Устройство для подключения полупроводниковых приборов в спутниках, преимущественно в установках для контроля по электрическим параметрам

 

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОДКЛЮЧЕНИЯ полупроводаиковых ПРИБОРОВ в СПУТНИКАХ , ПРЕИМУ1ЦЕСТВЕННО В УСТАНОВКАХ ДЛЯ КОНТРОЛЯ по ЭЛЕКТРИЧЕСКИМ ПАРАМЕТРАМ , соде ржащее механиэ1М поштучной подачи спутников, выполненный в виде установленной на основании с возможностью перемещения каретки, упор для фиксации спутников в гнездо .каретки и контактную колодку, о т 2 ли-чающееся тем, что, с целью повышения производительности в работе, оно снабжено механизмом для выгрузки спутников с фиксирующими элементами, рабочие поверхности которых размещены между кареткой и контактной колОдкой с возможностью . образования гнезда для спутника, а упор для фиксации спутников размещен на каретке, причем фиксирующие элементы , рабочие поверхности которых расположены со стороны контактной колодки, выполнены в виде подпружиненных заслонок, установленных на основании с возможностью возвратноПоступательного перемещения, а фикi сирующие элементы, рабочие поверхности которых расположены со стороны , каретки, выполнены в виде йодпружинённых собачек, установленных ни основании с возможностью вращения.

0682 А

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУЬЛИК (19) (И) y1) 4 H О! L 21/66

ПРИ ГННТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

1 (2l) 3241706/18-21 (22) 28 ° 01 ° 81 (46) 15 ° 09.89, Бюл. В 34 (72) В.Г,Махаев, В,И.Кононов .и В,С.Степанков (53) 621.316.3 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

У 805451, кл, Н Ol L 21/66, 1979, Патент США II 3677401, кл. В 07 С 5/344, 1972 °

I (54) (57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОДКЛВ)ЧЕНИЯ

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ В СПУТНИКАХ ПРЕИМУЩЕСТВЕННО В УСТАНОВКАХ

ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПО ЭЛЕКТРИЧЕСКИМ ПАРАМЕТРАМ, содержащее механизи поштучной подачи спутников, выполненный в .виде установленной на основании с, воэможностью перемещения каретки, упор для фиксации спутников в гнездо ,каретки и контактную колодку, о тИзобретение относится к оборудо-. ванию для контроля полупроводниковых приборов и может быть использовано для подключения полупроводниковых приборов в спутниках-носителях в установках для контроля или сортировки приборов по электрическим параметрам, Известно устройство для подключения полупроводниковых приборов в спутниках, содержащее механизм для поштучной подачи спутников, выполненные в виде двух связанных с приводныи механизмом кареток с пазами для прохода спутников, подпружиненные упоры для фиксации спутников в пазах

2 ли.чающее с я тем, что, с

1 целью повышения производительности, в работе, оно снабжено механизмом для выгрузки спутников с фиксирующими элементами, рабочие поверхности которых размещены между кареткой и . контактной колодкой с возможностью образования гнезда для спутника, а упор для фиксации спутников размещен на каретке, причем фиксирующие элементы, рабочие поверхности которых расположены со стороны контактной колодки, выполнены в виде подпружиненных заслонок, установленных на основании с возможностью возвратно: поступательного перемещения, а фиксирующие элементы, рабочие поверхности которых расположены со стороны, каретки, выполнены в виде подпружиненных собачек, установленных на основании с возможностью вращения, кареток, разделительные пластины, размещенные под каретками, и контактные колодки, Недостатком данного устройства является низкая производительность и надежность в работе вследствие тотого, что необходимо значительное время выстоя кареток в крайних положениях для обеспечения надежного перемещения спутников из писателя впазы нижней каретки н исключения заклинивания спутников в пазах кареток, Наиболее близким к предложенному, техническому решению является устройство для подключения полупроводниковых приборов в спутниках, содер- .

1080682 жащее механизм поштучной подачи спутников, выполненный в виде установленной на основании с возможностью возвратно-поступательного перемеще5 ния каретки, упор для фиксации спутников в гнезде каретки; наклонные направляющие для перемещения спутников в гнезде каретки и контактную колодку. 10

Однако недостатком данного устройства также является низкая производительность в связи с тем, что скорость перемещения каретки ограничивается тем, что возможно "заклинивание" спутников в гнезде каретки.

Цель изобретения — повьппение производительности.

Это достигается тем, что устройство для подключения полупроводниковых приборов в спутниках, преимущественно в установках для контроля по электрическим параметрам содержащее механизм поштучной подачи спутников, выполненный в виде установленной на основании с возможностью перемещения каретки, упор для фиксации спутников ъ гнезде каретки и контактную колодку снабжено механизмом выгрузки спутников с фиксирующими элемента- 0 ми, рабочие поверхности которых размещены между кареткой и контактной колодкой с возможностью образования гнезда для спутников, а упор для фиксации спутников размещен на каретке, причем фиксирующие элементы,ра35 бочие поверхности которых расположены со стороны контактной колодки, выполнены в виде подпружиненных заслонок установленных на основании с

Э

40 возможностью возвратно-поступательного перемещения, а фиксирующие элементы, рабочие поверхности которых расположены со стороны каретки,выполнены в виде подпружиненных собачек, ус 45 тановленных на основании с возможностью вращения.

На фиг ° 1 показан общий внд устройства; на фиг, 2 — разрез по А-А фиг.1

Устройство для подключения полупроводниковых приборов входит в состав автоматического сортировщика интегральных схем в спутниках, содержащего наклонно установленный пенал

1 с полупроводниковыми приборами, размещенными в спутниках 2 ° механизм подачи спутников, выполненный в виде пневмоцилиндра 3, шток которого предназначен для выталкивания спутников 2 в загрузочный лоток 4 °

Устройство для подключения. полупроводниковых приборов в спутниках содержит механизм поштучной подачи спутников, выполненный в виде установленной на основании 5 с возможностью возвратно-поступательного перемещения под загрузочным лотком 4 каретки 6. В каретке 6 выполнено гнездо для спутников, ограниченное выступами 7, в нижней части каретки размещен упор 8, предназначенный для фиксации спутников в гнезде каретки 6. На основании неподвижно установлена контактная колодка 9,соединенная с измерительным блоком, не показанным на чертеже. Устройство для подключения полупроводниковых приборов снабжено механизмом выгрузки спутников с фиксирующими элементами, рабочие поверхности которых размещены между кареткой 6 и контактной колодкой 9 с возможностью образования гнезда 10 для спутников, .

Фиксирующие элементы, рабочие поверхности 11 которых расположены со стороны контактной колодки 9, выполнены в виде подпружиненных пружинами

12 заслонок 13, установленных на основании на штоках 14 с возможностью возвратно-поступательного перемещения. Фиксирующие элементы, рабочие поверхности 15 которых расположены со стороны каретки 6, выполнены в виде подпружиненных собачек 16,установленных на основании 4 с.возможностью вращения на осях 17, Для возвратно-поступательного перемещения каретки 6 предназначен пневмоцилиндр 18 °

Автоматический сортировщик содержит также механизм 19 сортировки, для подачи спутников в механизм. 19 сортировки предназначен лоток 20,смещенный относительно загрузочного лотка 4 и установленный под гнездом 10 для спутников,.образованном рабочими поверхностями фиксирующих элементов механизма выгрузки спутников, Устройство работает следующим образом.

Из пенала штоком пневмоцилиндра 3 спутники 2 поштучно подаются .в загрузочный лоток 4, по которому поступают в гнездо каретки 6, со сто,роны контактной колодки 9 гнездо каретки ограничивается поверхностями

5 :l собачек 16. Спутник 2. фиксируется в гнезде каретки 6 упором 8, После того как спутник 2 войдет в гнездо каретки 6 и окажется на упоре 8, под действием пневмоцилиндра 18 каретка

6 перемещается по направлению к контактной колодке 9, при этом подпружиненная собачка 16 поворачивается и спутник 2 перемещается в гнездо 10 механизма выгрузки, упор 8 каретки исключает перемещение спутника в канал лотка 20, при дальнейшем перемещении каретки 6 подпружиненная заслонка 13 фиксирует спутник в гнезде каретки 6 и перемещается вместе с кареткой 6 к контактной колодке 9, в конце хода каретки 6 полупроводниковый прибор подключается контактной колодкой 9 к измерительному блоку, После окончания контроля электрических параметров под действием пневмоцилиндра 18 каретка перемещается в обратном направлении к загрузочно1

080682 . 6 му лотку 4, при этом спутник 2 с полупроводниковым прибором перемещается к рабочим поверхностям 15 собачек 16 заслонки 13 под действием пружин

12 возвращаются в исходное положение и спутник вновь оказывается в гнезде 10 механизма разгрузки; перемещение спутника 2 под загрузочный лоток

4 исключается собачками 16 и после возврата каретки б с упором 8 в исходное положение спутник 2 под действием собственного веса выходит из гнезда 10 механизма выгрузки и леремещается по лотку 20 в механизм сор5 тировки 19, а в гнездо каретки б подается следующий спутник с полупроводниковым прибором, I

20 Использование предложенного уст- . ройства позволяет повысить производительность контроля полупроводниковых приборов за счет повышения скорости подачи и подключения приборов, 1080682

Корректор; С, Шекмар,.

Редактор Л,Письман

Техред М.Дидык

Заказ 8031 Тираж б94 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

1 13035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Устройство для подключения полупроводниковых приборов в спутниках, преимущественно в установках для контроля по электрическим параметрам Устройство для подключения полупроводниковых приборов в спутниках, преимущественно в установках для контроля по электрическим параметрам Устройство для подключения полупроводниковых приборов в спутниках, преимущественно в установках для контроля по электрическим параметрам Устройство для подключения полупроводниковых приборов в спутниках, преимущественно в установках для контроля по электрическим параметрам 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение точности измерения параметров эпитаксиальных слоев на изотипных проводящих подложках и применение стандартных образцов, изготовленных по технологии, обеспечивающей существенно более высокий процент выхода годных и более высокую механическую прочность

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для выявления и анализа структурных дефектов (ростовых и технологических микродефектов, частиц второй фазы, дислокаций, дефектов упаковки и др.) в кристаллах кремния на различных этапах изготовления дискретных приборов и интегральных схем

Изобретение относится к области силовой полупроводниковой техники и может быть использовано при изготовлении тиристоров и диодов
Изобретение относится к неразрушающим способам контроля степени однородности строения слоев пористого кремния

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин
Наверх