Способ диагностики низкотемпературной плазмы
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
315103
Союз Советских
Социалистических
Республик
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”
Заявлено 31.111.1970 (№ 1420932/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 21 1Х.1971. Бюллетень ¹ 28
Дата опубликования описания 02.XI.1971
МПК G Oln 23/02
Комитет по дела изобретеиий и открытий при Совете Министров
СССР
УДК 533.9.08(088.8) Авторы изобретения
Л. Н. Пятницкий и В. В. Коробкин
Энергетический институт им. Г. М. Кржижановского
Заявитель
СПОСОБ ДИАГНОСТИКИ НИЗКОТЕМПЕРАТУРНОЙ ПЛАЗМЫ
Изобретение относится к способам диагностики плазмы с низкими значениями концентрации и температуры заряженных частиц методом рассеяния света.
Известен способ диагностики .плазмы методом рассеяния света, собранного под двумя разными углами рассеяния, заключающийся в получении сигналов, пропорциональных интенсивности рассеянного света.
Известный способ имеет тот недостаток, что, в случае низкотемпературной плазмы, при низких концентрациях и температурах заряженных частиц, паразитная засветка от центральной линии, находящейся на линии зондирующего излучения и обусловленной наличием рассеяния на нейтральных и гетерогенных частицах, присутствующих в плазме, препятствует надежной регисграции электр >ни;:й компоненты спектра рассеяния.
Целью данного изобретения является устранение этого недостатка.
Достигается это тем, что регистрируют сигнал, пропорциональный разности интенсивностей спектров, рассеянных под разными углами. При этом углы рассеяния подбираюг так, чтобы интенсивности спектров на частоте зондирующего излучения были равны, а спектральные распределения электронных компонент в достаточной для регистрации степени отличались друг от друга..,Предложенный способ основан на результатах экспериментальных исследований, согласно, которым установлено, что в низкотемпературной плазме спектральное распределение электронной компоненты сильно зависит от угла рассеяния, тогда как спектр, обусловленный указанными паразитными засветками, с изменением угла рассеяния практически остается неизменным. Благодаря этому можно
1р подобрать такие два угла рассеяния,,при которых разность спектров рассеяния будет состоять в основном из электронной компоненты.
Таким образом, способ измерения заключается в следу ющем. В соответствии с индикатрисой рассеяния света на нейтральных и гетерогенных частицах подбира;от такие углы рассеяния, при которых интенсивности указан2О ных видов рассеяния одинаковы. Из всех возможных пар углов используют такую, для которой различие в спектральном распределении электронной компоненты при прочих равных условиях возрастает с увеличением раз25 ницы между углами рассеяния. Затем регистрируют сигналы, пропорциональные разности интенсивностей спектров, рассеянных под двумя выбранными углами, и по спектру разности электронных компонент определяют пара30 метры элекгронов плазмы.
315103
Предмет изо бретения
Составитель Б. Кононаа
Редактор И, В. Квачадзе Техред 3. Н. Тараненко Корректор Л. А. Царькова
Заказ 3154/4 Изд. М 1325 Тираж 473 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2
Способ диагностики низкогемдературной плазмы методом рассеяния света, заключающийся в регистрации спектра рассеянного света, собранного под двумя разными углами рассеяния и получении сигналов, пропорциональных интенсивности рассеянного света, отличающийся тем, что, с,целью создания возможности регистрации электронной компоненты спектра рассеяния на фоне большой засветки от рассеяния на гетерогенных частицах, присутствующих в низкотемпературной плазме, регистрируют сигнал, пропорциональный
5 разности интенсивностей спектров, рассеянных под разными углами, при этом углы рассеяния подбирают так, чтобы интенсивности спектров на частоте зондирующего излучения были равны.
