Способ изготовления излучателей для рентгеноспектрального анализа металлов и сплавов
Использование: в области аналитической химии, в частности в области рентгеноспектрального анализа. Сущность изобретения: отбирают пробу исследуемого вещества , наносят ее на шкурку, вставленную в оправку и имеющую размер излучателя, нанесение исследуемого вещества осуществляют путем шлифования пробы до заполнения им пространства между зернами шкурки. 1 табл.
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧГСКИХ
РЕСПУБЛИК
<я)э G 01 N 23/223, 1/28
ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ
ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ
Ii — IiIsi — В
Ci= Е
II-e + Кс2 + Ni
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4912830/25 (22) 18.01.91 (46) 28.02.93. Бюл. ¹ 8 (75) В. B. Лебедев и Н. А. Лебедева (56) Лосев Н, Ф, Количественный рентгеноспектральный флуоресцентный анализ. М,:
Наука, 1969, с. 149.
Лосев Н, Ф., Смагунова А. H. Основы рентгеноспектрального флуоресцентного анализа. М.; Химия, 1982, с, 86 — 87, Изобретение относится к области количественного анализа, а именно к способам изготовления излучателей для рентгеноспектрального анализа (PCA) металлов и сплавов.
Цель изобретения — снижение трудоемкости и повышение экспрессности способа, Цель достигается тем, что по способу изготовления излучателей для рентгеноспектрального анализа металлов и сплавов, включающему отбор пробы исследуемого вещества и нанесение ее на подложку-прободержатель, в качестве подложки-прободержателя используют шкурку, имеющую размер излучателя, а нанесение исследуемого вещества осуществляют путем шлифования образца до заполнения им пространства между зернами шкурки.
Пример выполнения.
Очищенную от ржавчины и других загрязнений поверхность анализируемого образца натирают в течение 1 — 2 мин кусочком шкурки примерно 35 х 35 мм, вставленным в оправку. Шкурка шлифовальная на бумажной основе с зернами карбида кремния ма„,. Ж, 1798671 Al (54) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ИЗЛУЧАТЕЛЕЙ ДЛЯ РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНОГО
АНАЛИЗА МЕ ГАЛЛОВ И СПЛАВОВ (57) Использование: в области аналитической химии, в частности в области рентгеноспектрального анализа. Сущность изобретения: отбирают пробу исследуемого вещества, наносят ее на шкурку, вставленную в оправку и имеющую размер излучателя, нанесение исследуемого вещества осуществляют путем шлифования пробы до заполнения им пространства между зернами шкурки. 1 табл, рок Л251СМ63, М50, М40, М28 или с зернами электрокорунда (А!20э) марки 15АМ50.
Затем используя шкурку в качестве излучателя, проводят измерение по соответствующей программе на рентгенофлуоресцентном спектрометре PW1600 фирмы "Филипс" Голландия (отечественный аналог
СРМ-18. СРМ-25). Время измерения 30 с.
Для преобразования измеренных интенсивностей i в концентрации С при анализе низко-высоколегированных сталей (хром, никель — до 20 $) применяется следующая формула где Š— крутизна градуировочной характеристики f-ro элемента;
I> fsi — фон, рассеянный на зернах абразива и на связке, пропорциональной интенсивности кремния, содержащегося в зернах карбида кремния (при использовании шкурки с зернами AI20z Isi заменяется Hà Ir i).
 — постоянный фон;
1798671
Составитель В. Лебедев
Техред М.Моргентал Корректор О, Кравцова
Редактор
Заказ 767 Тираж Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5
Производственно-издательский комбинат "Патент". г. Ужгород, ул.Гагэринэ. 101
IFe, Icy, INI — интенсивности на каналах железа. хрома, никеля (реализован способ "внутренйего стандарта", устраняющий зависимость от колебаний количества стружки. заполнившей поры шкурки). Параметры
Еь II, Вь Кс2, Км рассчитываются по интенсивнОстям, измеренным на шкурках, потертых о стандартные образцы.
8 таблице сопоставлены аттестованные содержания Mn, Cr, Ni; Cu, Mo в государственных стандартных образцах среднелеги- ° рованных сталей и результаты определения по предлагаемой методике на спектрометре .
РЧ/1600, Формула изобретения
Способ изготовления излучателей для рентгеноспектрального анализа металлов и сплавов, включающий отбор пробы исследуеМого вещества и нанесение ее на подложку-прободержатель, отличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости и повышения зкспрессности способа, в качестве подложки-прободержателя используют шкурку, вставленную в оправку и имеющую размер излучателя, а нанесение исследуемого вещества осуществляют путем шлифования пробы до заполнения им пространства между зернами шкурки.
