Способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре при нагревании

 

Сущность изобретения: способ прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре заключается в том, что одновременно подают температурные воздействия, напряжение питания и входное тестовое воздействие, измеряют выходные электрические реакции, которые сравнивают с эталоном. Отличительной особенностью способа является нагрев всего объекта контроля до наступления восстановимого отказа, а затем его поэлементное охлаждение до восстановления рабочего состояния объекта контроля с последующей регистрацией отказавшего элемента. 1 ил.

Изобретение относится к контролю и прогнозированию отказов.

Наиболее близким к предлагаемому является способ температурных испытаний, при котором в камеру нагнетается воздух, который нагревает контролируемый аппарат.

Недостатком этого способа является невозможность определить вероятное место отказа в радиоэлектронной аппаратуре.

Целью изобретения является повышение достоверности прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре.

Цель достигается тем, что в способе прогнозирования вероятного места отказа в радиоэлектронной аппаратуре производят нагрев аппарата до наступления восстановимого отказа, а затем поэлементное охлаждение, при этом подают напряжение питания и входное тестовое воздействие, измеряют электрические параметры и контролируют их величину, сравнивая с эталоном. При охлаждении ненадежного элемента, вызывающего отказ, происходит восстановление рабочего состояния аппарата.

Предлагаемый способ отличается от прототипа тем, что после нагрева до появления восстановимого отказа производят поэлементное охлаждение до восстановления работоспособности.

На чертеже показано устройство, с помощью которого осуществляют предлагаемый способ.

Устройство содержит клапан 2 для впуска остронаправленной струи охладителя, камеру 3 с горячим воздухом, испытуемый аппарат 4, устройство 5 контроля параметров и блок 1 питания.

Устройство работает следующим образом.

Аппарат 4 помещают в камеру 3 и производят нагрев до появления восстанавливаемого отказа. Затем производят поэлементное охлаждение до обнаружения виновного в отказе. При этом аппарат восстанавливает рабочее состояние, которое регистрируется устройством 5 контроля параметров.

Использование изобретения позволяет прогнозировать и вовремя выявлять могущие отказать элементы в радиоэлектронных аппаратах, за счет чего улучшается качество выпускаемых изделий, кроме того, ранний процесс нахождения некачественных изделий намного дешевле, чем выявление и устранение дефектов в процессе эксплуатации.

Формула изобретения

СПОСОБ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ВЕРОЯТНОГО МЕСТА ОТКАЗА В РАДИОЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЕ ПРИ НАГРЕВАНИИ, в соответствии с которым на объект контроля подают температурные воздействия, напряжение питания и входное тестовое воздействие, снимают выходные электрические реакции, которые сравнивают с эталоном, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности прогнозирования, при отказе одного из элементов объекта контроля за счет выявления вероятного места отказа осуществляют температурные воздействия, состоящие в том, что производят нагрев всего объекта до наступления восстановимого отказа, а затем его поэлементное охлаждение до восстановления рабочего состояния всего объекта контроля, а затем регистрируют номер отказавшего элемента.

РИСУНКИ

Рисунок 1



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения скрытых дефектов от неконтактных явлений соединителей, эксплуатируемых в контрольно-измерительной аппаратуре, приборах связи, высокопроизводительных вычислительных системах, многопроцессорных вычислительных комплексах, транспьютерах, а также в различных радиоэлектронных устройствах

Изобретение относится к микрозондовой технике и предназначено для тестирования интегральных схем с целью контроля их работоспособности и анализа отказов в процессе проектирования и производства, определения потенциального рельефа на поверхности электродов и т

Изобретение относится к технике налаживания блоков электрической аппаратуры, в частности к устройствам для контроля логических блоков, и может найти применение для программного контроля печатных плат

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для контроля интегральных схем

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано при отладке логических блоков, микропроцессорных систем, ЭВМ и т.д

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний электрорадиоизделий (ЭРИ) на стойкость к воздействию ионизирующих излучений (ИИ), например излучений ядерных установок и космического пространства

Изобретение относится к полупроводниковым интегральным схемам

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для диагностирования неисправностей коммутатора матричного типа в измерительных системах, предназначенных для измерения сигналов, поступающих от большого количества тензорезисторов

Изобретение относится к классу устройств для контроля и диагностики параметров тиристорных преобразователей, управление которыми осуществляется на базе микропроцессорной техники

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Изобретение относится к области диагностирования силовой электротехники, в частности тиристорных преобразователей, и предназначено для поддержания надежности тиристорного преобразователя на требуемом уровне и своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода последних в специальный контрольный режим

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в качестве устройства диагностики при проведении пусконаладочных работ, эксплуатации и ремонте устройств автоматики и вычислительной техники на микросхемах эмиттерно-связанной логики (ЭСЛ)

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике для диагностики состояния объекта по результатам преобразования детерминированных и случайных сигналов и может быть использовано в телеметрических системах с эвакуируемыми накопителями информации ("черный ящик") и радиоканалом для передачи катастрофических отказов

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования разветвленных электронных цепей

Изобретение относится к способам электрического контроля и испытаний на постоянном и переменном токе с последующей отбраковкой подложек из диэлектрика или полупроводника, содержащих изделия электронной техники и электротехники (электрорадиоизделия), содержащих плоские и объемные проводящие области, содержащих активные и пассивные функциональные элементы в виде полупроводниковых приборов, многослойных трехмерных структур, пленок с различным типом электрической проводимости, жидкокристаллических панелей и др

Изобретение относится к автоматике и контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и поиска неисправностей в цифровых электронных устройствах

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности цифровых блоков и схем, поиска и локализации в них неисправностей как в процессе регулировки, так и в процессе эксплуатации
Наверх