоя на металлическом изделии. Осуществляют воздействие плазменного разряда заданной продолжительности на поверхность диффузионного слоя изделия, при этом проводят измерение интенсивности спектральной линии для определения содержания диффундирующего элемента и анализ распределения значений содержания этого компонента в диффузионном слое.

Лазерная конфокальная сенсорная измерительная система // 2604564
Устройство для измерения осевой толщины офтальмологической линзы содержит крепежное устройство для крепления оправки формирующей оптики, измерительное устройство, содержащее датчик перемещения, процессор, связанный с измерительным устройством; устройство хранения данных цифровой среды, связанное с процессором и хранящее программный код, который выполняется по требованию и служит для запоминания цифровых данных, описывающих перечень метрологических данных, получения входных цифровых данных из измерительного устройства, содержащих справочное измерение M1 оправки формирующей оптики без линзы и измерение М2 линзы на той же формирующей оптике, и вычисления величины осевой толщины линзы посредством вычитания метрологических данных, полученных при измерениях M1 и М2.

Измерительная система с лазерным конфокальным датчиком // 2584070
Изобретение относится к способам для определения точной толщины сухих контактных линз. При реализации заявленного способа располагают формирующую оптическую оправку, которая имеет выпуклую поверхность, на пути лазерного луча.

Устройство бесконтактного широкополосного оптического контроля толщины пленок // 2581734
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля толщины прозрачных пленок, наносимых на подложки в вакууме. Устройство бесконтактного широкополосного оптического контроля толщины пленок включает корпус вакуумной камеры, подложкодержатель, источник излучения, а также рабочие и контрольные образцы.

Способ определения толщины металлических пленок // 2558645
Изобретение относится к измерительной технике. Способ контроля состава материала при формировании структуры заключается в том, что в процессе формирования слоя осуществляют измерение эллипсометрических параметров Δ и ψ.

Способ удаленного контроля формы поверхности и толщины покрытий, получаемых в процессе магнетронного вакуумного напыления, и устройство для его осуществления // 2549211
Изобретение относится к области прецизионных оптических средств контроля формы поверхности объектов в процессе их технологической обработки или функционирования. Восстановление абсолютного трехмерного профиля всей поверхности осуществляется по серии данных относительных измерений фаз интерферограмм.

Способ измерения толщины слоя посредством лазерной триангуляции // 2541440
Способ определения толщины слоя покрываемой лопатки турбины включает измерение посредством лазерной триангуляции лопатки турбины перед и во время или после нанесения покрытия. Толщину слоя рассчитывают из различных измерений лопатки турбины с учетом деформации лопатки турбины.

Способ оценки стойкости тонких защитных покрытий материалов при высокоэнергетическом воздействии на них // 2530784
Изобретение относится к способу оценки защитных свойств тонких покрытий от поверхностной деградации (разрушения, эрозии, распыления) защищаемых материалов при воздействии на них высокоэнергетических излучений, преимущественно в вакууме.

Способ измерения толщин нанометровых слоев многослойного покрытия, проводимого в процессе его напыления // 2527670
Изобретение относится к вакуумной технике, а именно к установкам для напыления многослойных покрытий нанометровой толщины, используемых, например, в качестве спектральных фильтров для оптических приборов в приборостроении, и может быть использовано для напыления покрытий со строго заданной толщиной и полосой пропускания оптического спектра.

Способ бесконтактного измерения плотности пористого материала с использованием измерения коэффициента преломления материала посредством оптической когерентной томографии // 2515189
Изобретение относится к области бесконтактного измерения плотности пористого материала с использованием измерения коэффициента преломления материала посредством оптической когерентной томографии. При помощи метода оптической когерентной томографии определяют оптический путь, соответствующий прохождению через объект, выполненный из пористого материала и который является сферическим и полым, светового луча, используемого для осуществления указанного метода, определяют толщину объекта, определяют коэффициент преломления пористого материала на основании оптического пути и толщины и определяют плотность пористого материала на основании определенного коэффициента преломления.

Оптический способ измерения мгновенного поля толщины прозрачной пленки // 2506537
Способ может быть использован для бесконтактных, непрерывных измерений толщин прозрачной пленки. Способ включает направленное воздействие лучей света на пленку, их полное внутреннее отражение на границе раздела сред и последующую обработку отраженного света.

Флуоресцентный способ отслеживания поверхностных добавок в бумагоделательном процессе // 2487339
Изобретение относится к способу отслеживания и возможного регулирования добавления одной или более поверхностных добавок в бумагоделательный процесс. .

Способ автоматического измерения износа контактного провода (проводов контактной сети) // 2486466
Изобретение относится к диагностике состояния контактной сети. .

Устройство для определения высоты слоя вещества // 2478191
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах управления технологическими процессами. .

Способ определения толщины однородного нанослоя в инфракрасном излучении // 2470257
Изобретение относится к оптическим методам контроля слоев наноразмерной толщины в инфракрасном (ИК) излучении и может быть использовано как в физико-химических исследованиях динамики роста переходного слоя на проводящей поверхности, так и в технологических процессах для контроля толщины и однородности тонкослойных покрытий металлизированных изделий и полупроводниковых подложек.

Способ определения толщины тонкой прозрачной пленки // 2463554
Изобретение относится к области оптико-физических измерений, основанных на эллипсометрии, и предназначено для определения толщины тонких прозрачных пленок. .

Оптоэлектронное устройство контроля толщины листового проката // 2458318
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а более конкретно к средствам для бесконтактного контроля листовых изделий, и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения (контроля) геометрических параметров горячего листового проката в условиях производства без остановки технологического процесса.

Способ определения толщины покрытия при плазменно-электролитическом оксидировании // 2435134
Изобретение относится к области электролитно-плазменной обработки, и, в частности, к плазменно-электролитическому оксидированию поверхностей и может быть использовано для определения толщины покрытия в процессе плазменно-электролитического оксидирования вентильных металлов, например алюминия, титана, магния, циркония, и сплавов на их основе.

Бесконтактный измеритель толщины листового стекла // 2429447
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины листового стекла. .

Способ измерения толщины и устройство для его осуществления // 2419068
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения по методу оптической триангуляции геометрических размеров, в частности толщины стенки труб в трубосварочном производстве.

Способ измерения толщины и показателя преломления тонких прозрачных покрытий на подложке // 2415378
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, во встраиваемой технологической аппаратуре для оперативного контроля оптических параметров пленок в процессе их нанесения.

Оптический способ измерения толщины прозрачных объектов // 2414680
Изобретение относится к бесконтактным оптическим методам измерения физических параметров прозрачных объектов, в том числе различных видов стеклотары, листового стекла и прозрачных пленок. .

Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок // 2411448
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для быстрого измерения толщины твердых и жидких диэлектрических и полупроводниковых пленок и покрытий в диапазоне 10 мкм - 1 мм. .
 
.
Наверх