Устройство для измерения отклонения от прямолинейности

 

Изобретение относится к измерительной технике и используется при контроле прямолинейности. Целью изобр чеиия яиляется повышение точности и прои.ьодшчмьности измерения. Излучение от попадает отдельно на каждую из зопных :м;и-- тинок 2-4, распространяясь вдоль тршччл. Каждая из пластин фокусирует луч на соответствующий фотоприемпик 5-7. Ири отклонении от прямолинейности происходит отклонение центра соответствуюпю пластинки , что приводит к отклонению светового пятна на соответствующем фотонриемнике. Информация о всех величинах отклонении одновременно поступает на ЭВМ для дальнейшей обработки. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (Я) 4 G 01 В 11 30

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ 1-, К АBTOPGHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ й4;..;;„;.-" . (2! ) 3996158/24-28 (22) 27.12.85 (46) 23.06.88. Бюл. ¹ 23 (71) Научно-исследовательский институт прикладной геодезии (72) В. И. Юрлов и В. И. Шаяхметов (53) 531.715.27 (088.8) (56) !i

ОТКЛОНЕНИЯ ОТ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ (57) Изобретение относится к измеритель)юй технике и используется при контроле

„„SU„„1404816 A 1 прямолинейности. Целью изобр, i< п)я я»ляется повышение точности и Ilp<)li.< однг<, ),ности измерения. Излучение от л,):«. !);) 1 il<)падает отдельно Hà каждую из зопных тинок 2 — 4, распространяясь вдоль гр<п ы.

Каждая из пластин фокусирует луч i<

THHKH, чTO IlpHBодит )< GTK. )он<, HHIO cв<. 1<))3<)I <) пятна на соответствук) щем фотоприем нике.

Информация о всех величинах отклонен)ий одновременно поступает на ЭВМ для дальнейшей обработки. 1 ил.

14048

Изобретение относится к измерительной технике и используется при контроле прямолинейности.

Целью изобретения является повышение точности и производительности измерения.

На чертеже представлена принципиальная схема предлагаемого устройства.

Устройство содержит последовательно расположенные лазер 1, фокусирующие элементы, устанавливаемые в контролируемых точках и выполненные в виде зонных плас- 10 тинок 2 — 4, со смещенными в плоскости, перпендикулярной оптической оси, оптическими центрами, и фоторегистратор, выполненный из пози ционно-чувствительных фотоприемников 5 — 7 по числу фокусирующих элементов, жестко закрепленных на общем основа15 нии (не показано).

Устройство работает следующим образом.

Излучение от лазера 1 попадает отдельно 20 на каждую из зонных пластинок 2 — 4, распространяясь вдоль контролируемой трассы.

Каждая из указанных пластин фокусирует луч в плоскости регистрации на соответствующий позиционно-чувствительный фотоприемник 5 — 7. При отклонении какой-лиl6 бо точки от прямой на некоторую величину на ту же величину и в том же направлении отклоняется оптический центр соответствующей зонной пластинки. Это приводит к пропорциональному отклонению светового пятна, сфокусированного на соответствующем позиционно-чувствительном фотоприемнике. Информация об отклонении от заданной прямой с каждого из позиционно-чувствительных фотоприемников 5 — 7 одновременно поступает на ЭВМ (не показана) для дальнейшей обработки.

Формула изобретения

Устройство для измерения отклонения от прямолинейности, содержащее последовательно расположенные лазер, фокусирующие элементы, устанавливаемые в контролируемых точках, и фоторегистратор, отличающееся тем, что, с целью повышения точности и производительности измерения, фокусирующие элементы выполнены в виде зонных пластинок со смещенными в плоскости, перпендикулярной оптической оси, оптическими центрами, а фоторегистратор выполнен из позиционно-чувствительных фотоприемников по числу фокусирующих элементов.

Составитель Н. Захарченко

Редактор Г. Волкова Техред И. Верес Корректор О. Кравцова

Заказ 3088/4! Тираж 680 Поди исное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

1) 3035, Москва, >K — 35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для измерения отклонения от прямолинейности Устройство для измерения отклонения от прямолинейности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для контроля качества обработки отверстий деталей в прибореи машиностроении

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения параметров шероховатости поверхности Цель изобретения - повьшение точности измерений параметров шероховатости

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , в частности, для контроля шероховатостей поверхности оптически прозрачных деталей

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля шероховатости поверхности по методу темного поля

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля изделий оптического приборостроения и позволяет выявлять локальные дефекты на внутренних поверхностях каналов микроканальных пластин по всей их длине Способ заключается в заполнении ьйскроканалов на всю их длину нематическим жидким кристаллом СНЖЙТ под действием капиллярных сил и наблюдении излучения торцов микроканалов с помощью поляризационного микроскопа

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , в частности, для контроля качества поверхности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля чистоты радиусных поверхностей

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх