Способ определения показателя преломления мутных и продранных жидкостей с помощью рефрактометра

 

— й.-131522

Класс 421т, 36

ЕС1. Сд ЮЗЦ„>1

1 Р, TEli T111!Ts. ц;1, р 1тдпи

БНЬм и,), . р

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная грг1ппи Л5 170

Т. A. Гвердцители

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ ПРЕЛОМЛЕНИЯ

МУТНЫХ И ПРОЗРАЧНЫХ )КИДКОСТЕЙ

Заявлено 26 марта 1960 г. за № 660307/26 в Комитет по делам изооретсний и открытий при Советс Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» ¹ 17 за 1960 г.

Известны способы определения показателя преломления мутных и прозрачных жидкостей при помощи рефрактомстра, служащего для измерения предельного угла полного внутреннего отражения, по величине которого находят значение показателя преломления. Недостаток подобных способов состоит в их относительно низкой чувствительности.

В описываемом способе указанный недостаток устранен тем, что он основан на определении резкой, вблизи угла полного внутреннего отражения, зависимости интенсивности многократно отразкснного света от коэффициента преломления границы раздела светопровод — жидкость. При этом высокая чувствительность и узкий диапазон измерения коэффициента преломления обеспечиваются в том случае, если измеряется интенсивность только тех лучей, которые падают на повсрхность раздела под углами, близкими к углу полного внутреннего отражения, в то время как возможность измерения коэффициента преломления мутных жидкостей ооеспсчивается тем, что используются только отраженные лучи.

Для пояснения описываемого способа на чертеже изображена конструкция рефрактометра, при помощи которого может быть произведено измерение показателя преломления.

Рефрактометр снабжен проточной кюветой 1, сооспо с которой укреплен цилиндрический светопровод 2 из оптического стекла или плексигласа, оканчива1ощийся коническим раструбом 8. Угол раскрытия конуса выбран так, что светопровод превращает в параллельны" пучок только те лучи которые падают на поверхность раздела под углами, близкими к углу внутреннего отражения. Свет от освстительнои лампы

4 падает на торцовую поверхность светопровода наклонно, проникает в светопровод и после трехкратного отражения OT границы стекло-жидкость выходит из светопровода 2. Лучи, идущие в светопровод под определенными углами и превращенные в параллельный пучок, падают на линзу 5 и фокусируются на светоприемнике б.

М 1315)) IIIH нзмснс IIIIIf коэффициента преломления жидя(ости, заполняющей кювету 1, меняется интенсивность света, отраженного от границы раздела з-за частичного преломления. Изменение интенсивности света фшссирустся измерительным прибором, включенным в цепь светоприсмншса (не показан на чертеже) . Для уменьшения температурной зависимости и других факторов макет рефрактометра выполнен по дифференциальной cxfffe. Во время измсрения одна кювета (не приведенная иа чертеже) заполняется эталонной жидкостью. Через другую протекает измеряемая жидкость. Светоприемники обеих половин включены навстречу друг другу. Разность фототоков является мерой отклонения коэффициента Iffреломлсния от эталона.

Прсдмет изобретения

Способ определения показателя прсломлсния мутных If прозрачных жидкостей с помощью рефрактометра, о т л и ч а ю щ If и с я тем, что, с целью повышения чувствительности в узком диапазоне измерений, используется резкая, вблизи угла полного внутреннего отражения, зависимость интенсивности многократно отраженного света от коэффициента преломления границы раздела жидкость — светопровод кото> рый примспен для выделения лучей, идущих под определенным углом. р

Редактор Н. С. Кутафина Tc ðñä А. А. Кудрявицкая Корректор r. С. Голубятникова

11о дп. к и е н, 2. X I -60

Зак. 9256

Формат бум. 70Х108 /1б Объем 0,17 п. л.

Тираж 650 Цена 25 коп.; с 1.1-61 г.— 3 коп.

ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и о"крытий при Совете Министров ХСР

Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6

Типография ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий ири Говете Министров ГГСР, Москва, Петровка, 14.

Способ определения показателя преломления мутных и продранных жидкостей с помощью рефрактометра Способ определения показателя преломления мутных и продранных жидкостей с помощью рефрактометра 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам и устройствам для определения показателя преломления окружающей среды, находящейся в жидкой или газовой фазе, по изменению характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ)

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам определения оптических параметров (показателя преломления, показателя поглощения и толщины) проводящих образцов по значениям характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) и может быть использовано в металлооптике, при производстве металлодиэлектрических волноведущих структур, металлических зеркал и подложек, а также в других областях науки и техники

Изобретение относится к аналитическому приборостроению, в частности к способам осуществления массообменных процессов с применением оптоволоконных химических датчиков

Изобретение относится к области технической физики, а точнее, к рефрактометрическим приборам, предназначенным для измерения показателя преломления и других связанных с ним параметров твердых и жидких сред

Изобретение относится к области передачи и получения информации посредством поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) терагерцового (ТГц) диапазона (частота от 0,1 до 10 ТГц) и может найти применение в спектроскопии поверхности твердого тела, в электронно-оптических устройствах передачи и обработки информации, в инфракрасной (ИК) технике

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к, микроэлектронным датчикам - химическим и биосенсорам, предназначенным для одновременных акустических на поверхностно-акустических волнах (ПАВ) и оптических исследований физико-химических и (или) медико-биологических свойств тонких порядка 0.1 мкм (100 нм) и менее нанопленок

Изобретение относится к спектрофотометрии и может быть использовано для исследования пространственного распределения комплексного показателя преломления по поверхности сильно поглощающих материалов

Изобретение относится к модуляционным способам спектральных измерений, в частности оптических постоянных, и предназначено для определения параметров поверхности и слоев тонких пленок, например, полупроводниковых гетероструктур
Наверх