Способ магнитографического контроля

 

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано для контроля качества стыковых сварных соединений из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повышение точности контроля за счет намагничивания изделия комбинацией постоянного и переменного с убывающей амплитудой полей, обеспечивающих получение области безгистерезисного намагничивания контролируемого участка изделия. Намагничивают контролируемый участок и ленту комбинацией постоянного поля и переменного поля с убывающей до нуля амплитудой, затем повторно намагничивают тот же участок изделия и вторую магнитную ленту постоянным полем, большим по величине и противоположным по направлению постоянного поля первого намагничивания. Наличие дефектов определяется при совместном считывании двух лент на дефектоскоп .

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)5 6 01 N.27/85

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ,„,,,."."," т

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4734666/28 (22) 05.09.89 (46) 15,12.91. Бюл. N. 46 (71) Могилевский машиностроительный институт (72) А.А,Давыдков и В.П.Василенко (53) 620.179.14 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР йт 1532962, кл. G 01 N 27/85, 1989. (54) СПОСОБ МАГНИТОГРАФИЧЕСКОГО

КОНТРОЛЯ (57) Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано для контроля качества стыковых сварных соединений из ферромагнитных материалов.

Целью изобретения является повышение

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и изделий и может быть использовано для дефектоскопии стыковых сварных соединений из ферромагнитных материалов.

Цель изобретения — повышение точности контроля за счет исключения влияния неровностей сварного шва при использовании двух магнитных лент, намагничиваемых комбинацией постоянного и переменного полей.

Способ магнитографического контроля заключается в следующем.

Контролируемый участок с магнитной лентой, уложенной на его поверхности, намагничивают комбинацией постоянного и переменного с убывающей до нуля амплитудой полей, затем намагничивают контролируемый участок и вторую магнитную ленту постоянным полем. Причем величина посто„„5U „„ 1698734 А1 точности контроля за счет намагничивания изделия комбинацией постоянного и переменного с убывающей амплитудой полей, обеспечивающих получение области беэгистереэисного намагничивания контролируемого участка иэделия. Намагничивают контролируемый участок и ленту комбинацией постоянного поля и переменного поля с убывающей до нуля амплитудой, затем повторно намагничивают тот же участок изделия и вторую магнитную ленту постоянным полем, большим по величине и противоположным по направлению постоянного поля первого намагничивания. Наличие дефектов определяется при совместном считывании двух лент на дефектоскоп.. янного поля повторного намагничивания должна быть больше величины постоянного поля первого намагничивания, а направления этих полей противоположны.

Наличие дефектов определяется по разностному сигналу с магнитных лент при их совместном считывании на дефектоскопе, Намагничивание контролируемого участка комбинацией взаимодействующих постоянного и переменного полей создает область безгистерезисного намагничивания в поверхностном слое иэделия. Поэтому для насыщения поверхностного слоя требуются небольшие по величине постоянные магнитные поля, поля рассеяния внутренних дефектов не записываются на ленту.

При этом поля поверхностных неровностей записываются на ленту практически так же, как при оптимальных значениях намагничивающего поля. В связи с тем, что направле1698734

Формула изобретения

Составитель В.Миронов

Техред M.Ìoðãåíòàë Корректор О.Кравцова

Редактор А.Долинич

Заказ 4389 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР t13035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 ние постоянного поля при повторном намагничивании противоположно направлению постоянного поля первого намагничивания, сигналы, обусловленные поверхностными неровностями на лентах, будут разного знака и при считывании компенсируются, а на экране дефектоскопа получается сигнал внутренних дефектов.

Пример. Запись полей на две ленты

H-4732 производилась на тест-образце

Сварного соединения, имеющего внутри дефекты типа "пора" диаметром 2 и 3 мм, Толщина деталей составляла 20 мм, Поверхность имела неровности, чешуйчатость, наплывы и надрезы, Значения тока намагничивания составляли: постоянного

20 А, переменного 12 А, тока повторного . намагничивания 30 А. Для считывания использовали дефектоскоп ЦМТД-11. По разностному сигналу с обеих лент было получено изображение внутренних дефектов, совпадающее с рентгенограммой контролируемого сварного шва.

Способ магнитографического контроля, заключающийся в том, что намагничивают

5 контролируемый участок последовательно постоянным полем и комбинацией постоянного и переменного полей, производят запись на две ленты, а о качестве контролируемого изделия судят по разности сигнэ10 лов, считанных собеих лент,,о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повышения точности контроля, сначала намагничивают контролируемый участок и ленту комбинацией постоянного поля и переменного с

15 убывающей до нуля амплитудой, затем повторно намагничивают тот же участок и вторую магнитную ленту постоянным полем, большим по величине и противоположным по направлению постоянного поля первого

20 намагничивания, а о качестве контролируемого участка судят по разностному сигналу, полученному при совместном считывании двух лент.