Способ устранения воздействий посторонней облученности при светотехническом контроле поверхности материала

 

"1 ".

ОnИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН Ия

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (ц 470736

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 12.06.73 (21) 1929216/29-33 с присоединением заявки Х (32) 11риоритет (51) М. Кл. G 01п 21/02

Государственный комитет

Совета Министров СССР

Опубликовано 15.05.75. Бюллетень М 18 по делам изобретений (53) УДК 620.1(088.8) и открытий

Дата опубликования описания 20.08.75 (72) Авторы изобретения

Н. И. Згуровская, P. И. Карилер, В. A. Римм и В. И. Халликсоо (71) Заявитель

Государственный научно-исследовательский и проектный институт силикатного бетона автоклавного твердения (54) СПОСОБ УСТРАНЕНИЯ ВОЗДЕИСТВИЙ ПОСТОРОННЕЙ

ОБЛУЧЕННОСТИ ПРИ CBElОТЕХНИЧЕСКОМ КОНТРОЛЕ

ПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛА

Изобретение относится к промышленности строительных материалов, а именно к светотехническому контролю поверхности материалов при изготовлении силикатной смеси и может быть использовано на заводах силикатного кирпича, Известен способ устранения воздействий посторонней облученности при светотехническом контроле поверхности материала, заключающийся в облучении контролируемой поверхности модулированным измерительным лучом.

Согласно известному способу, поверхност ь материала облучается попеременно монохроматическим излучением с двумя (или больше) длинами волн, отраженное от поверхности излучение подается на приемник излучения, выходной сигнал ко" îðîãî подается через конденсатор на вход измеригельпой схемы.

Недостатками такого способа являются «l»достаточное устранение воздействий от переменных составляющих посторонних источников, уменьшение полезного сигнала из-за дополнительного интерференционного. фильтра перед приемником излучения и возникновение дополнительной погрешности при большом уроне постороннего облучения, перемещающей рабочую точку приемника на нелинейный участок его энергетической характеристики.

Отмеченные воздействия увеличиваются при большом расстоянии между прибором и измеряемым материалом, особенно в заводских условиях производства стройматериалов.

Цель изобретения — повышение точности и стабильности измерений.

Это достигается тем, что в предлагаемом способе измерительный луч первично модулируют неселективно и подают на поверхность материала, а отраженный луч через селективный модулятор подают на приемник излучения, выходной сигнал которого фильтруют волосовым фильтром, настроенным на частоту первичной неселективной модуляции, На чертеже приведена схема описываемого способа.

11остоянный лучистый поток исгочнвка 1 (например, лампы накаливания) модулируюг первично неселекгивным модулягором 2, и модулированный луч 3 подают на поверхность измеряемого материала -г. Отраженный or поверхности материала луч 5 проходит через селективный модулятор b и воспринимается приемником излучения 7 (например, фоторезистором), Вторичный модулятор б модулирует луч попеременно измерительными длинами волн (например, при помощи селективных фильтров). Выходной сигнал приемника излучения (электрический ток илп напряжение) фильтруют полосовым фильтром 8, который

30 настроен на частоту первичного модулятора

470736

2. Выходной сигнал полосового фильтра 8 подают на вход измерительной схемы 9, которая содержит усилитель и узлы для проведения математической обработки сигналов.

На поверхность измеряемого материала 4 падает также излучение посторонних источников 10, которое имеет постоянную и переменную составляющие амплитуды по времени.

Таким образом, суммарная облученность поверхности материала состоит из переменной составляющей модулированного лу га 3 постоянной и переменной составляющих посторонних источников 10. При данной мощности источника 1 на поверхности материала достигается наибольшее отношение амплитуд облученности от модулированного луча 3 и от посторонних источников 10, так как неселективный модулятор 2 только прерывает !1чистый поток, не уменьшает его силы при пропускании. Через селективный модулятор

6 проходит излучение отраженного луча 5 только с теми длинами волн, которые пропускаются его селективными элементами. Таким образом, на приемник излучения 7 воздействует только та часть (или полоса) излучения посторонних источников 10, которая пропускается селективными элементами модулятора 6, чем достигается наименьшее воздействие постороннего излучения. Это является эффективным при высоком уровне облучепности поверхности материала посторонними источниками, так как мощность излучения увеличивается с расширением его спектра и может перевести (или переместить) рабочую точку приемника излучения на нелинейный участок ее энергетической характеристики.

Выходной сигнал приемника излучения 7 содержит переменную составляющую модулированного луча 3 и постоянную и переменную составляющие посторонних источников 10. Полосовой фильтр 8, настроенный на частоту первичного модулятора 2, пропускает только переменную составляющую луча 3. Этим устраняется воздействие на измерительнук) схему 9 тех сигналов от посторонних источник)H. I:!. стота которых находится вне полосы пропуска ния фильтра 8. Воздействие шумового с«-.пяля самого приемника 7 ограничивается также полосой пропускания фильтра 8. Ширину полосы пропускания этого фильтра следует подобрать наиболее узкой, но это ограничивает частоту

5 !3торнчной модул5!ц1!и.

На поверхность измеряемого материала подают неселективно модулированный луч 3 который обычно содержит также спектр видимого света, чем достигается обнаруживаемость

10 измеряемого участка материала невооруженным глазом. Это упрощает настройку и экснлуяпг щию прибора.

В качестве неселективного модулятора мо>кет быть использован вращающийся металли15 ческий диск с отверстиями, с частотой модуляции, например, 300 Гц, а в качестве селективного модулятора — вращающийся металлический диск с интерференционными фильтрами длины волн 1,7 и 1,9 мкм, полосой пропускя20 ия +-0,1 мкм и частотой модуляции 20 Гц. В качестве приемника излучения х!ожет быть использован фоторезистор, напряжение с которого подается на вход полосового фильтра, усилителя, настроенного на частоту 300 Гц с по 5 лосой пропускания +40 Гц. Выход !ой сигнал фильтра разделить при данных параметрах селективного фильтра следует ключами на дв 1 канала соответственно длинами волн и выпрямить. Разделительными ключами можно уп30 равлять при помощи синхросигньла с диска селективного модулятора.

Предмет изобретения

Способ устранения воздействий посторонней

35 облученности при светотехническом контроле поверхности материала, заключающийся в облучении контролируемой поверхности модулированным измерительным лучом, о т л и ч а ющи и с я тем, что, с целью повышения точно

40 сти и стабильности измерений, измерительньш луч первично модулируют неселективно и подают на поверхность материала, а отряжpllный луч через селективный модулятор пода!от нс! приемник излучения, выходной с!!Гll;lë !!оторого фильтруют полосовым фильтром, )настроенным ня частоту гн рвпчной неселектнв:.ой модуляции.

470736

2 1 /

Составитель В. Алекперов

Техред T. Курилко

Корректор Н. Аук

Редактор С. Байкова

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 1994/3 Изд. № 1436 Тираж 902 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Мшгистров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4 5