Фотоэлектрическое устройство для обнаружения дефектов

 

Союз Советских

Социалистических

Республик

ОП ИКАНИЕ

И ЗОБ РЕТ Е Н Ия

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 13.V11.1970 (№ 1460319/25-28) с присоединением заявки ¹

П р и ор.итет, М. Кл. G 01 и 21 32

Еомитет flo делам изобретекий и открытий лри Совете Министров

ССЕР

Опубликовано 23.Х11.1971. Бюллетень ¹ 2 за 1972

УДК 531.715.3:53 I.717.53 (088.8) Дата опубликования описания 1.III

"оли- - яу е p„Ь

Авторы изобретения

М. М. Мавлютов и В, С. Гребнев

Казанский научно-исследовательский технологический и проектный институт химико-фотографической промышленности

Заявитель

ФОТОЭЛ ЕКТРИЧ ЕСКОЕ УСТ POЙ СТВО

ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ

Изобретение относится к контролю качества плосыих поверхностей и дефектов в толщине пленочных прозрачных и полупрозрачных материалов и может быть использовано в фотографической, бумажной;и текстильной промышленности.

Известно фотоэлекгр ичеокое устройство для обнаружения дефектов, содержащее источник света, призму, установленную в потоке света, вращающийся отражатель, расположенный в преломленн ом пр|измой потоке света, неподвижный отражатель, воспринимающий поток света от вращающегося отражателя и направляющий его на контролируемый объект, фотоэлектрический преобразователь, установленный,в потоке света, прошедшего через контролируемый объект, при зму, расположенную в потоке света, отраженного от контролируемого объекта, .и фотоэлектрический преобразователь, воспринимающий поток света, преломленный этой .призмой.

Однако надежность дефектоскопии этим устройством недостаточная ввиду нестабильности сканирующего потока света, создаваемого многогранным дисковьгм вращающимся отражателем, С целью повышения надежности дефектоскопии з .предложенном устройстве вращающийся отражатель выполнен в виде цилиндра, отражающий торец которого расположен под острым углом относительно другого торца, а неподвижный отражатсль выполнен в вндс торонда, внутренняя отражающая поверхность которого представляет собой поверхность усе5 IPIIIIQI о IcoIIУса.

Иа чертеже показана блок-схема првдложсиного устройства.

Устройство содержит осветитель 1, две призмы 2 и Л, установленные на двух стекIÎ лянных пластинках 4, вращающийся отражатель 5, тороид 6 с внутренней зеркальной поверхностью, фотоэлектрические преобразователи 7 и 8, кодьцедержатель 9 и установленный в сканирующем потоке света контролиру15 емый материал 10. Торопд может быть:изготовлен нз стекла с отражающим покрытием или же из металла с полировкой, внутренней поверхности. Внутренний диаметр тороида определяется шириной контролируемого мате20 риал",, а высога — диаметром подающего сзстового потока.

По конструктивным соображениям внутренняя поверхность тороида может быть .выполнена конической или цилиндрической. При контроле матсриалов только на просвет призма 8 и фотоэлектрический преобразователь 7 отсутствуют.

Работает устройство следующим образом.

Сходящийся поток света осветителя с по30 мощью призмы 2 направляется в центр вра324559

11редмст изобретения

Со Г;I!)))T).)!), А. Духан))н

Р, (в!((о:H, Ма)<арова Т .;рсд Л. Богданова 1),орр )сгорв! А. Цары.ова в Е. Усова

Зва 3 Зо1 Ивд.. () 1845 T!!;,)(О)(I 18 Подп))с ос !

111111!((11 1kÄ)l)):. и,::0 .",.:::)! ".нов ). )с:,))!!; о)(, û; ))(! ".;) (в))с)()),! ..:),: l!)! ((:(:!)

1ьо! (I!;!, /К-:15), 1)!t L ill! к;!)! ))!)!).. д 4 :) ()В) ):! ".в;! д)!" 1 !) .!I К))..")о)! с. ). ) ) )); !. !! "0 в! щси. 1я отражателя параллельно оси вра(цеци5(; Отра/кеиный 01 Враща10щегocsI QTpBEIIdтеля луч света падает на внутреннюю поверхность тороида II, отражаясь от нее, направляется иа контролируемый материал например, фотопленку; последний протягивается з фокальной плоскости осветителя (Л EI Л j ..

11ри попадании на пути светового,потока каких-либо оптических неоднородностей EIB выходе фотоэлсктричооких преобразователей возникают, импульсные сигналы, которые можно использовать для автоматизации технолотнг!ЕСКОГО ПроЦЕССа. Частота СКЯНИРОЗаппя;1)ча определяется размером пятна 113 контролируемом материале и скоростью движения матер!нала.

Фотоэлектрическое устройство для обнаруэксиия дефектов, содержащее исто(пик света, призму, установленную в потоке света, вращающийся отража)тель, расположенный в преломленном призмой потоке света, неподвижный отражатель, воспринимающий поток све) та от вращгпощегося отражателя и направляющий его на контролируемый объект, фотоэлск(риг(сс)вий преобразователь, установленный в по"îêå света,,прошедшего через контро,шрусмый объект, призму, расположенную в

1(1 потоке света, отраженного от,KoHTpo;I!Elpóåìoro об ьскта, и фотоэлектрический преобразователь, 11оспринимающий поток света, преломленный этой пр)измой, огличаюи1ееся тем, что, с целью повышения надежности дефекто18 скогпш, вращающийся отражатель выполнен в виде ц)илиндра, отражающий торец которого расположен под острым углом относительио другого торца, а неподв(ижный отражатель выиолиен в виде тороида, внутренняя отража2() (ощ<151 поверхность которого представляет собой поверхность усеченного конуса.

Фотоэлектрическое устройство для обнаружения дефектов Фотоэлектрическое устройство для обнаружения дефектов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому приборостроению

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в фотографической, бумажной, текстильной и металлообрабатывающей промышленностях для проверки качества движущихся ленточных гибких материалов

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к отделочному производству текстильной промышленности, а именно к устройствам контроля качества поверхности текстильных полотен, в частности, при отделке полотен на печатных валах, и может быть использовано в браковочных отделах ткацкого и отделочного производств

Изобретение относится к оптическим дифракционным методам неразрушающего контроля структурных геометрических периодических параметров непрозрачных тканых полотен любой природы, а также может найти применение при контроле любых пропускающих свет или не пропускающих свет плоских текстильных полотен, которые недоступны для непосредственного дифракционного анализа, но доступы для фотографирования, например музейные тканые образцы

Изобретение относится к устройству и способу контроля поверхности объекта для идентификации поверхностных характеристик типа дефектов структуры

Изобретение относится к оптическим дифракционным методам неразрушающего контроля структурных геометрических периодических параметров тканных или трикотажных полотен любой природы и может найти применение при контроле любых не пропускающих свет плоских материалов, имеющих на поверхности оптический периодический рельеф, которые недоступны для непосредственного дифракционного анализа, но доступны для ксерокопирования
Наверх