Способ выведения спектральных линий на щель микрофотометра

 

Изобретение относится к эмиссионному спектральному анализу. Цель изобретения - повысить производительность анализа за счет повышения скорости выведения линий на щель микрофотометра (МФ). Спектр сравнения изготавливают в виде шаблона с характерными для исследуемого участка спектра реперными линиями.На щель МФ проецируют анйлитическую линию со спектра рабочего стандартного образца (РСО). Шаблон устанавливают в плоскости экрана МФ так, чтобы его , реперные линии совместились с линиями РСО. Заменяют спектр РСО.спектром исследуемых проб и совмещают его спектральные линии с реперными линиями шаблона. При этом на щель МФ будет выведена длина волны, соответствзтощая аналитической линии. Использование шаблона, установленного непосредственно у щели МФ, повьштает скорость выведения аналитической линии на щель МФ. 4 ил. i сл 00 00

СО103 СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК.SU 13188 1

Ai (51) 4 G 01 J 1/02 3/30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3935279/24-25 (22) 29. 07. 85 (46) 23,06.87. Бюл. ¹ 23 (71) Комплексная экспедиция Всесоюзного научно-исследовательского института минерального сырья (72) В.Н.Аполицкий и А.Я.Слесарев (53) 535,242(088.8) (56) Зайдель А.Н., Островская Г.В., Островский N.È. Техника и практика спектроскопии, М.: Наука, 1976, с. 310.

Спектральный анализ чистых ве- . ществ. Под ред. Х,И.Зильберштейна, Химия, 1971, с. 57-58. (54) СПОСОБ ВЫВЕДЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНЫХ

ЛИНИЙ НА ЩЕЛЬ МИКРОФОТОМЕТРА (57) Изобретение относится к эмиссионному спектральному анализу. Цель изобретения — повысить производительность анализа за счет повышения скорости выведения линий на щель микрофотометра (МФ). Спектр сравнения изготавливают в виде шаблона с характерными для исследуемого участка спектра реперными линиями.На щель МФ проецируют аналитическую линию со спектра рабочего стандартного образца (РСО). Шаблон устанавливают в плоскости экрана МФ так, чтобы его . реперные линии совместились с линиями PCO. Заменяют спектр РСО. спектром исследуемых проб и совмещают его спектральные линии с реперными линиями шаблона. При этом на щель МФ будет выведена длина волны, соответствующая аналитической линии. Использование шаблона, установленного непосредственно у щели МФ, повышает скорость выведения аналитической линии на щель МФ. 4 ил.

1 131880

Изобретение относится к области эмиссионного спектрального анализа с фотографической регистрацией спектров.

Целью изобретения является повышение производительности за счет ускорения процесса выведения аналитической линии на щель микрофотометра, повышение точности и чувствительности (снижение нижнего предела определе- 10 ния элементов) эмиссионного спектрального анализа.

Способ выведения спектральных линий на щель микрофотометра заключается в том, что вначале изготавливают 15 шаблон, для создания которого необходимо спроектировать на экран микрофотометра исследуемый участок спектра рабочего стандартного образца или пробы, положить на экран плот- 20 ную бумагу (шаблон) и отметить положение реперных линий. Аналитическая спектральная линия определяемого элемента должна находиться в центре шаблона и отмечена, например, стрелкои. После изготовления шаблона его располагают у щели в плоскости экра— на микрофотометра, а на предметном столе микрофотометра устанавливают фотопластинку со спектрами исследуе- 30 мых проб, затем проектируют на экране микрофотометра участок спектра рабочего стандартного образца и ориентируют шаблон совмещением его реперных линий со спектральными линиями рабочего стандартного образца.

Установленный таким образом шаблон должен оставаться в одном и том же положении в течение всего фотометрирования исследуемой линии. Затем 40 осуществляется фотометрирование спек.- тральных линий исследуемых проб путем выведения участка спектра, где расположена спектральная линия определяемого элемента, на щель микрофо- 45 тометра. Перемещая спектр с помощью микровинта микрофотометра, совмещают спектральные линии выведенного участка спектра исследуемой пробы с реперными линиями шаблона. При совмещении этих линий на щели микрофотометра окажется аналитическая спектральная линия определяемого элемента.

Показания гальванометра микрофотометра будут близки к максимальному почернению спектральной линии. Затем проводят микроперемещения и берут максимальный отсчет гальванометра.

Если при максимальном отсчете репер1 2 ные линии шаблона не совмещаются со спектральными линиями спектра исследуемой пробы, то на щель микрофотометра выведена не спектральная линия определяемого элемента.

На фиг. 1 схематично показано положение шаблона относительно щели микрофотометра; на фиг, 2 — спектр рабочего стандартного образца с выведенной на щель микрофотометра аналитической линией; на фиг. 3 — реперные линии шаблона, совмещенные с соответствующими линиями рабочего стандартного образца (аналитическая линия расположена напротив щели (как ее продолжение); на фиг, 4 — реперные лийии шаблона, совмещенные с соответствующими линиями спектра проб.

Пример . Для эмиссионного спектрального определения лантана (La) обычно используется аналитическая спектральная линия 3 = 324,51 нм.

Расположение наиболее характерных спектральных линий,нм: Fe 323,93;

324,42; 324,60; 324,74, 324,82; Ti

323,90; 324,20; 325,.19; Мп 324,38;

324,85; Zr 324,10; Ni 324,31; Си

324,75; La 324,24 и т.д.-реперных линий 1 в спектре вблизи аналитической линии La 324,51 нм, обычно присутствующих в спектрах проб и стандартных образцов, показано на шаблоне 2 (фиг. 1) ° Шаблон 2 располагают в плоскости экрана 3 у щели 4 микрофотометра. Затем на экран 3 проектируется участок спектра рабочего стандартного образца 5, в котором хорошо видна аналитическая линия La 324,51 нм (это делается обычно по максимальному показанию гальванометра), ее выводят на щель 4 микрофотометра,Вид картины в этом случае на экране 3 микрофотометра показан на фиг. 2.

После этого необходимо тщательно совместить, перемещая шаблон 2, наиболь-. шее число реперных линий 1 шаблона

2 со спектральными линиями спектра стандартного образца 5, при этом отмеченная на шаблоне 2 стрелкой аналитическая линия исследуемого элемента La 324 51 оказывается напротив щели 4 микрофотометра (фиг. 3). Выбранное таким образом положение шаб,лона 2 должно сохраняться во всех последующих измерениях почернений аналитической линии La 324,51 нм в спектрах исследуемых проб. Убрав перемещением стола микрофотометра спектр рабочего стандартного образ3 f3faa ца 5, на экран 3 проектируют спектр исследуемой пробы 6 и совмещают наиболее характерные спектральные линии спектра пробы 6 с реперными линиями

1 шаблона 2 (фиг. 4). При этом анали- 5 тическая линия La 324,51 нм (или место, где она должна быть) будет выведена на щель 4 микрофотометра. Значение почернения ее бурет по максимальному показанию гальванометра. !О

Если при нахождении максимума, спектральные линии спектра пробы не совпадают с реперными линиями f шаблона

2, то на щели 4 находится не искомая аналитическая линия La 324,5f нм. При15 этом делается заключение о том, что линия La 324,51 нм отсутствует в спектре пробы.

Формула изобретения20

Способ выведения спектральных линий на щель микрофотометра, заключающийся в установке на его предметном столе фотопластинки со спектрами

01 4 исследуемых проб и последующей ориентации спектральных линий спектра сравнения и спектра исследуемых проб относительно щели микрофотометра по максимальному показанию его гальванометра при выведении не щель аналитической спектральной линии, о т— л и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения скорости выведения спектральных линий, спектр сравнения изготавливают в виде шаблона с характерными для исследуемого участка спектра реперными линиями, проекти.руют на экран микрофотометра участок спектра рабочего стандартного образца и выводят аналитическую линию на щель микрофотометра, устанавливают шаблон в плоскости экрана параллельно спектру рабочего образца и совмещают реперные линии шаблона с лини- . ями рабочего образца, затем заменяют спектр рабочего стандартного образца спектром исследуемых проб и совмещают его спектральные линии с реперными линиями шаблона.

1318801

Составитель И.Никулин

Редактор Н.Егорова Техред В.Кадар Корр ект ор А. Ильин

Заказ 2498/32 Тираж 776 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие,r.ужгород,ул.Проектная,4