Способ голографирования объемных сцен

Авторы патента:

G01B15 - Измерительные устройства, отличающиеся использованием волновых излучений или потоков элементарных частиц (G01B 9/00,G01B 11/00 имеют преимущество)

О П И С А- -Н -- И--Е-

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

2867l2

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства ¹â€”

Заявлено 07. VIII.1967 (№ 1179815/26-25) с присоединением заявки ¹â€”

ПриоритетвЂ”

Опубликовано ОЗ.IX.1970. Бюллетень ¹ 28

Дата опубликования описания 2. I I I.1971

Кл. 21@, 53/00

Квинтет пс делатл изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

МПК Н 01s

G 0lb 15/00

УДК 621.375.8 (088.8) Автор изобретен ия

В. И. Бобринев

Заявитель

СПОСОБ ГОЛОГРАФИРОВАНИЯ ОБЪЕМНЫХ СЦЕН

Изобретение относится к способам голографической регистрации объемных сцен.

Известен способ голографической регистрации объемных сцен, при котором луч лазера расщепляют на два луча. После расширения один луч подают на освещение сцены, а другой в качестве опорного вЂ,на фотопластинку, на которой регистрируется голограмма.

Недостатком известного,способа я вляется ограничение глубины голографируемой сцены 10 временем когерентности источника.

Целью изооретения является увеличение глубины и объема сцены при ограниченной временной когерентности источника света.

Для этого луч лазера расщепляют на пред- 15 метный и опорный. Предметный луч после расширения используют для освещения сцены, а опорный пропускают через оптический резонатор, в результате чего луч расщепляется на систему опорных лучей, сдвинутых во времени один о тносительно другого на время, определяемое длиной резонатора. Систему опорных лучей пропускаю1 через линзу, расширяющую опорный пучок, и подают на фотопластинку, на которой регистрируется голограмма. 25

За счет сдвинутых во времени опорных волн на голограмме фиксируются поля, рассеянные участками сцены, соответствующими по удаленшо задержанным опорным волнам, а по глубине вЂ” длине когерентности, и таким образом увеличивается общая глубина голографпруемой сцены.

Способ поясняегся чертежом.

Луч ОКГ 1 расщепляют полупрозрачным зеркалом 2. Предметный луч расширяют линзой 8. Опорный луч пропускают через оптический резонатор 4, с,выхода которого систему опорных пучков, отраженную от зеркала 5, расширяют линзой б и подают на фотопласт инп<у 7, яа которой регистр ир уется голограмма.

Способ обеспечивает голографическую регистрацию сцены с глубиной больше длины когерентности источника излучения.

Предмет изобретен гя

Способ голографирования объемных сцен, от.гичаюи1ийся тем, что, с целью увеличения глубины объема при ограниченной временной когерснтности источника света, опорный луч расщепляют HB си стему лучей, сдвинутых во времени один относительно другого, пропуская его через оптический резонатор, например резонатор Фабри-Перо.

280712

Редактор Т. Орловская

Заказ 75G7 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Ковгитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, )К-35, Раушская наб., д. 4/5

Областная типография Костромското управления по печати

/ г г

Составитель И Старосельская

Техред 3. Н. Тараиенко Корректоры О. М. Ковалева и Л. Б. Бадылама

Голографический способ контроля оптических // 277269

Способ измерения толщины пленок // 277267

Способ контроля поперечных типов колебаний оптических квантовых генераторов // 276270

Устройство для контроля плотности // 268556

Способ исследования кинематики пластического // 266329

Радиоактивный измеритель толщины листовых материалов // 264703

Патент 263170 // 263170

Способ измерения линейных размеров изделий с использованием антенных датчиков // 261707

Рентгеновский измеритель толщины // 260265

Рентгеновский рефлектометр // 2104481

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Рентгеновский рефлектометр // 2104481

Способ измерения толщины покрытия на подложке // 2107894

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках (в том числе и многослойных)

Способ измерения толщины покрытия на подложке // 2107894

Способ неразрушающего контроля трубопроводов // 2108569

Изобретение относится к газо- и нефтедобыче и транспортировке, а именно к методам неразрушающего контроля (НК) трубопроводов при их испытаниях и в условиях эксплуатации

Способ контроля уменьшения толщины реборды железнодорожных колес и устройство для его осуществления // 2110056

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля уменьшения толщины реборды железнодорожных колес подвижных составов

Устройство для определения толщины покрытий рентгенофлуоресцентным методом // 2112209

Изобретение относится к бесконтактным методам определения толщины покрытий с помощью рентгеновского или гамма-излучений и может быть использовано в электронной, часовой, ювелирной промышленности и в машиностроении

Устройство для определения толщины покрытий рентгенофлуоресцентным методом // 2112209

Способ неразрушающего контроля геометрии теневой гидридлитиевой радиационной защиты // 2113737

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Способ оценки профиля трубы при ультразвуковом методе контроля // 2114447