Способ определения доли позитронов, аннигилирующих в источнике
Изобретение относится к прикладной ядерной физике и может быть использовано при исследовании мате риалов методом аннигиляции позитронов . Целью способа является повышение точности измерения доли позитронов аннигилирующих в источнике. Для этого дополнительно измеряется скорость счета тройных совпадений в изучаемом веществе, а также в веществе , отличающемся от излучаемого вероятностью трехквантовой аннигиляции , однако имеющем одинаковую с ним плотность. В качестве таких дополнительных образцов можно использовать ионные кристаллы NaCl, BaF5 и др цеолиты, нанокристалли - ческие материалы. Долю позитронов, аннигилирующих в источнике, рассчитывают по формуле, приведенной в описании изобретения. . SS (/, С
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ
РЕСПУБЛИК (19) (11) (g)) g G 0 I N 23/18 (I
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К А 8TOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ сс
1 нентам.
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ
ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ
ПРИ ГКНТ СССР (21) 4467264/25 (22) 22.07.88 (46) 15.02 91 Вюл ° N 6 (71) Московский инженерно-физический институт (72) И,A»Репин, СВСвирида, AH,ÑåìåHèêèH и О ° В,Тымчук (53) 001.8(088 ° 8) (56) I do Vries Positron lifetime
technique with applications in material science. — Delft, University, 1987, р. 187. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДОЛИ 1103НТРОНОВ, АННИГИЛИРУЮЩИХ В ИСТОЧНИКЕ (57) Изобретение относится к прикладной ядерной физике и может быть использовано при исследовании матеИзобретение относится к прикладной ядерной физике и может быть использовано при исследовании матерна» лов методом аннигиляции позитронов
Цель изобретения - повышение точности определения доли позитронов, аннигилирусощих в источнике позитронов °
Для определения доли позитронов по данному способу измерения проводились на образцах с близкими эначениями гэ РР, но отличающимися вероятностью 3-f аннигиляции, В качестве первого образца был взят поликристаллический отожженный в вакууме алнзминил Al, в качестве второгn - аморф» ное кварцевое стекло а-Si(, образриалов методом аннигиляции позитронов. Целью способа является повыше» ние точности измерения доли позитронов аннигилирующих в источнике, для этого дополнительно измеряется скорость счета тройных совпадений в изучаемом веществе, а также в веществе, отличающемся от излучаемого вероятностью трехквантовой аннигиляции, однако имеющем одинаковую с ним плотность. В качестве таких дополнительных образцов можно ис» пользовать ионные кристаллы NaC1, BaF< и др, цеолиты, нанокристалли ческие материалы ° Долю позитронов, аннигилирующих в источнике, рассчи» тывают по формуле, приведенной в описании изобретения. цы имели одинаковые размеры и толщину (в мг/см ). Измерения спектров времени жизни позитронов проводились на временном спектрометре с рабочим разрешением 380 пс, Обработка спектров производилась по программе
P0STTR0NETT EXTENDED по трем компоИсточник позитронов был изготовлен следующим образом. м
Раствор радиоактивной соли NaC1 выпаривался на подложку из майпара (1,5 мг/см ), затем подложка поме» щалась в пакетик из майлара, которьсй эапаивапся ° Активность источника составляла величину порядка 30 мкКи
: (727940
l< VII< ктре времени жи IIIH позитро<гов исс.1едуемог источника и образца Л1 при обработке выделяются гри
/ \. компоненты: (.g = (164+2) <., ((( (- О/+10) пс; 3 = ((680+70) пс с интенсивное f HMII 1< = (15+0, 5) % и
? 3-- (3 (< < 1 1 с, а 1(;. и этОм комп«неi1та ь з, I> IIII« f opr<<-позитрониевую природу, I — по:1итронную, .1п11чение вероятности 3- < аннигиля11ии н амс рфном SiO может быть 01гределено измерением интенсивности источник,I 11ри определении доли f пo пр<> r<7ти <у. Спедует отметить, что ошибка в определении f по данному способу определяется, г. основном, точностью измерения N 1, 1(и может быть сущее raeII»n уменьшен,1 за с 1ет увеличения статистики отсчетов при измерени11 И4, N . !1риведенные резу11ьтаты свидетельствуют о достижении положи-.ельного эффекта„ достигаемого при использовании данного способа, 10
Ф о р м у л а и з о б р е т е и и я узког0, позитрониево10 типа B сп ктре угловой корреляции аннигиляционных с1-..11антов и времени жи IHH долгo живущей компоненты в спектре времени сиани <. 0:1итронон в аморфном SiO пс . стпнд р гной методике °
Пр: обрабо гке спектра 1 ремени жиз; ни и ."трон в в аморфном SiO получено з1<:-.-1ение " -- (1500+30) I re IIñíI:I,0сть узкого пика Г11= (13+0,5) 7, fIIê кагс ор rn-пара конверсия í à-SiO Н<. Ис <" т . 1 О ?О 75 с " ьо н 372 3 !. -сс + (1=4I ) Х -3 : с . 0,()7) (О 3С 45 Составитель ЛЖихарев Техред JI.Олийнык Корректор Н.Ревская Ред;<к1. .р 1„,10липич ° »ii W «Э Ф ° ° ° Ф 3 1к,i э 335 Тираж 3 Я Пздписное ВНГ(ИП<И Го удар< твенного комитета по изобре гениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Рауш<.кая наб., д. 4/5 ((роизв <Л- .»0 « « Ск. р Эс гь счета тройных совпадений ;и I ° " 1 дионных 1»кван-.0H D Al u з- 1, измерялись в геометрии, в кот . 1 .точник и образцы размещены в 1<.с. косги измерения 11ри этом скоро - . с "та тройных совпадений эа выч<, ; -» а в ..1:.Оставила Г<1 1 = — >2., <0, 0) III«1/ I,, <; МОрфнОМ : 1! 20+0. 1I) I:ìii/÷, Вы исленное с I1 .«, 1ч< 1<<1е f оказалось <)3HIIb<1« (24 3) ,;р31. е;1ие с р< зул1.тато1» оп >еделе» пи;; f и< прототип; (f = 18+0,5) Е пок;з:,1ва г, что спределенное по предлс.ж нно1гу способу «начение f превос ходит < учетом оп;ибки измерения значе«<.rT f, -.пределенное пс прототипу, что, свдетельствует 0 наличии неучте11110.: короткой к01111оненть< в с11ектре Счособ определения доли позитронсв. аннигилирующих в источнике, включающий изменение спектра времени жизни позитронов в образце с одной ко р<7ткоживущей компонентой в спектре и ве f >I fíîñòüê трехквантовой анниги < пвдии; озитРонов Рз и опРеДеление зна-1..ния времени жизни и интенсив» и <..1е1(долгоживущих компонент в спект<с-< 1 рс сс(,",.1, 1 (, 1 = 1, 2, ° .. ), обуслованнигиляцией позитронов в ис» f0<-.Iе,отличающийся тем, что, с целью повышения точности о< 07,;,аления доли позитронов, допол.си"..пьно измеряют скорости счета !(с трои .ых совпадений аннигиляционных кв.-нгов в том же образце, а также во втором образце N с близким к первому образцу значением вероятности трехквантовой аннигиляции позитро< нов Р g и, используя результаты пр<, зед<енных измерений, определяют гс<.<11с< пози гронов f по соотношению Иг 3 1 11 Р, — Р, .де IJ, С (— интенсивность и время жизни орто-позитрониевой компоненть(в спектре времени жизни позитронов исследуемого источника и первого образца; с (,О собственное время жизни орто-позитрония °
