Электронно-оптическая система

 

Класс 21 а, 32

Гд(ПАТЕНТ НА ИЗОБРЕТЕНИЕ

ОПИСАНИ E электронно-оптической системы.

К патенту ин-ной фирмы „Телефункен, о-во беспроволочной телеграфии с огр. отв." (Telefunken Gesellschaft fur drahtlose Telegraphic m. Ь. Н.), в г. Берлине, Германия, заявленному 14 июля 1934 года (спр. о перв. ¹ 150867).

Действительный изобретатель ин-ц Макс Кнолль (Мах Knoll).

О выдаче патента опубликовано 31 октября 1935 года. действие патента распространяется иа 15 лет от 31 октября 1935 года. (3501

Настоящее изобретение касается устройства электронно-оптической системы для фокусирования расходящегося пучка электронов. Согласно изобретению это устройство основывается на таком расположении соответствующим образом заряженных электродов, помещаемых около электронного (или ионного) пучка, при котором фокусирование его имеет место лишь в одной плоскости. В плоскости же, перпендикулярной к таервой, траектории электронных лучвй сохраняются прямолинейными.

На чертеже фиг. 1 и 2 схематически изображают в двух проекциях примерную форму выполнения предлагаемого изобретения; фиг. 3 — некоторое видо. изменение его.

Фокусирующая расходящийся пучок электронов система составлена из двух параллельных друг другу и оси В вакуумной трубки, внутри которо" они расположены, пластинок 11 и 12.

По отношению к стенкам покрытой металлическим слоем трубки пластинки 11 и 12 находятся под отрицательным потенциалом, Электронный пучок, проходящий в плоскости АА (фиг. 21, изображен своими крайними лучами 13, 14 (фиг. 1).

Эти последние при пересечении эквипотенциальных поверхностей, показанных на чертеже пунктиром, фокусируются (на входе и выходе воздействующего устройства). При вступлении электронного пучка в зону пластинок 11 и

12 воздействие их таково же, как и по выходе из них; вследствие этого, понятно, повышается сходимость лучей 13 и 14, расположенных в плоскости АА. Таким образом, катодные лучи покидают зону электродов 11 и 12, располагаясь внутри угла, ограниченного крайними лучами 13, 14 .

В плоскости, перпендикулярной к плоскости АА, обозначенной на фиг. 1 через ВВ, отклонение катодных лучей совершенно не имеет места. Эквипотенциальные поверхности пересекаются катодными лучами, лежащими в плоса,,3

Фиг. 3 о. кости ВВ как раз перпендикулярно к ним.

В том случае, если к изображенному на фиг. 1 и 2 устройству из двух электродов добавить еще два электрода, расположенных перпендикулярно к первой паре, т. е. снабдить трубку двумя взаимно перпендикулярными парами пластин (аналогично двум скрещенным цилиндрическим линзам) 11а, 12а и 1И, 12b, и зарядить обкладки каждой пары до одинаковых потенциалов, то представится возможным получить этим прямоугольную форму сечения электронного пучка.

Очевидно, что настоящее изобретение применимо также и для фокусирования ионных лучей.

Предмет патента.

Электронно-оптическая система, аналогичная по своему действию оптическим цилиндрическим линзам, Отличающаяся тем, что фокусирующая расходящийся пучок электронов система составлена из двух параллельных пластинок, находящихся внутри цилиндрического электрода и имеющих одинако. вый потенциал.

2. Форма выполнения системы по и. 1, отличающаяся применением двух взаимно перпендикулярно расположенных пар пластин, аналогично двум скрещенным цилиндрическим линзам.

Тии. „ ромполи-раф", la. áîèf:ак, i2, Рак. Я53

Электронно-оптическая система Электронно-оптическая система 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому волокну, содержащему флюоресцентные стимулирующие добавки, обеспечивающие усиление передаваемого оптического сигнала, воспринимаемого этим волокном, и устраняющие излучения с желательной длиной волны, генерируемые внутри него в результате спонтанной эмиссии

Изобретение относится к телеметрии и радиотехнике и может найти широкое применение в космической и авиационной промышленности для проведения контроля параметров динамических процессов, а также при эксплуатации высотных зданий и сооружений

Изобретение относится к сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к способам измерения отклонения консоли зонда сканирующего зондового микроскопа (СЗМ), оснащенного оптическим объективом для наблюдения исследуемой области образца
Наверх