Способ определения кривизны зеркально-отражающей поверхности

 

Изобретение относится к приборостроению и может быть использовано при контроле формы плоских зеркальных поверхностей оптических элементов. Цель изобретения - повышение производительности. Пучок, выходящий из лазера, при помощи полупрозрачного зеркала и призмы делится на два параллельных. Если один из пучков падает на поверхность перпендикулярно, то при наличии сферичности поверхности, отраженные пучки отклоняются от нормали. 1 ил.

Изобретение относится к приборостроению и может быть использовано при контроле формы плоских зеркальных поверхностей оптических элементов.

Известен способ измерения кривизны поверхности посредством кольцевого сферометра, посредством которого определяется высота шарового сегмента, основанием которого является плоскость рабочей кромки кольца сферометра [1] Недостатком известного способа является невозможность измерения сферичности поверхностей, когда механический контакт с поверхностью недопустим.

Наиболее близким к изобретению является способ определения кривизны зеркально-отражающей поверхности, заключающийся в том, что направляют лазерный пучок на поверхность, фиксируют положение центра отраженного пятна и определяют кривизну с учетом положения центра пятна [2] Недостатком известного способа является недостаточная производительность, обусловленная тем, что, кроме установки эталонной поверхности перпендикулярно лазерному пучку, производится сканирование лазерным пучком всей измеряемой поверхности.

Цель изобретения повышение производительности.

На чертеже представлена схема устройства, реализующего способ.

Устройство содержит лазер 1, полупрозрачное зеркало 2, диафрагму 3, поз. 4 обозначена исследуемая поверхность, вторую диафрагму 5, отражающую поверхность призму 6, плоскость 7 фиксации пучков.

Способ заключается в следующем.

Пучок, выходящий из лазера 1, при помощи полупрозрачного зеркала 2 и призмы 6 делится на два параллельных пучка, которые через диафрагмы 3 и 5 направляются на исследуемую поверхность 4. Если один пучок падает на поверхность 4 перпендикулярно, то при наличии сферичности поверхности отраженные пучки будут отклоняться от нормали.

Зная расстояние между падающими пучками D, расстояние от зеркала до исследуемой поверхности L и измерив значение смещения центра светового пята от центра диафрагмы 5l, может быть определена стрелка кривизны поверхности h по формуле: h D При нанесении в плоскости 7 фиксации пучков сетки в виде концентрических колец, отградуированных в значениях h, возможно визуально снимать отсчет.

Формула изобретения

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КРИВИЗНЫ ЗЕРКАЛЬНО-ОТРАЖАЮЩЕЙ ПОВЕРХНОСТИ, заключающийся в том, что направляют лазерный пучок на поверхность, фиксируют положение центра отраженного пятна и определяют кривизну с учетом положения центра пятна, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности, производят направление на поверхность второго пучка параллельно первому, пропускают каждый из пучков через соответствующую диафрагму так, чтобы один из пучков падал перпендикулярно на поверхность, фиксацию центра второго отраженного пучка производят относительно центра его диафрагмы.

РИСУНКИ

Рисунок 1



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устройствам для измерения радиусов кривизны пластин с зеркальными поверхностями, преимущественно полупроводниковых пластин

Изобретение относится к измерительной технике, а именно оптике и технической физике, служащей для неразрушающего контроля промышленных изделий, и может быть использовано в машиностроении, приборостроении, оптической промышленности для контроля качества продукции

Изобретение относится к приборам и устройствам для обмера и контроля формы и размеров объекта, преимущественно стоп

Изобретение относится к области измерения и контроля параметров и формы изделий машиностроения, энергомашиностроения с чистотой поверхности, обеспечивающей зеркальный и зеркально-диффузный характер отраженного светового излучения

Изобретение относится к области измерения и контроля точности изготовления изделий с чистотой поверхности, обеспечивающей зеркальный и зеркально-диффузный характер отраженного светового излучения

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к устройствам для контроля непрямолинейности, неплоскостности оптическим методом, и предназначено для контроля поверхностей круногабаритных объектов, а также для установки ряда объектов относительно референтной плоскости в станкостроении, судостроении, энергомашиностроении и других отраслях промышленности

Изобретение относится к авиационной космической технике, а именно к средствам контроля качества аэродинамической поверхности, и может быть использовано в процессах контроля контура аэродинамических поверхностей, образованных наружными поверхностями двух рядом расположенных элементов теплозащитной изоляции

Изобретение относится к анализу пространственных характеристик объектов, преимущественно к активным способам определения сечений по видеоинформации

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при контроле радиуса кривизны вогнутых оптических сферических поверхностей , в частности пробных стекол

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения геометрических параметров объектов и оптическим устройствам для осуществления этих способов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактных измерений профиля деталей типа тел вращения, а также слабой волнистости поверхности в виде пространственной функции

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля технического состояния рельсового подвижного состава

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам для бесконтактного измерения отклонения поверхности длинных узких объектов от прямолинейного на заданном отрезке и может быть использовано для контроля прямолинейности поверхности катания рельса
Наверх