Испытание логических операций, например с помощью логических анализаторов (G01R31/3177)
G01R31/3177 Испытание логических операций, например с помощью логических анализаторов(182)
Настоящее техническое решение относится к области вычислительной техники. Технический результат заключается в расширении функциональных возможностей тестирования за счет проверки заказных СБИС на рабочих частотах, а также сокращении времени разработки и проверки заказных СБИС.
Группа изобретений относится к программируемым логическим устройствам. Техническим результатом является уменьшение пространства кристалла, выделенного для адресации ячеек запоминающих устройств, улучшение тестирования.
Изобретение относится к анализаторам электронных схем. Устройство содержит интегральную схему, содержащую: схему логического анализатора, имеющую первый вход, принимающий множество сигналов, и первый выход для обеспечения выбранных выборок сигналов, поступающих на первый вход, и первый блок, имеющий первый вход, подключенный к схеме логического анализатора для приема одного или более сигналов, поступающих на его первый вход, и выход, подключенный к схеме логического анализатора для непосредственной подачи на него отдельного набора из одного или более сигналов, которые основаны на одном или более сигналах на первом входе первого блока, согласно заранее определенной функции, причем заранее определенная функция является конфигурируемой.
Изобретение относится к электротехнике, в частности к диагностированию устройств релейной защиты и противоаварийного управления в системах электроснабжения (РЗА). .
Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано при отладке логических блоков, микропроцессорных систем, ЭВМ и т.д. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения и указания места неисправного элемента в цифровых схемах. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в аппаратуре контроля при электротермотренировке цифровых блоков и при испытаниях их на ресурс. .
Изобретение относится к технической диагностике и может быть использовано при контроле интегральных логических схем и цифровых устройств, построенных на их основе. .
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля логических устройств. .
Изобретение относится к технике контроля микросхем. .
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля цифровых устройств, в частности для многоканальной параллельной визуальной индикации статических сигналов с возможностью выбора оператором для анализа любой группы каналов .
Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для автоматизированного контроля цифровых блоков, включающих в себя большие интегральные схемы. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при проверке логических микросхем. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле микросхем. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля контактирования логических блоков с установками тестового контроля. .
Изобретение относится к контрольно-испытательной технике и может быть использовано для переключения логических элементов при испытании их работоспособности. .
Изобретение относится к технике измерения статических параметров интегральных микросхем, в частности к измерению входных пороговых напряжений логических схем. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля КМОП-логических схем. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при регулировке устройств на интегральных схемах. .
Изобретение относится к автоматике и предназначено для контроля импульсных сигналов. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при настройке, техническом обслуживании и эксплуатации волоконно-оптических трактов приема и передачи информации. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в устройствах диагностики логических схем. .
Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для контроля параметров интегральных схем. .
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля логических блоков ;средств цифровой вычислительной техники . .
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля логических интегральных схем при наладке и ремонте управляющих вычислительных устройств . .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при настройке и ремонте логических электронных схем. .
Изобретение относится к .вычислительной технике и может быть использовано для контроля цифровых узлов, блоков и устройств. .
Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для построения устройств, обеспечивающих обнаружение факта неисправности и поиска места неисправности в электронных логических блоках .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и служит для расширения функциональных возможностей устройства. .
Изобретение относится к автоматическому контролю и позволяет повысить достоверность контроля. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и служит для расширения функциональных возможностей устройства. .
Изобретение относится к технике измерения статических параметров интегральных микросхем Цель изобретения - повышение быстродействия измерителя . .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. .
Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано при наладке, визуальном контроле и диагностике цифровых устройств. .
Изобретение относится к вычислительной технике. .