Способ контроля идентичности параметров матричных электрических приборов

 

Изобретение служит для повьшения достоверности контроля, параметров матричных электрических приборов. Для этого формируют последовательность электрических импульсов (И) постоянной длительности с частотой . N, где F - звуковая частота, N - количество элементов в контролируемом приборе. Сформированную последовательность трансформируют И звукового давления и воспринимают их в виде звукового стимула. Последний соответствует по громкости степени отличия параметра какого-либо элемента и высоте тока - количеству дефектных элементов. Устройство, реализующее способ, содержит ис точник 1 света, конденсатор 2, аналоговый коммутатор 4, счетчик 5, генератор 6 тактовых И, усилитель 7 мощности, электроакустический образователь 8 и орган 9 настройки частоты. Особенностью способа является использование эффекта сглаживания импульсов акустического давления в слухе, при котором величина импульсов пропорциональна значению какого-либо параметра каждого из элементов матрицы. Указанная особенность позволяет оперативно выявить наличие дефектных электрических приборов, входящих в матрицу, оценить их количество и степень отличия их параметров по сравнению с остальными прибо- . рами. 1 37-п. ф-лы, 2 Ш1. с/ с

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН (д1) 4 0 01 R 31/26

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР !

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ / ®ср „,„„. .п

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ /

Н А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

С:

Ф ф

/ (21) 4164066/24-21 (22) 18.12.86 (46) 30.06.88. Бюл. Р 24 (72) M.À. Парфенов (53) 621.317.7(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

N9 1064242, кл. G 01 R 31/26.

Авторское свидетельство СССР

Ф 438948, кл. G 01 R 31/26. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ИДЕНТИЧНОСТИ

ПАРАМЕТРОВ МАТРИЧНЫХ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ

ПРИБОРОВ (57) Изобретение служит для повьппения достоверности контроля, параметров матричных электрических приборов. Для этого формируют последовательность электрических импульсов (И) постоянной длительности с частотой f=F. N, где F — звуковая частота, N — количество элементов в контролируемом приборе. Сформированную последовательность трансформируют И звукового давления и воспринимают их в виде звуко„.Я0„„1406538 A i во r о стимула . Последний с ос тв е тс тв ует по громкости степени отличия параметра какого-либо элемента и высоте тока — количеству дефектных элементов.

Устройство, реализующее способ, содержит источник 1 света, конденсатор

2, аналоговый коммутатор 4, счетчик

5, генератор 6 тактовых И, усилитель

7 мощности, электроакустический преобразователь 8 и орган 9 настройки частоты. Особенностью способа является использование эффекта сглаживания

/ импульсов акустического давления в слухе, при котором величина импульсов пропорциональна значению какого-либо параметра каждого из элементов матрицы. Указанная особенность позволяет оперативно выявить наличие дефектных электрических приборов, входящих в матрицу, оценить их количество и степень отличия их параметров по сравнению с остальными приборами. 1 з-.п, ф-лы, 2 ил.

1406538

Изобретение относится к методам контроля параметров полупроводниковых и электрических приборов матричного типа и может быть использовано в про- 5 изводстве электронной техники.

Цель!о изобретения является повышение достоверности контроля путем введения количественной и качественной оценки погрешности при использовании 1р психоакустического эффекта сглаживания в слухе.

Указанная цель достигается тем, что в способе контроля идентичности параметров матричных электрических !5 приборов формируют последовательность ! электрических импульсов постоянной длительности с частотой, определяемой, ! соотношением ! ! f-=F N (кГц), 20 где f — частота импульсов;

F — звуковая частота;

N — количество элементов в контро лируемом приборе, которую затем трансформируют импульсы звукового давления и воспринимают их в виде звукового стимула, соответствующего по громкости степени отличия параметра какого-либо элемента и высоте тока — количеству дефектных 30 элементов„

На фиг. представлена схема уст.ройства, позволяющего реализовать предлагаемый способ; на фиг. 2 графики сигналов на выходе коммутаторов.

Устройство содержит источник 1 света, конденсатор 2, испытуемый прибор 3, например фотоприемную матрицу, аналоговый коммутатор 4, счетчик

5, генератор 6 тактовых импульсов, усилитель 7 мощности, электроакустический преобразователь 8 громкоговоритель),, орган 9 настройки частоты.

Выходы каждого из фотоприемников 45 матрицы 3 поочередно подключаются к входу усилителя 7 через коммутатор управляемый генератором 6 тактовых импульсов через счетчик 5. Орган 9 настройки частоты, с.оединенный с регулирующими входами генератора 6 обеспечивает подстройку частоты генератора по индивидуальной чувствительности слуха аудитора (контроллера).

Выход усилителя 7 мощности подключен к входу электроакустичоского преобразователя 8.

Устройство работает следующим образом.

Свет от источника 1 света через конденсатор 2 равномерно освещает испытуемую фотоприемную матрицу 3.

При этом осуществляется преобразование входного воздействия, в данном случае света, в электрический сигнал в каждом из элементов контролируемого прибора. Генератор 6 вырабатывает импульсы, поступающие на счетчик 5, параллельный код с выходов которого управляет работой коммутатора 4, т.е. поочередно подключает выходы фотодиодов матрицы 3 к входу усилителя 7 мощности, таким образом формируется последовательность электрических импульсов.

Фотоприемники опрашиваются по очереци с первого до последнего, затем цикл повторяется. Импульсы на выходе коммутатора соответствующие по амплитуде ЭДС, вырабатываются фотоди цами под действием света. Импульсы усиливаются до необходимого уровня усилителем 7 и подаются на электроакустический преобразователь 8, имеющий малую инерционность, например пьезо электрический или динамический высокочастотный громкоговоритель. Импульсы акустического давления, в спектре ко— торых присутствует частота слышимого диапазона частот, в соответствии с физиологическими особенностями слуха чеповека воспринимаются оператором как тон звуковой частоты. Это обусловливает выбор частоты опроса фотодиодной матрицы, исходя из максимальной чувствительности к ней слуха человека, например 1 кГц. Пусть необходимо проконтролировать линейку фотоприемников из 50 элементов, частоту повторения циклов опроса F возьмем 1 кГц. При полной идентичности элементов будет наблюдаться последовательность прямоугольных импульсов одинаковой длительности и амплитуды, а частоты 50 кГц, что выше диапазона слышимых человеком частот.

Последовательность униполярных прямоугольных импульсов, образующихся на выходе коммутатора, в случае идентичности всех элементов, содержит постоянную составляющую а л — — e(t) de= — е, ("и где „ — длительность импульсов;

Т вЂ” период следования импульсов;

E — амплитуда импульсов; а о — амплитуда нулевой гармоники.

)406538

Амплитуда и и га рмо ники

2 ьи!1 а„= — 5 e(t) cosnw tdt= т

2Е nw,л „

2 ï .таким образом, выражение для последовательности импульсов (фиг. 2б) запишется в виде л 00

"g 2 с- 1 . nwg4g 10

e(t) =Е(— + г — sin

cosnw t)

1 т.е. наименьшая частота в спектре сигнала находится вне звукового диапазона и не воспринимается. слухом человека. 15

В случае, если один или несколько

I приборов отличаются от остальных, последовательность импульсов на выходе коммутатора (фиг. 2а) можно пред-ставить в виде суммы двух последова†20 ,тельностей: спектра последовательности, аналогичной фиг. 2б, и спектра последовательности импульсов, следующих с частотой nF (фиг.2в), где n— число дефектных приборов (на фиг.2 25 и= 3). Очевидно, что в этом случае спектр сигнала попадает в звуковой диапазон и воспринимается человеком как тон частотой nF.

При количестве дефектных фотопри- 30 емников 2,3,4 и т.д., в спектре импульсов звукового давления будут присутствовать частоты 2, 3 и 4 и т.д. кГц, т.е. возможна количественная и качественная (так как гРомкость зву- 35 кового стимула зависит от степени неидентичности параметров фотоприемников в матрице) оценка прибора.

Подобным же образом можно контролировать идентичность параметров от- 40 дельных секций. в блоке аккумулятора или сухой батареи, где в качестве внешнего воздействия выступает энер" гия химической реакции.

Формула из обр.етения

1. Способ контроля идентичности параметров матричных электрических приборов, заключающийся в том, что в номинальном рабочем режиме подают входное воздействие на каждый из элементов матричного электрического прибора, регистрируют возникающие выходные сигналы, формируют из них последовательность электрических импульсов, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, поддерживают постоянной длительность электрических импульсов в последовательности, а частоту повторения выбирают равной

f=F N, где f — частота электрических импульсов постоянной длительности;

N — количество элементов в контлируемом матричном электрическом приборе;

F — частота звукового диапазона, преобразуют электрические импульсы в сигнал звукового давления при использовании пеихоакустического эффекта сглаживания в слухе и по наличию слышимого звукового сигнала судят о наличии неидентичных элементов в контролируемом матричном электрическом приборе.

2. Способ по п. 1, о т л и ч а юшийся тем, что по громкости слышимого звукового сигнала судят о степени отличия контролируемого параметра от заданного значения, а по высоте тона — о количестве дефектных элементов в матричном электрическом приборе.

1406538

Составитель В. Степанкин

Редактор 1О. Середа . Техред Л.Сердюкова Корректор С. Черни

Заказ 3189/42 Тираж 772 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035. 11осква, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Способ контроля идентичности параметров матричных электрических приборов Способ контроля идентичности параметров матричных электрических приборов Способ контроля идентичности параметров матричных электрических приборов Способ контроля идентичности параметров матричных электрических приборов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области полупроводниковой техники и может быть использовано для контроля подвижности неосновных носителей заряда в полупроводниковых материалах, используемых для изготовления полупроводниковых приборов и интегральных микросхем

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для определения емкости области пространственного заряда и диэлектрика в полупроводниковых структурах

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для контроля параметров полупроводниковых структур при их изготовлении, а также в процессе изготовления нолупроводниковых приборов на их основе

Изобретение относится к физическим методам исследования и может быть использовано для определения параметров ловушек в полупроводниковых материалах

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано в технологии изготовления полупроводниковых приборов

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для определения электронных характеристик границ раздела полупроводник-диэлектрик, определения подвижности носителей заряда в инверсионных каналах, для контроля качества изготовления полупроводниковых приборов на основе структур металлдиэлектрик-полупроводник

Изобретение относится к области электроники и вычислительной техники

Изобретение относится к способам измерения температуры тиристоров, используемым при производстве и эксплуатации мощных тиристоров

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для контроля параметров полупроводниковых структур при их изготовлении, а также в процессе изготовления нолупроводниковых приборов на их основе

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для определения электронных характеристик границ раздела полупроводник-диэлектрик, определения подвижности носителей заряда в инверсионных каналах, для контроля качества изготовления полупроводниковых приборов на основе структур металлдиэлектрик-полупроводник

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах
Наверх