Сравнительный микроскоп

Авторы патента:

Егудкин А.С.

G02B21/18 - с более чем одним путем светового луча, например для сравнения двух образцов

G01B11/30 - для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

N 102349

hsacc 42)), 14п

ССС1

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

А. С. Егудкин

СРАВНИТЕЛЬНЫЙ МИНРОСИОП

Заявлено 4 апреля 1951 г, за ¹ 05796/451467

В,нл сстных сравнительных микроскопахах для определения чистоты поверхности применяются наборы эталонных поверхностей. Применение отдельных эталонных поверхностей неудооно потому, что пх рабочие поверхности, подвергаясь механических и атмосферных воздействиям, с течением времени приходят в негодность, а

Нх установка в микроскоп отнимает много времени; кроме того, отдельные эталоны легко можно потерять.

Предметом изобретения является сравн ггельный микроскоп для определения качества оорабогзнных металлических

lI&BBpxH0cTcA с вмонтированным в его корпусе кольцом илн диском, составленных из секторообразных эталонных поверхностей. Такое раоположенпе вталонных поверхностей непосредственно в корпусе микроскопа позволяет защит1ггь эти поверхности от повреждений. а фиг. 1 представлена схема сравнительного микроскопа; на фиг. 2 диск с эталонными поверхностями.

Свет 0Т электрической лампочки (1) разделяется полуссребряной пластинкой (2) на два потока. Один световой поток,отражаясь от пластинки (2), падает на исследуемую поверхность, второй проходнт сквозь пластинку (2) и освещает эталонную поверхность.

Эталонная и исследуемая поверхности находятся в предметной плоскости микроскопа, состоящего из обьектпва (3) и огуляра (4); в этой же плоскости находятся диафрагмы (5), которые позволяют видеть обе поверхности, разделенные в середине поля зрения окуляра. Эгалоюныс поверхности выполнены в виде секгороооразных пластин, озрззуюн1пх кольцо илп диск, который мс.ггирозан в корпусе микроскопа. Изготовляюгся эталонные поверхности гальванопластическим путем с матрицы, которая таким же способом может быть изготовлена с наоора образцов этаJI0HHbIx поверхчостей, имеющих вид секторов и собранных в кольцо.

Предмет изобрстенмя

Сравнительный микроскоп для опрс1сления качества оорапотанных металлических поверхностей путем сравнения с набором эталонов, вводимых поочередно и поле зрения микроскопа совместно с контролируемой поверхностью, о т л и ч а ющ п и с я тем, что, с целью предохранения эталонов от повреждений, в корпусе микроскопа монтнровано кольцо (диск). составленное мз этих итало дов. № 102349

Фиг. 1

Фиг. 2

1 ! !

Похожие патенты:

Круговой компаратор // 62250

Способ определения качества обработки стеклянной шлифованной поверхности // 102321

Прибор для исследования и контроля чистоты поверхности древесины // 101037

Фотоэлектрическое устройство для контроля качества поверхности деталей // 100065

Интерференционная установка для проверки вогнутых параболических зеркал // 97595

Способ определения чистоты поверхности методом сравнения исследуемой поверхности с образцом // 97370

Способ измерения чистоты поверхности полированных стеклянных пластин // 91859

Способ определения прямолинейности поверхностей // 89430

Прибор для контроля качества обработки поверхностей // 88231

Способ контроля криволинейных поверхностей // 87675

Способ исследования поверхности тканей, войлока, фетра и других волокнистых материалов и прибор для осуществления способа // 81149

Устройство для определения качества поверхности // 2104480

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Способ исследования оптического диска оригинала и устройство для его осуществления // 2107893

Устройство для измерения шероховатости и волнистости поверхности при фиксированных значениях базовой длины // 2116616

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Устройство для измерения поверхностных характеристик // 2124701

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Способ и устройство для высокоточного бесконтактного измерения расстояний поверхностей // 2148790

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Способ контроля параметров наружной резьбы и устройство для его осуществления // 2151999

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Способ контроля параметров внутренней резьбы и устройство для его осуществления // 2152000

Способ детектирования положения линии сгиба на упаковочном полотне и устройство для его осуществления // 2153160

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Устройство для определения шероховатости поверхности // 2156437

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Устройство для контроля шероховатости поверхности изделия // 2156955

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия