Электромагнитный дефектоскоп

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республи»

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 11.XII.1970 (№ 1604281/25-28) с присоединением заявки ¹â€”

Приоритет

Опубликовано 07.Ч11.1972. Бюллетень № 21

Дата опубликования описания 18.VII.|972

М. Кл. G 01п 23/24

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 620.179.142 (088.8) Авторы изобретения

В. И. Татаринов, И. К. Гипсман, Н. В. Рабодзей, В. П. Ковалев, А. М. Каблуков и В. И. Филатов

Заявитель

ЭЛЕКТРОМАГНИТНЪ|Й ДЕФЕКТОСКОП

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для исследования изделий из диэлектриков путем их просвечивания электромагнитным излучением

СВЧ.

Известны электромагнитные дефектоскопы, содержащие излучатель и приемник электромагнитной энергии, механизм спирального сканирования плоскости контролируемых изделий и регистрирующее устройство, фиксирующее обнаруживаемые дефекты на экране приемной электроннолучевой трубки.

Неравномерная мгновенно-поступательная скорость спирального сканирования изделий и развертывания их изображений приводит к изменению видеосигнала от центра к периферии, к увеличению яркости в центре экрана приемной трубки. Коррекция радиотехническими методами видеосигнала и яркости свечения трубки усложняет аппаратуру, уменьшает отношение сигнал/шум и, следовательно, чувствительность.

Цель изобретения — увеличить чувствительность и повысить качество изображения, а также упростить регистрирующее устройство дефектоскопа;

Для этого между точечным источником света и электроннолучевой трубой установлена перпендикулярно оптической оси пл астина с прозрачностью, изменяющейся пропорциональ2 но радиусу расположения точечного источника света.

Благодаря этому произведение освещснности на время экспозиции при проектирова5 нии изображения точечного источника света на мишень запоминающей передающей электроннолучевой трубки не зависит от радиуса спирали сканирования.

Отношение сигнал/шум остается постоянным

10 по всему полю изображения, поэтому отпадает необходимость в устройствах коррекции видеосигнала.

На чертеже дана схема дефектоскопа. Он содержит генератор 1, излучающую 2 и

15 приемную 3 антенны, электронную систему индикации 4 и телевизионную, состоящую из передающей запоминающей трубки б и видеоконтрольного устройства б. Кроме того, дефектоскоп имеет механизм спирального ска20 нирования, включающий предметный стол 7, на котором размещено изделие 8.

Механизм для развертывания изображения контролируемого изделия обеспечивает перемещение по спирали точечного источника све25 та 9 синхронно с перемещением предметного стола. Между точечным источником и светоделительным устройством 10, проектирующим изображение на трубку и фотоаппарат 11 размещена пластина 12 с переменной пр

30 зрачностью.

344339

Составитель Л. Савенко

Редактор Л. Народная Техред Т. Ускова Корректор Е. Михеева

Заказ 2190/16 Изд. № 933 Тираж 406 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Дефектоскоп работает следующим образом.

Электромагнитные волны, излучаемые генератором 1 и антенной 2, проходят сквозь изделие 8, расположенное на предметном столе

7, движущемся по спирали, и воспринимаются приемной антенной 8.

Видеосигнал с электронной системы индикации 4 поступает на точечный источник света 9, яркость которого пропорциональна плотности потока электромагнитных волн, прошедших сквозь изделие 8. Точечный источник света движется по спирали синхронно с перемещением предметного стола 7 с изделием, и его изображение через пластину 12 проектируется светоделительным устройством 10 на мишень запоминающей трубки 5 и на пленку фотоаппарата 11, где записывается дефектограмма.

Видеосигнал с мишени запоминающей трубки поступает на модулятор трубки видеоконтрольного устройства б, на экране которой возникает также дефектограмма, наблюдаемая оператором, 5 Предмет изобретения

Электромагнитный дефектоскоп, содержащий генератор СВЧ колебаний с излучающей антенной, приемник излучения, механизм спирального сканирования плоскости изделия, 10 регистрирующее устройство, включающее электроннолучевую трубку и точечный источник света, отличающийся тем, что, с целью упрощения регистрирующего устройства и повышения чувствительности, он снабжен уста15 новленной перпендикулярно оптической оси между точечным источником света и электроннолучевой трубкой пластиной с прозрачностью, изменяющейся пропорционально радиусу расположения точечного источника све20 та.

Электромагнитный дефектоскоп Электромагнитный дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для неразрушающего контроля состояния поверхности конструкционных материалов и изделий и может быть использовано в различных отраслях машиностроения и приборостроения
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к контролю поверхности металлических сооружений и объектов и может быть использовано для обнаружения и контроля развития дефектов на поверхностях металлических сооружений и объектов, установленных в коррозионных средах различной степени агрессивности в условиях подземного, атмосферного, морского или речного воздействия, в частности для обнаружения и контроля развития трещин на покрытых изоляций поверхностях нефте- или газопроводов

Изобретение относится к методам и технике неразрушающего контроля, например с помощью сверхвысоких частот, и предназначен для обнаружения дефектов в стенах и перекрытиях строительных сооружений при одностороннем доступе и может найти применение для обнаружения инородных металлических или диэлектрических предметов искусственного или естественного происхождения, в том числе расположенных за металлической арматурой, или закрепленных непосредственно на арматуре, или расположенных между прутками арматуры, со стороны противоположной направлению облучения электромагнитным сигналом, и в частности, в стенах строительных сооружений, выполненных по технологии цельнозаливных железобетонных конструкций

Изобретение относится к методам и технике неразрушающего контроля, например с помощью сверхвысоких частот, и предназначено для контроля дефектов в стенах и перекрытиях строительных сооружений, в частности армированных, при одностороннем доступе и может найти применение для обнаружения инородных металлических или диэлектрических предметов искусственного или естественного происхождения, расположенных за металлической арматурой, или закрепленных непосредственно на арматуре, или расположенных между прутками арматуры, со стороны противоположной направлению облучения электромагнитным сигналом, и в частности, в стенах строительных сооружений, выполненных по технологии цельнозаливных железобетонных конструкций

Изобретение относится к методам и технике неразрушающего контроля, например с помощью сверхвысоких частот, при одностороннем доступе к контролируемому объекту, и может найти применение для обнаружения в стенах и перекрытиях строительных сооружений инородных металлических или диэлектрических предметов искусственного и естественного происхождения, в том числе расположенных за металлической арматурой или закрепленных непосредственно на арматуре, или расположенных между прутками арматуры со стороны, противоположной направлению облучения электромагнитным сигналом, и, в частности, в стенах строительных сооружений, выполненных по технологии цельнозаливных железобетонных конструкций, а также скрытых дефектов в виде пустот и трещин, металлической арматуры, санитарно-технических коммуникаций, кабельных магистралей, электрических и телефонных проводок

Изобретение относится к области подповерхностной радиолокации

Изобретение относится к устройствам неразрушающего контроля и может использоваться для обнаружения неоднородностей в строительных конструкциях

Изобретение относится к области обнаружения локальных дефектов в проводниках с использованием акустической эмиссии и может найти применение для выявления скрытых локальных дефектов в различных металлических конструктивных элементах, находящихся в статическом состоянии или в процессе движения

Изобретение относится к дефектоскопии с помощью СВЧ-волн и может найти применение для обнаружения неоднородностей в различных твердых средах, определения их расположения и геометрических форм
Наверх