Для измерения толщины (G01B11/06)
G01B Измерение длины, толщины или подобных линейных размеров; измерение углов; измерение площадей; измерение неровностей поверхностей или контуров (измерение размеров человеческого тела, см. соответствующие подклассы, например A41H1, A43D1/02, A61B5/103; измерительные приспособления в сочетании с тростями для прогулок A45B3/08; сортировка по размеру B07; способы и устройства для измерений, специально предназначенные для металлопрокатных станов B21B38; установочные или чертежные инструменты, не предназначенные специально для измерения, B23B49,B23Q15-B23Q17, B43L; оборудование для измерения или калибровки, специально приспособленные для гранения или
(22131) G01B11/06 Для измерения толщины(272)
Группа изобретений относится к способу контроля однородности толщины покрытия на наматываемом металлическом рулоне с покрытием и станции намотки, контролирующей однородность толщины покрытия на металлическом рулоне с покрытием, Способ содержит этапы, на которых: при помощи станции намотки измеряют первое расстояние между первой опорной точкой и первой точкой на поверхности рулона, измеряют второе расстояние между второй опорной точкой и второй точкой на поверхности рулона, упомянутые первая и вторая точки на рулоне расположены в разных позициях по ширине рулона, вычисляют разность между упомянутым первым расстоянием и упомянутым вторым расстоянием, при этом упомянутую разность обозначают через , сохраняют упомянутую разность , устанавливают пороговое значение, сравнивают каждую сохраненную разность с упомянутым пороговым значением или сравнивают сумму разностей с упомянутым пороговым значением, выдают предупреждение, если упомянутая разность и/или упомянутая сумма разностей выше указанного порогового значения.
Изобретение относится к области оптико-физических измерений, на основе эллипсометрии, к способам измерения и контроля толщины пленок. Способ определения толщины пленки включает для материала подложки, не содержащего исследуемую пленку, измерение или расчет значения ψ и Δ на основании известных данных по оптическим свойствам соответствующих материалов, рассчитывают по уравнению ρ=tgψeiΔ номограмму с использованием данных n и K для определяемого материала подложки и возможных численных наборов n, d, K для пленки загрязнения, фиксируют результаты измерения эллипсометрических параметров Δ и ψ соответствующего материала подложки в плоскости в виде кривой, сравнивают результаты эллипсометрических измерений с данными результатов расчетов значений ψ и Δ для соответствующего материала, не содержащего исследуемую пленку, и определяют в случае отличия полученных Δ и ψ от данных результатов расчетов значений ψ и Δ для соответствующего материала, не содержащего исследуемую пленку, толщину и показатель преломления пленки загрязнения посредством номограммы для соответствующего материала.
Изобретение относится к способу управления производственной системой для плоских или нитевидных тел, в котором тело перемещают в направлении транспортировки через область измерения, в которой тело облучают измерительным излучением в гигагерцовом или терагерцовом диапазоне частот, при этом измерительное излучение по меньшей мере частично проникает в тело, и детектируют измерительное излучение, отраженное телом, и определяют показатель преломления тела и/или поглощение измерительного излучения телом с помощью детектированного измерительного излучения.
Способ включает напыление, осуществляемое путем электронно-лучевого испарения материала покрытия в вакууме и осаждения паров на поверхности подложки при вращении подложек. Контроль процесса напыления путем измерения спектра пропускания покрытия производят комбинированной системой широкополосного оптического контроля, включающей в себя прямой оптический контроль, осуществляемый на каждом обороте подложки вокруг оси вакуумной камеры, и косвенный оптический контроль по образцу-свидетелю, расположенному на той же высоте, что и подложки, и вращающемуся вокруг оси вакуумной камеры.
Изобретение относится к устройству для детектирования объекта. Устройство для детектирования объекта, перемещаемого транспортирующим устройством через зону измерения устройства, содержащее указанное транспортирующее устройство, передающее устройство, выполненное с возможностью испускания измерительного излучения с частотой в гигагерцовом или терагерцовом диапазоне на внешний контур объекта, и приемное устройство, выполненное с возможностью приема измерительного излучения, отраженного от объекта при этом между передающим устройством и/или приемным устройством, с одной стороны, и зоной измерения, с другой стороны, расположена защитная решетка, прозрачная для измерительного излучения и проницаемая для газа, при этом в устройстве для детектирования объекта дополнительно предусмотрено продувочное устройство, выполненное с возможностью продувки защитной решетки продувочным газом.
Изобретение относится к измерительным устройствам, а именно к способам и устройствам для дистанционного измерения размеров объектов, в том числе движущихся. Техническим результатом является повышение точности измерений толщины льда.
Изобретение относится к способу и устройству для измерения трубчатого профиля, выходящего из экструзионного устройства. Способ осуществляют путем измерения трубчатого профиля (16, 116, 216), выходящего из экструзионного устройства (10, 110, 210).
Изобретение относится к области измерительной техники и касается способа определения толщины двухслойного покрытия Ni-Cu методом атомно-эмиссионной спектрометрии. Способ включает в себя изготовление градуировочных образцов, нанесение на них гальванического покрытия, растворение покрытия градуировочных образцов в смеси кислот, измерение содержания никеля и меди в полученном растворе и измерение толщины покрытия градуировочных образцов на атомно-эмиссионном спектрометре.
Способ измерения толщины офтальмологической линзы включает обеспечение формирующего оптического элемента, имеющего выпукло-изогнутую верхнюю поверхность; записывание эталонного значения интенсивности в указанный формирующий оптический элемент; формирование офтальмологической линзы, имеющей светопоглощающий компонент, на указанной выпукло-изогнутой верхней поверхности формирующего оптического элемента; пропускание света через указанную офтальмологическую линзу, после чего указанный светопоглощающий компонент поглощает часть указанного света при прохождении указанным светом через офтальмологическую линзу; применение света, прошедшего через офтальмологическую линзу, для создания цифрового изображения для указанной офтальмологической линзы, имеющего данные пиксельной интенсивности, которые соответствуют форме указанной офтальмологической линзы; применение информации об указанном свете перед его пропусканием через указанную офтальмологическую линзу, указанном светопоглощающем компоненте указанной офтальмологической линзы, эталонном значении интенсивности, записанном в указанном формирующем оптическом элементе, и указанных данных пиксельной интенсивности для вычисления профиля толщины указанной офтальмологической линзы.
Способ определения толщин оптически прозрачных или мутных сред заключается в расположении на уровне поверхности, на которой располагается слой оптически прозрачной и/или мутной среды, двух волоконно-оптических источников модулированного по амплитуде монохромного излучения на разных длинах волн инфракрасного спектра и двух приемников излучения с двумя входами волоконно-оптических линий разного диаметра.
Изобретение относится к области измерительной техники и касается способа измерения толщины пленки с помощью спектрофотометра. Способ включает в себя испускание первого светового пучка на первую пленку, осажденную на поверхность подложки, и прием с использованием линейного датчика отраженного от первой пленки света, прошедшего через первую градиентную линзу и первый линейно перестраиваемый фильтр.
Использование: для измерения толщины и прочности льда. Сущность изобретения заключается в том, что способ дистанционного измерения толщины льда заключается в том, что с помощью электромагнитного индукционного датчика осуществляют дистанционное измерение кажущейся толщины льда, включающей в себя толщину снежного покрова на поверхности льда; с помощью электромагнитных волн осуществляют дистанционное измерение толщины указанного снежного покрова; и на основе указанной кажущейся толщины льда и указанной толщины снежного покрова определяют истинную толщину льда.
Изобретение относится к области техники изготовления стальной продукции. Заявлен способ изготовления стальной продукции, включающий стадию получения характеристик слоя оксидов (22), присутствующего на движущейся стальной подложке (21).
Лазерный толщиномер дополнительно снабжен калибровочным приспособлением. Калибровочное приспособление жестко зафиксировано штифтованным винтовым соединением на корпусе толщиномера, обеспечивающим перпендикулярность пучков лазерного излучения к плоскости положения эталона, и содержит плату управления, линейный шаговый двигатель для перемещения эталона tetj, зафиксированного в зоне измерения на общем основании с фотоэлектрическими модулями.
Изобретение относится к области оптического приборостроения и касается устройства для исследования толщины и диэлектрических свойств тонких пленок. Устройство включает в себя два лазера с различной длиной волны, делительный кубик, расширитель светового потока, линзу, два поляризатора, устройство нарушения полного внутреннего отражения, зеркало, фокусирующий объектив и светочувствительную матрицу.
Способ включает напыление путем электронно-лучевого испарения материала покрытия в вакууме и осаждения паров на поверхности подложки при вращении подложек механизмом с планетарной передачей. Осуществляют прямой оптический контроль путем измерения спектра пропускания покрытия на каждом обороте подложки и косвенный оптический контроль по образцу-свидетелю.
Изобретение относится к области электрохимической обработки материалов и касается способа определения толщины покрытия. Способ включает в себя измерение через 5-300 с после начала обработки интенсивности излучения детали в диапазоне длин волн шириной 3-50 нм, включающем характеристическую спектральную линию излучения материала детали, расположенную в области длин волн 200-900 нм.
Изобретение относится к установкам для напыления в вакууме многослойных покрытий различных оптических элементов и может быть использовано для контроля толщины покрытий в широком спектральном диапазоне в процессе их напыления.
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к технике измерений толщины пленок и покрытий. В устройстве реализован частотно-интерференционный способ измерения толщины, согласно которому наведение на поверхность покрытия и на границу раздела покрытия с основанием производится интерференцией в инфракрасной области спектра, а измерение толщины производится частотным способом.
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и касается способа измерения толщины тонкопленочного покрытия на теплопроводной подложке. Способ включает в себя нанесение на покрытие тонкого слоя прозрачной жидкости и локальный нагрев покрытия пучком лазера.
Группа изобретений относится к технологиям калибровки камеры посредством вычислительного устройства. Техническим результатом является расширение арсенала технических средств, направленных на калибровку камеры.
Изобретение относится к способам оптико-физических измерений. Способ определения оптических констант пленок химически активных металлов или их сплавов включает измерения эллипсометрических параметров и пленки соответствующего металла или его сплава, предварительно нанесенной путем вакуумного напыления на подложку с последующим расчетом значений констант.
Изобретение относится к области оптических измерений. Оптический способ измерения поля толщины прозрачной наледи на лопастях ветрогенератора заключается в освещении прозрачной наледи и фиксации видеокамерой изображения искаженного светового кольца, образованного на поверхности под наледью в результате полного внутреннего отражения света на границе раздела наледь-воздух.
Изобретение относится к области оптоэлектронного контроля прозрачных или полупрозрачных смесей емкостей типа бутылок, банок с целью выявления дефектов распределения материала. Устройство для измерения толщины стенок емкостей содержит оптическую систему, служащую для улавливания и фокусирования на плоскости регистрации светового датчика световых пучков, отраженных от внешней и внутренней поверхностей стенки.
Изобретение относится к области метрологии тонких пленок, а именно к способу измерения толщины тонких прозрачных пленок бесконтактным способом с помощью интерферометра. При реализации способа измерения толщины тонкой пленки и картирования топографии ее поверхности с помощью интерферометра белого света подвергают воздействию белого света подложку с нанесенной измеряемой пленкой и измеряют набор коррелограмм.
Использование: для определения толщины окисной пленки алюминия в процессе анодного окисления холодного катода в тлеющем разряде кислорода. Сущность изобретения заключается в том, что способ определения средней толщины окисной пленки в процессе анодного окисления холодного катода в тлеющем разряде кислорода, включающий создание высокого вакуума в области контроля, отличается тем, что определяют площадь рабочей поверхности холодного катода определенной конфигурации, внутренний объем вакуумной области, занимаемой датчиком вакуума, расположенным вне области холодного катода и соединенным вакуумным каналом с вакуумной областью, содержащей технологический прибор с холодным катодом, внутренний объем вакуумной области, занимаемой технологическим прибором с холодным катодом, наполняют вакуумную систему и вакуумные области кислородом до постоянного давления, отсоединяют вакуумные области от вакуумной системы, фиксируют перед началом зажигания тлеющего разряда в технологическом приборе с холодным катодом величину установившегося давления в вакуумных областях, содержащих датчик вакуума и технологический прибор с холодным катодом, зажигают тлеющий разряд во внутреннем объеме вакуумной области, занимаемой технологическим прибором с холодным катодом, фиксируют датчиком вакуума в выбранный момент времени давление кислорода в процессе анодного окисления холодного катода в тлеющем разряде, рассчитывают среднюю толщину окисной пленки алюминия на рабочей поверхности холодного катода определенной конфигурации в выбранный момент времени анодного окисления в тлеющем разряде кислорода по определенной формуле.
Изобретение относится к способу определения эффективной толщины диффузионного слоя на металлическом изделии. Осуществляют воздействие плазменного разряда заданной продолжительности на поверхность диффузионного слоя изделия, при этом проводят измерение интенсивности спектральной линии для определения содержания диффундирующего элемента и анализ распределения значений содержания этого компонента в диффузионном слое.
Устройство для измерения осевой толщины офтальмологической линзы содержит крепежное устройство для крепления оправки формирующей оптики, измерительное устройство, содержащее датчик перемещения, процессор, связанный с измерительным устройством; устройство хранения данных цифровой среды, связанное с процессором и хранящее программный код, который выполняется по требованию и служит для запоминания цифровых данных, описывающих перечень метрологических данных, получения входных цифровых данных из измерительного устройства, содержащих справочное измерение M1 оправки формирующей оптики без линзы и измерение М2 линзы на той же формирующей оптике, и вычисления величины осевой толщины линзы посредством вычитания метрологических данных, полученных при измерениях M1 и М2.
Изобретение относится к способам для определения точной толщины сухих контактных линз. При реализации заявленного способа располагают формирующую оптическую оправку, которая имеет выпуклую поверхность, на пути лазерного луча.
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля толщины прозрачных пленок, наносимых на подложки в вакууме. Устройство бесконтактного широкополосного оптического контроля толщины пленок включает корпус вакуумной камеры, подложкодержатель, источник излучения, а также рабочие и контрольные образцы.
Изобретение относится к измерительной технике. Способ контроля состава материала при формировании структуры заключается в том, что в процессе формирования слоя осуществляют измерение эллипсометрических параметров Δ и ψ.
Изобретение относится к области прецизионных оптических средств контроля формы поверхности объектов в процессе их технологической обработки или функционирования. Восстановление абсолютного трехмерного профиля всей поверхности осуществляется по серии данных относительных измерений фаз интерферограмм.
Способ определения толщины слоя покрываемой лопатки турбины включает измерение посредством лазерной триангуляции лопатки турбины перед и во время или после нанесения покрытия. Толщину слоя рассчитывают из различных измерений лопатки турбины с учетом деформации лопатки турбины.
Изобретение относится к способу оценки защитных свойств тонких покрытий от поверхностной деградации (разрушения, эрозии, распыления) защищаемых материалов при воздействии на них высокоэнергетических излучений, преимущественно в вакууме.
Изобретение относится к вакуумной технике, а именно к установкам для напыления многослойных покрытий нанометровой толщины, используемых, например, в качестве спектральных фильтров для оптических приборов в приборостроении, и может быть использовано для напыления покрытий со строго заданной толщиной и полосой пропускания оптического спектра.
Изобретение относится к области бесконтактного измерения плотности пористого материала с использованием измерения коэффициента преломления материала посредством оптической когерентной томографии. При помощи метода оптической когерентной томографии определяют оптический путь, соответствующий прохождению через объект, выполненный из пористого материала и который является сферическим и полым, светового луча, используемого для осуществления указанного метода, определяют толщину объекта, определяют коэффициент преломления пористого материала на основании оптического пути и толщины и определяют плотность пористого материала на основании определенного коэффициента преломления.
Способ может быть использован для бесконтактных, непрерывных измерений толщин прозрачной пленки. Способ включает направленное воздействие лучей света на пленку, их полное внутреннее отражение на границе раздела сред и последующую обработку отраженного света.
Изобретение относится к способу отслеживания и возможного регулирования добавления одной или более поверхностных добавок в бумагоделательный процесс. .
Изобретение относится к диагностике состояния контактной сети. .
Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах управления технологическими процессами. .
Изобретение относится к оптическим методам контроля слоев наноразмерной толщины в инфракрасном (ИК) излучении и может быть использовано как в физико-химических исследованиях динамики роста переходного слоя на проводящей поверхности, так и в технологических процессах для контроля толщины и однородности тонкослойных покрытий металлизированных изделий и полупроводниковых подложек.
Изобретение относится к области оптико-физических измерений, основанных на эллипсометрии, и предназначено для определения толщины тонких прозрачных пленок. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а более конкретно к средствам для бесконтактного контроля листовых изделий, и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения (контроля) геометрических параметров горячего листового проката в условиях производства без остановки технологического процесса.
Изобретение относится к области электролитно-плазменной обработки, и, в частности, к плазменно-электролитическому оксидированию поверхностей и может быть использовано для определения толщины покрытия в процессе плазменно-электролитического оксидирования вентильных металлов, например алюминия, титана, магния, циркония, и сплавов на их основе.
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины листового стекла. .
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения по методу оптической триангуляции геометрических размеров, в частности толщины стенки труб в трубосварочном производстве.
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, во встраиваемой технологической аппаратуре для оперативного контроля оптических параметров пленок в процессе их нанесения.
Изобретение относится к бесконтактным оптическим методам измерения физических параметров прозрачных объектов, в том числе различных видов стеклотары, листового стекла и прозрачных пленок. .
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для быстрого измерения толщины твердых и жидких диэлектрических и полупроводниковых пленок и покрытий в диапазоне 10 мкм - 1 мм. .