Камера вакуумного спектрометра

 

Изобретение относится к конструкции приборов для осуществления рентгеновского анализа. Цепь изобретения - повышение экспрессное™ анализа за счет измерения сигналов коррекции во время вакуумирования шлюзового объема. Камера содержит рабочий 2 и шлюзовой 3 объемы, разделенные задвижкой 4, блок 5 спектрометрических каналов, блок 6 регистрации излучения , рентгеновскую трубку 7. Задвижка 4 выполнена комбинированной и состоит из корпуса 8 и свинцовой пластины 9. На свинцовую пластину 9 нанесен реперный слой 11, представляющий собой смесь или сплав веществ, содержащих все элементы, на анализ которых рассчитан прибор. Использование измеренных интенсивностей флуоресцентного излучения элементов реперного слоя 11 позволяет внести коррекцию на дрейф параметров узлов спектрометра. 1 ил. (О (Л

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН

„„SU„„1642341 ц С 01 И 23/223

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГННТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ: .

К А BTGPCH0MY СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4698539/25 (22) 31.05.89 (46) 15;04.91. Вюл. 11 14 (71) Харьковский государственный университет им. А.M.Ãîðüêoão (72) Г.В.Сироко, О.В.Полевич, А.В.Марченков и В.И.Чикин (53) 539.1.03/.06(088.8) (56) СРМ-25 Спектрометр рентгеновский многоканальный. Руководство по эксплуатации АПУ2.770.007РЭ, 1986, Орловское объединение "Научприбор".

Рентгеновский квантометр ARL-72000.

Описание прибора 526-78-АТ1Т-75008PARIS. (54) КАМЕРА ВАКУУМНОГО СПЕКТРОМЕТРА (5.7) Изобретение относится к конструкции приборов,цля осуществления рентгеновского анализа. Цель изобреИзобретение относится к рентгенотехнике и может быть использовано в конструкциях рентгеновских спектрометров.

Цель изобретения — повышение экспрессности анализа за счет измерения сигналов коррекции во время вакуумирования шлюзового объема.

На фиг. I представлена схема устройства, на фиг. " — конструкция задвижки.

Устройство включает рабочую камеру 1 с рабочим объемом ?, шлюзовым объемом 3, разделенными задвижкой 4, блок 5 спектрометрических каналов, блок 6 регистрации излучения, рент2 тения — повышение экспрессности ана-1 лиза за счет измерения сигналов коррекции во время вакуумирования шлюзового объема. Камера содержит рабочий

2 и шлюзовой 3 объемы, разделенные задвижкой 4, блок 5 спектрометрических каналов, блок 6 регистрации излучения, рентгеновскую трубку 7 ° 3aдвижка 4 выполнена комбинированной и состоит из корпуса 8 и сви щовой плас тины 9. На свинцовую пластину 9 нанесен реперный слой 11, представляющий собой смесь или сплав веществ, содержащих все элементы, на анализ которых рассчитан прибор. Использование измеренных интенсивностей флуоресцентного излучения элементов реперного слоя 11 позволяет внести коррекцию на дрейф параметров узлов спектрометра. 1 ил. геновскую трубку 7. Задвижка 4 выполнена комбинированной, состоящей из корпуса 8, изготовленного из нержавеющей стали, и свинцовой пластины 9, прикрепленной к корпусу 8. На свинцовую пластину 9 нанесен реперный слой

10, который представляет собой смесь. или сплав веществ, содержащих все элементы, на анализ которых рассчитан прибор. Задвижка 4 служит для вакуумной герметизации шлюзового объема от рабочего объема во время смены образцов для защиты от неиспользованного рентгеновского излучения. Реперный слой позволяет коррек- тировать значение интенсивности va1642341 рактеристического излучения от элементов исследуемого образца с учетом изменения интенсивности характеристического рентгеновского излучения (ХРИ) элементов реперного слоя.

При осуществлении анализа устройство работает следующим образом.

Вводят в шлюзовой объем 3 камеры исследуемый образец, объем 3 вакуумируют, во время вакуумирования облучают реперный слой 10 задвижки 4, измеряют интенсивность ХРИ элементов реперного слоя задвижки во всех каналах спектрометра. Открывают задвижку, облучают исследуемый образец, измеряют интенсивность ХРИ элементов исследуемого образца. Закрывают задвижку, производят смену исследуемой пробы.

В это же время облучают реперный слой 10 задвижки 4 и измеряют интенсивность ХРИ входящих в него элементов. Облучение реперного слоя проводят до и после измерения исследуемого образца без потери времени за счет использования времени, необходимого для вакуумирования шлюзового объема 3 камеры.

Определяют среднее значение интенсивностей ХРИ элементов реперного слоя, измеренных до и после измерения исследуемой пробы, считая его нормальным I „

Вводят коррекцию измеренного значения интенсивности ХРИ элементов исследуемого вещества, учитывая вызванные дрейфом параметров узлов спектрометра отклонения от нормального значения интенсивностей ХРИ элементов реперного слоя задвижки.

Формула изобретения

Камера вакуумного спектрометра, содержащая рабочий и шлюзовой объемы, 20 разделенные задвижкой, о т л и ч а ющ а я с я тем, что, с целью повышения экспрессности анализа за. счет измерения сигналов коррекции во время вакуумирования шлюзового объема

25 на поверхность задвижки, обращенную в рабочий объем, нанесен реперный слой, содержащий все анализируемые в спектрометре элементы.

1642341

Составитель В.Простакова

Редактор М.Биткина Техред .JI.Îëèéíûê Корректор M.Ìàêñèìèøêíåö

Заказ 1142 Тираж 411 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Камера вакуумного спектрометра Камера вакуумного спектрометра Камера вакуумного спектрометра 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области техники, связанной с исследованием материалов и веществ радиационными методами

Изобретение относится к аналитической химии, а именно к способам рентгеноспектрального анализа для определения концентрации элементов в пробах сложного состава

Изобретение относится к рентгеноспектральным аппаратам качественного и количественного состава вещества

Изобретение относится к ядерно-физическим методам анализа

Изобретение относится к области физических методов анализа веществ и предназначено для идентификации нефти и нефтепродуктов при поиске источников загрязнения, например, в связи с разливами нефти в водных объектах

Изобретение относится к аналитической химии, в частности к рентгенофлуоресцентному анализу простых и сложных оксидных систем

Изобретение относится к ядерно-физическим методам анализа материалов

Изобретение относится к устройствам для пробоподготовки

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств веществ, в частности, при проведении рентгеноспектрального анализа руд после их кислотного разложения и экстракции определяемых элементов

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины лент, полотен и т.п

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а именно к устройствам рентгеновской и изотопной дефектоскопии объектов, находящихся в труднодоступных полостях
Наверх