Способ оптического определения толщины пленок лакокрасочных покрытий с помощью двойного микроскопа

 

.Л,) i t 1 ) ()«)!) 1«ла! « i,,) 1 0„

Оl 1 ) ! C« i

ОПИСАНИЕ ИЗОБ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

3. К. Ланлра и К. И. Каск

СПОСОБ ОПТИЧЕСКОГО О cã

ПРЕДЕЛНИЯ ТОЛЩИНЫ ПЛЕНОК ЛАКОКРАСОЧНЫХ

ПОКРЫТИИ С ПОМОШЫО ДВОИНОГО МИКРОСКОПА а) . л . 2 . .. 1952 ) . )а <, 623)-)5!220 в XI))«t tt т< Ивтв<

Заяв,iно 2 (!И)враля 5 ) )а 3 . 2 ) .; «0<т. хи»ичсскОЙ ))р0«iы!)! 10))))Ости,l!tH изл(ерения толщины пл.нок

; ЕНОК ЛаКОкрасочны покрытий существует итого

il0 электромагнитным приооров. Общим Нрдостаткол . Ом МНО)ltX ИЗ OTlfX IП)ИООРОВ Я«ВЛЯСТ, что измеряющие инструмс)ггы прося то, что

)то ое авленис из«о.!Нт при из)горении некоторое д л и

На 1 (P)thy. Де)1)ормирующес ес, I(t вссгд;) сопри)кон)) с некоторой источност),!«Из»)— . и «сей!)снно если пленка мягкая.;i и;и;I! ) Ь t

))!Ции с«язаи т1)уд)(0)"(ями )! « .l— гп)гао (цими отс!Ода неточно!)тями 0. и, д; (! и »сита с«)1ц))п!Ос .!ОВс!гия и),(ы i il, ки и»омснтом каппа и,»всрк)и."л„«;! tpíê;,:: „, ) 1:„! ко;аления «сей т;лщи пл нки. C . СИС(!".)1!< ОС-! (О«(!Нн),)с и» электрическим (Войства.

lf заВисящик оТ состоянпя и;(схки и

01) (ды, м, ) гу Датl< Оиlи о ки, i)t)l i, !)i«;! p ука <1HHOlf за«и,)HX(ÎOThitt.

" б (1 "); -)r)(X EteloП СДлагаслпяй1 (посо)) (!И)пс) зп .

"Г<ТТКОВ,

; Ви;ит от состояния пленки. и

t)ttpp.IoHeE()te могкст оыть ир)i«Pip!fo г, л. точке повсркнс ти пленки.

ЗаКЛЛ)чаЕТСЯ В TO»i. ЧГ- .). ИСПО fhзу>! Л)«!О!1«О!! )П(кpop)iоп (истслп<1 al;ад ка, и нни!и!, « «)1ИС-1 1, < ст<ап<п)ли«ают ДВа его тубуса в вертикальной плоскости под углом !)(1" Дру) к Лругу и ИОД углом в 45 к горизонтальной повсркности II&HER.

11ри )!«))!0)ци о;цгого тубуса на место изме!

)(НИ Я (Et

»ал«) «рсл(сни )! l;i«OT точно(TI< lo 0.,« мнhP0iI

1)1 р с;, м с T и з 0 б р с т с н и )! ! ;!)).",)б < ити«! PH)t«t) OjtpBkс;(ения TÎlHIH и(я и;(p)), к лакокрасочиык покрытий с поМ)ЩЬЮ ТВ . ..К С,) ), ." )Ино 0 М1 .1(РОС1.:0 i) 1, !i Т Л il и а 10И(И !! С Я TCX(, 11 . i ;hi

Т P I. 1 ТО. < Ц! Л)ИО ПО ВЬПП С Н!(и т чп,;ти и ускорения оир! деления, H

i Ò0 ИЗ !PPP:(ИЯ H;iii !Т !) l! Pi!ПИН ) . 30X«k«)НУ)0 ло 1(t) (,!О;к! )! Н.iih. и П1 )

ОД toi <) И,,! т) оусо«»икроскоп<а наВолят (га ! сс;Iуч, «ета и»,() гл<О» -(!), а Ifp« ПОКО1«СС и(и lп рого, i;) с 1. ! ..., 0 туб.;! )п)(с«)Я!От расстояние !«< Д<< !

)а<ксннь!м 0Т «с))кнс1(:!0«с))кнОсти 1(лсн н, И ДРЛ H)! — СО ДНа Ц

Tt it!(«l!tOÉ ИЛСИК))

Способ оптического определения толщины пленок лакокрасочных покрытий с помощью двойного микроскопа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев
Наверх