Индуктивный датчик толщины

Авторы патента:

G01B7/34 - для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

3I4 067

Союз Соеетскик

Социалистические

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 29 1Ч.1970 (№ 1431179/25-28) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 07.1Õ.1971. Бюллетень № 27

Дата опубликования описания 24.Х1.1971

МПК G 01b 7/34

Комитет по лелем изобретеииЯ и открытиЯ при Секете Миммстров

СССР

> ДК 531.717.1(088.8) Авторы изобретения

А. Ф. Некрасов, М. Н. Павлов и Л. В. Петров

Заявитель

ИНДЪ КТИВН61Й ДАТЧИК ТОЛЩИН61

Известен индуктивный датчик толщины, содержащий катушку индуктивности, включенную в резонансный контур и расположенную на поверхности контролируемого объекта.

Предложенный датчик отличается тем, что катушка индуктивности закреплена на эластичной основе, например пластмассовой пленке, расположенной на контролируемом покрытии.

Это позволяет контролировать покрытия, находящиеся в жидкой фазе на криволинейной поверхности.

На чертеже представлен индуктивный датчик толщины покрытий, находящихся в жидкой фазе. Он содержит пластмассовую пленку 1, с закрепленной тта ней катушкой индуктивности 2, .которые расположены на контролируемом покрытии 8 объекта 4.

Датчик функционирует следующим образом. Сопротивление, вносимое в катушку индуктивности 2, определяется зазором между ней и токопроводящим объектом 4. Величину этого зазора составляет также и толщина покрытия 8.

Таким образом, значение вносимого сопротивления в катушку индуктивности является параметром для измерения толщины покрытия предложенным датчиком.

10 Предмет изобретения

Индуктивный датчик толщины, содержащий катушку индуктивности, включенную в резонансный контур и pacnoëàãàåìóþ на поверхности контролируемого объекта, отличаюи1ийся тем, что, с целью контроля покрытий, находящихся в хкидкой фазе на криволинейной поверхности, катушка индуктнвностн закреплена на эластичной основе, например пластмассовой пленке, располагаемой на контролируемом покрытии.

314067

Составитель А. Духанин

Редактор Л. Народная Техред А. А. Камышникова Корректор Е. Н. Миронова

Заказ 3172/16 Изд. М 1332 Тира>к 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Я(-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Похожие патенты:

Патент 314066 // 314066

Устройство для контроля подшипников // 313076

Датчик толщины осадка // 309229

Контрольно-сортирующее устройство для листового материала12 // 303500

Устройство для контроля гальванически осаждаемого слоя // 301519

Способ оценки качества поверхности // 301518

Устройство для контроля толщины диэлектрического покрытия на проводящей основе // 299735

Фотоэлектрическое устройство для контролякрая ленты // 297859

Устройство для измерения длины движущегося ферромагнитного проката // 296949

Устройство для измерения прямолинейности // 279974

Датчик движения для обрабатывающего устройства // 2102699

Изобретение относится к средствам обнаружения движения активного устройства относительно поверхности для управления работой этого устройства при обработке поверхности

Способ определения плоскостности движущейся полосы материала // 2119643

Способ измерения шероховатости поверхности // 2133943

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки

Способ определения шероховатости поверхности детали при обработке на металлорежущем станке // 2163182

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при активном контроле шероховатости поверхности детали в процессе ее обработки преимущественно на станках токарной группы

Внутритрубный многоканальный профилемер // 2164661

Способ калибровки пьезосканера атомно-силового микроскопа // 2179704

Изобретение относится к области материаловедения, точнее к исследованию поверхностной структуры кристаллов и пленок в мезоскопическом диапазоне размеров методом атомно-силовой микроскопии и прецизионному инструментарию для научных и производственно-технологических исследований

Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с инвертированным оптическим микроскопом // 2180726

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете

Способ определения микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента // 2187070

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Способ измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с использованием сканирующего зондового микроскопа // 2193769

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а именно к способам измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с применением сканирующего зонда (атомно-силового микроскопа, магнитосилового микроскопа)

Пьезоэлектрический акселерометр // 2196997

Изобретение относится к транспортной измерительной технике и предназначено для использования при измерении ускорения автомобиля в системе электронного управления двигателем