Способ определения качества магнитных дефектоскопических порошков

 

Изобретение относится к магнитопорошковой дефектоскопии и может быть использовано для контроля качества ферромагнитных порошков, близких по своим свойствам. Целью изобретения является повьшение точности и достоверности определения качества магнитных дефектоскопических порошков. Цель достигается тем, что в качестве изображения (меры чувствительности) испытуемого порошка используют нематическое (нитеобразное) изображение, которое формируют импульсным фотомагнитным методом дважды, идентичные изображения накладывают друг на друга так, чтобы совпали индикаторные следы равного шага, и смещают изображения одно относительно другого на малый угол (не более 5 ), замеряют шаг образовавшейся муаровой картины и сравнивают его с таким же шагом аналогично полученного изображения муаровой картины эталонного порошка. 4 ил. (О

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

<,9,SU(, (51) 4 С 01 N 27/84

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТ1ИЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Ч „

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Щ1- 7, э

"l (21) 4081077/25-28 (22) 02,07.86 (46) 30,12.87. Бюл. 11- 48 (71) Институт электросварки им, Е.О. Патона (72) А.С. Боровиков, С.И. Кудрявцев и П.Г. Жуковский (53) 620. 179. 14(088. 8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 879435, кл. G 01 N 27/84, 1981.

Авторское свидетельство СССР

N 1163247, кл. С 01 N 27/84, 1985. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА МАГНИТНЫХ ДЕФЕКТОСКОПИЧЕСКИХ ПОРОШКОВ (57) Изобретение относится к магнитопорошковой дефектоскопии и может быть использовано для контроля качества ферромагнитных порошков, близких по своим свойствам. Целью изобретения является повышение точности и достоверности определения качества магнитных дефектоскопических порошков. Цель достигается тем, что в качестве иэображения (меры чувствительности) испытуемого порошка используют нематическое (нитеобразное) изображение, которое формируют импульсным фотомагнитным методом дважды, идентичные изображения накладывают друг на друга так, чтобы совпали индикаторные следы равного шага, и смещают иэображения одно относительно другого на малый о угол (не более 5 ), замеряют шаг образовавшейся муаровой картины и срав- а нивают его с таким же шагом аналогично полученного изображения муаровой картины эталонного порошка. 4 ил.

47 2 модействующих) колебаний играет не шаг линий сеток с, а длина волны результирующего колебания — шаг муаровых полос S (см. фиг. 1).

При рассмотрении ячейки муаровой картины порошка (фиг. 4) можно определить эффективность данного критерия.

Длина 1 половины диагонали ячейки равна

1 = f +—

d где f = — длина следа по диагонаtgÛ

II ли 1, на которой сливаются валики порошка шириной d в общий валик шириной 2d.

Так как для индикаторных следов равного шага с и равного угла смещения оС половина диагонали ячейки 1 неизменна то справедливо равенство:

«14 и

+ = +

tge 2 tg< 2 где К и К вЂ” критерии оценки качест5 с1 ва используемого порошка по шагу муаровой .

35 картины и по ширине индикаторного следа соответственно.

Так, при о = 5 К = 0,25 К1, 40 т.е. К т К,1 в 25 раз при о = 5 .

При наложении двух систем прямых индикаторных следов одинакового шага с, повернутых на небольшой угол о одна относительно другой, распределение интенсивности света между

45 темными и светлыми муаровыми линиями зависит от соотношения ширины темных (индикаторных следов) и светлых (mar следов) линий сетки (см.фиг.1).

1 13630

Изобретение относится к нераэрушающему контролю материалов, а именно к магнитопорошковой дефектоскопии ферромагнитных деталей, и может быть использовано для проверки качества магнитных порошков на соответствие их заданным во всех областях машиностроения, Целью изобретения является повыше- 1р ние точности и достоверности определения за счет использования мауровых полос, позволяющих увеличивать изображение.

На фиг. 1 приведена схема способа определения качества магнитных порошков; на фиг. 2 — муаровая картина эталонного порошка; на фиг. 3 — муаровая картина испытуемого порошка; на фиг. 4 — ячейка муаровой картины 2О порошка.

Способ осуществляется следующим образом.

Распределение частиц испытуемого магнитного порошка в виде ряда визу- 25 ально наблюдаемых штрихов на прозрачной подложке формируют дважды. Полуили ченные изображения 1 и 2 накладывают друг на друга так, чтобы совпали индикаторные следы равного шага, и сме- 3р щают изображения одно относительно другого на малый угол а < 5 до получения муаровой картины (см. фиг. 1).

Аналогично с таким же шагом получают изображение муаровой картины 3 эталонного порошка. Замеряют шаг муаровой картины испытуемого S и эталонного S порошков, сравнение которых является критерием оценки качества порошка.

Анализируемым малым параметром (pa3MepoM) в магнитопорашковой дефектоскопии является ширина индикаторного следа d, измерение которого затруднительно. Муаровый же эффект дает возможность видеть и измерять параметры объекта во много раз меньшие, чем позволяет визуализирующее устройство.

S = 2/tg oL (dz — d,), = 2/с ос К

Оптическое явление, .называемое муаровым эффектом, возникает при механическом наложении сеток сравнительна крупного шага, частота которых гораздо меньше частоты световых волн.

Этот эффект иногда называют механической интерференцией по аналогии с обычной интерференцией света, Однако в отличие от интерференции световых

ыалн, раль длины накладываемых (вэаиС помощью порошка, принятого за эталон по совокупности дефектоскопических свойств, для каждого типа магнитных порошков устанавливают условные границы качества — границы изменения шага муаровых полос S, что значительно точнее непосредственного измерения ширины индикаторного следа

d. Так, при изменении ширины индикаторного следа на несколько микромет1ЗЬЗ ров шаг муаровых полос меняется на несколько миллиметров.

Примененйе предлагаемого способа позволит производить более точно оценку качества магнитных дефектоско5 пических порошков (при cc = 5, в

25 раз), где критерием качества является изменение шага муаровых полос; ввести метрологическое обеспе10 чение средств и методов оценки качества магнитных дефектоскопических порошков; стандартизировать свойства контролируемых магнитных порошков.

Использование более качественных

15 порошков при контроле качества изделий магнитопорошковым методом позволит значительно повысить степень выявляемости дефектов.

20 изобретения

Формула

Способ определения качества магнитных дефектоскопических порошков, 047 4 заключающийся в получении импульсным фотомагнитным способом изображения распределения частиц испытуемого магнитного порошка в виде .ряда визуально наблюдаемых штрихов и в визуальном сравнении полученного изображения с изображением распределения эталонного порошка, о т л и ч а ю— шийся тем, что, с целью повышения точности и достоверности определения, в качестве изображения распределения испытуемого порошка используют нитеобразное изображение, которое формируют импульсным фотомагнитным методом дважды, полученные изображения накладывают друг на друга так, чтобы совпали индикаторные следы равного шага, смещают изображения друг относительно друга на угол не более 5, замеряют шаг образовавшейся муаровой картины и сравнивают его с таким же шагом для эталонного порошка

1363047

Составитель А. Бодров

Редактор И. Рыбченко Техред М.Ходанич

Корректор С. Шекмар

Заказ 6396/32 Тираж 776

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., p,. 4/5

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород,ул. Проектная, 4