Устройство для измерения толщины покрытияизделия

 

Г

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

254II3

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Кл, 42b, 12/03

Заявлено 29.1Ч.1968 (№ 1238986/25-28) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 07.Х.1969. Бюллетень ¹ 31

Дата опубликования описания 11.III.1970

МПК G 01b

УДК 531.715.1(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Автор изобретения

А. А. Правиков

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ

ИЗДЕЛИЯ

3

) т2

Известны устройства для измерения толщины покрытия изделия, содержащие источник ионизирующего излучения с коллиматором и детектор. Однако эти устройства не учитывают изменения в конфигурации контролируемых изделий, разницу в их обработке, а также неидентичность установки изделий при контроле, в результате чего появляется значительная погрешность измерения толщины.

С целью повышения точности измерения, в предложенном устройстве коллиматор выполнен с утолщением по периметру в виде буртика, диаметр и расположение которого выбирают с соотношением где l — расстояние от буртика коллиматора до контролируемого изделия; 20

h — расстояние от детектора до контролируемого изделия;

До — диаметр буртика;

Ą— диаметр рабочей части детектора.

На чертеже схематично изображено описываемое устройство.

Устройство содержит корпус 1, посредством резьбового соединения связанный с держателем 2 коллиматора 8; фиксатор 4, жестко 30 скрепляющий корпус и держатель после настройки прибора; детектор, состоящий из сцинтиллятора 5 и фотоэлектронного умножителя б; окно 7 в корпусе для прохождения прямого и отраженного излучения; одно 8 в держателе для прохождения отраженного излучения от контролируемого изделия 9; источник ионизирующего излучения 10; буртик коллиматора 11 и окно 12 в коллиматоре.

Устройство работает следующим образом.

Поток бета-излучения от источника 10, проходя через окно 12 в коллиматоре 8, облучает участок поверхности изделия, подлежащего контролю. Отраженные от контролируемого изделия 9 бета-частицы через окна 7 и 8 попадают на сцинтиллятор 5, причем на сцинтиллятор падают бета-частицы лишь в угле (og — кь Возникающие на выходе фотоумножителя б импульсы тока, пропорциональные амплитуде сцинтилляций, регистрируются пересчетной схемой. Количество зарегистрированных бета-частиц является функцией толщины покрытия.

При приближении изделия к источнику происходят два процесса, приводящие к противоположным результатам.

С одной стороны, увеличивается число бетачастиц, падающих в угле со за счет приближения изделия к детектору и источнику, а с другой стороны, увеличивается утол опт, чт ведет к уменьшению числа регистрируемых бета-частиц.

254113

Предмет изобретения з

1 д2 з

)/ 2

15 где l

f2 (1 я& юе

mu i

Составитель Л. Кениг

Техред Н, Тараненко

Редактор Г. К. Гончарова

Корректор С. М. Сигал

Заказ 383/! Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и откргатий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, z

Имеется некоторое оптимальное расстояние от изделия до коллиматора и детектора, при котором скорость счета не зависит от положения изделия, кривизны и обработки его.

Оптимальные значения величин!г и l характеризуются следующим выражением: где Дб — диаметр буртика коллиматора;

Д,— диаметр рабочей части детектора. г — расстояние между контролируемым изделием и буртиком коллиматора;

6 — расстояние между контролируемым изделием и сцинтиллятором.

При первоначальной настройке прибора расстояния h и 1 могут уточняться на максимум скорости счета движением корпуса l относительно держателя 2.

Устройство для измерения толщины покрытия изделия, содержащее источник ионизирующего излучения с коллиматором и детек. тор, отличпющееея тем, что, с целью повыш:=ния точности измерения, коллиматор выполнен с утолщением по периметру в виде буртика„ диаметр и расположение которого выбирают

10 с соотношением — расстояние от буртика коллиматора до контролируемого изделия;

h — расстояние от детектора до контролируемого изделия;

Да — диаметр буртика;

Д, — диаметр рабочей части детектора.

Устройство для измерения толщины покрытияизделия Устройство для измерения толщины покрытияизделия 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках (в том числе и многослойных)

Изобретение относится к газо- и нефтедобыче и транспортировке, а именно к методам неразрушающего контроля (НК) трубопроводов при их испытаниях и в условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля уменьшения толщины реборды железнодорожных колес подвижных составов

Изобретение относится к бесконтактным методам определения толщины покрытий с помощью рентгеновского или гамма-излучений и может быть использовано в электронной, часовой, ювелирной промышленности и в машиностроении

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для автоматического бесконтактного измерения износа толщины реборды железнодорожных (ЖД) колес подвижных составов

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля, а именно к радиоизотопным приборам для измерения толщины или поверхностной плотности материала или его покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля тепловыделяющих элементов (твэлов) ядерных реакторов, изготовленных в виде трехслойных труб различного профиля и предназначено для автоматического измерения координат активного слоя, разметки границ твэлов, измерения равномерности распределения активного материала по всей площади слоя в процессе изготовления

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для определения толщины стенок, образованных криволинейными поверхностями (цилиндрическими, сферическими и др.) в деталях сложной несимметричной формы
Наверх