Способ измерения глубины проникновения электронного излучения в вещество

 

Изобретение позволяет измерить глубину проникновения электронов в вещество для широкого класса материалов . Одновременно снижается трудоем- - кость. Плоскопараллельный образец облучают, с одной стороны, потоком электронов, изменяющимся по периодическому закону, а, с другой стороны, непрерывно фиксируют изменение температуры , вызванное разогревом образца электронным пучком, и определяют разность фаз периодических законов изменения потока электронов и температуры . Используя найденную разность фаз и зная температуропроводность образца и его толщину, находят искомую величину. 2 ил. (Л ю 4 to

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (51) 4 G 01 В 15/02

ВСЮ ". "" 1

13 „,.

ВаВЛЫОтЕЫА

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ (57) Изобретение позволяет измерить глубину проникновения электронов в вещество для широкого класса материалов. Одновременно снижается трудоемкость. Плоскопараллельный образец облучают, с одной стороны, потоком электронов, изменяющимся по периодическому закону, а, с другой стороны, непрерывно фиксируют изменение температуры, вызванное разогревом образца электронным пучком, и определяют разность фаз периодических законов изменения потока электронов и температуры. Используя найденную разность фаз и зная температуропроводность образца и его толщину, находят искомую величину. 2 ил.

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3846429/24-25 (22) 22.01.85 (46) 07.07.86. Бюл. Ф 25 (72) В.Е.Зиновьев, А.Д.Ивлиев, С.А.Ильиных, А.И.Туранов, M.Х.Хафизов и В.A.Ïåïåëÿåâ (53) 531.717.521(088.8) (56) Заявка Франции У 2268966, кл. 6 01 В 15/02, 1976.

Пелецкий В,Э, Исследование теплофизических свойств веществ в условиях электронного нагрева. M.: Наука, 1983, с. 29-30. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ГЛУБИНЫ ПРОНИКНОВЕНИЯ ЭЛЕКТРОННОГО ИЗЛУЧЕНИЯ В ВЕШЕСТВО.SU„„1242712 А1

124271?

20

Изобретение относится к способам измерения толщины с помощью волновых излучений и предназначено для определения параметров воздействия электронного излучения с конструкциоиными материалами, защитными покрытиями и т.д.

Цель изобретения — расширение класса исследуемых материалов и снижение трудоемкости.

На фиг. 1 представлена схема осуществления способа, на фиг. 2 — измеряемый образец.

Позициями обозначены (фиг. 1): электронно-лучевая трубка 1, модуля- 15 тор 2, образец 3, датчик 4 температуры, измеритель 5 фазы запаздывания.

Поток электронов от электронно-лучевой трубки 1 через модулятор 2 достигает поверхности образца 3 и поглощается им в некотором слое. В процессе поглощения кинетическая энергия электронов переходит в тепловую и на некоторой эффективной глубине возникает тепловая волна. 25 . Значение этой глубины является измеряемой величиной.

При этом электронный поток имеет мощность 10-100 Вт и частотус) = 20500 рад/с. Периодически возникающая температурная волна при прохождении через образец 3 изменяет свою фазу.

Фазовьп сдвиг д f определяется путем измерения колебаний температуры и сопоставления фазы этих колебаний с

35 фазой колебаний падающего излучения.

Эффективная толщина образца (фиг ° 2) определяется по следующей формуле: где Q — температуропроводность образца, измеренная заранее.

Глубина проникновения электронного излучения в вещество д f. определяется вычитанием из толщины образца величины

Таким образом, изобретение обеспечивает измерение. глубины проникновения излучения в материалах любой толщины и снижение трудоемкости за счет проведения измерений без разрушения образца и уменьшения количества замеров.

Формула изобретения

Способ измерения глубины проникновения электронного излучения в вещество, включающий облучение одной стороны плоскопараллельного образца потоком электронов и измерение его толщины, отличающийся тем, что, с целью расширения класса исследуемых материалов и снижения трудоемкости, поток электронов изменяют по периодическому закону, непрерывно измеряют температуру образца, вызванную разогревом электронным пучсо c l opoHbl,, IIpoTHBoI1oJIoIKHoH облучаемой, определяют разность фаз периодических законов изменения потока электронов и температуры, и по

:заранее определенной температуропро зодности, толщине образца, а также указанной разности фаз находят глубину проникновения излучения.

1242712

Составитель И.Павленко

Техред H.Бонкало Корректор О.Луговая

Редактор Н.Тупица

Заказ 3688/36

Тираж 670 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4