Способ компенсации влияния температуры

 

Р

О П И.-С А- Н И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

305347

iCoea Советскик

Сопиалистическик

Респубпик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

МПК G 01Ь 7/18

Заявлено 04.V111.1969 (¹ 1354300/25-28) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 04.V1,1971. Бюллетень ¹ 18

Дата опубликования описания 15Л 11.1971

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 531.781.2:539.3 (088.8) Авторы изобретения

3. И. Науйокайтис и Л. И. Гастила

Каунасский политехнический институт

За:интел ь

СПОСОБ КОМПЕНСАЦИИ ВЛИЯНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ

НА ТЕНЗОЧУВСТВИТЕЛЬНОСТЪ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ

ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ

Предлагаемое изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерению деформаций.

Известен способ компенсации влияния температуры на тензочувствительность полупроводниковых тензорезисторов, заключающийся в том, что рабочий и компенсационный тензорезисторы устанавливают в месте измерения и соединяют их в смежные плечи измерительного моста.

Однако в известном способе отсутству0T возможность добиться более высокой то шости компенсации влияния температуры на тензочувствительность полупроводниковых тензорезисторов, поскольку температура изменяет тензочувствительность рабочего и компенсационного тензорезисторов по-разному в зависимости от приложенной деформации.

Цель предлагаемого изобретения — повысить точность компенсации влияния температуры на тензочувствительность полупроводниковых тензорезисторов.

Это достигается тем, что компенсационный тензорезистор закрепляют на упругой микробалочке и деформируют так, чтобы деформация компенсационного тензорезистора была адэкватна деформации рабочего тензорезистора.

На чертеже представлена схема устройства для реализации предлагаемого способа.

К детали 1, деформацию которой замеряют, прикрепляют рабочий тензорезистор 2. К той

5 же детали посредством винтиков, заклепок, сварки или какого-либо другого устройства 3 прикрепляют упругую микробалочку / так, чтобы ее можно было прн помощи винта 5 деформировать. На схеме показана консольная

10 микробалочка, что является одним из возможных вариантов. В данном случае свободный конец микробалочки перемещают, вращая ьчшт а. На микробалочке закрепляют компенсационныйй полупроводниковый тензорезистор

15 6. Перед началом илн во время измерения мпкробалочку посредством винта 5 деформируют так, что деформация компенсационного тензорезистора во время наиболее ответственных измерений адэкватна деформации активного

2р тензорезистора. В таком случае температура оказывает одинаковое влияние на тензочувствптельность обоих тензорезисторов, т. е. влияние температуры компенсируется.

В тех случаях, когда замерясмая деформация детали является переменной величиной, адэкватность деформаций активного и компенсационного тензорезисторов нарушается, и компенсация является частичной. Полная

3р компенсация влияния температуры имеет ме305347

Предмет изобретения

Составители А. Босой

Редактор О. Юркова

Корректоры; М. Коробова и А. Абрамова

Техрсд Л. В. Куклина

Заказ 1917 7 Изд, ¹ 807 Тираж 473 Подписное

Ц11ИИПИ Комитета по делам изобретений н открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 сто в случае полной адэкватности деформаций активного и компенсационного тензорези TopoB, поэтому полная адэкватность деформаций имеет место при деформациях детали, замер которых проводят с максимальной точностью.

В целях расширения интервала компенсации целесообразна в качестве компенсационllblx применять тепзорезисторы с низким значением коэффициента тензочувствительности и с высоким значением коэффициента влияния температуры на тензочувствитсльность.

При помощи потенциомстра Ш, выравниваи т тсрмочувствительность рабочего и компенсационного тепзорсзисторов.

Способ компенсации влияния температуры на тснзочувствительность полупроводниковых тснзорсзисторов, заключающийся в том, что рабочий и компенсационный тензорезисторы устанавливают в месте измерения и соединяют их в смежные плечи измерительного моста, отличающийся тем, что, с цель|о повышения

10 точности компенсации влияния температуры на тензочувствительность полупроводниковых тснзорезисторов, компенсационный тензорезпстор закрепляют на упругой микробалочкс и деформируют так, чтобы деформация компенсационного тснзорсзистора была адэкватпа деформации рабочего тснзорсзистора.

Способ компенсации влияния температуры Способ компенсации влияния температуры 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерению и контролю напряжений в конструкциях любого типа

Изобретение относится к испытательной технике и имеет целью повышение точности способа определения изгибной жесткости объектов, изготовленных из композиционных материалов

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к средствам измерения деформаций конструкций летательных аппаратов при испытаниях на прочность

Изобретение относится к области автоматизации процессов взвешивания, дозирования и испытания материалов

Изобретение относится к средствам измерения динамической деформации, измеряющим динамическое деформируемое состояние инженерных конструкций

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам, контролирующим перемещение деталей машин, и может быть использовано в системах контроля машинами и оборудованием
Изобретение относится к электрорадиотехнике, а в частности к технологии изготовления прецизионных фольговых резисторов, а также может быть использовано при изготовлении резисторов широкого применения
Наверх