Устройство предварительной проверки полупроводниковых приборов

Авторы патента:

G01R31/26 - испытание отдельных полупроводниковых приборов (измерение содержания примесей G01N)

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (ii) 473133

Союз Соеетскщ

Социалистических, Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 06.07.73 (21) 1939635/26-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 05.06.75. Бюллетень ¹ 21

Дата опубликования описания 28.08.75 (51) Л!. Кл. G 01г 31/26

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 621.382.3 (088.8) (72) Автор изобретения

Ю. А. Горобец (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРЕДВАРИТЕЛЬНОЙ ПРОВЕРКИ

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

Изобретение относится к электронной технике.

Устройство предназначено для предварительной проверки полупроводниковых приборов и может быть использовано в классификаторах и других автоматических устройствах различного назначения.

Известно устройство для подключения электродов электронных приборов к измерителю параметров. Это устройство не позволяет одновременно с контролем ориентации электродов полупроводниковых приборов в контактном устроистве отбраковывать полупроводниковые приборы с постоянным коротким замыканием в электродных выводах или р-и-переходах. Кроме того, в случае КЗО р-и-перехода невозможно предохранить измеритель параметров от перегрузок.

Целью изобретения является отбраковка полупроводниковых приборов с постоянным коротким замыканием электродных выводов или р-и-перехода и одновременный контроль ориентации полупроводникового прибора в контактном устройстве.

Поставленная цель достигается благодаря тому, что в устройство, содержащее блок питания, измеритель параметров, блок составных транзисторов, блок ключей, подключающее и сортирующее устройс1ва, введены накопительные емкости, которые параллельно подключены к выходам транзисторов и ЯС-цепочками и последовательно через блок ключей к подключающему устройству.

На чертеже представлена олок вЂ” схема

5 предложенного устройства для предварительной проверки полупроводниковых приборов.

Устройство содержит блок питания 1, блок составных транзисторов 2, блок ключей 3, подключающее устройство 4, сортирующее

10 устройство 5, измеритель параметров о. Блок составных транзисторов 2 связан через блок ключей 3 с подключающим ус1ройством 4, с сортирующим устроиством 5 и измерителем параметров б.

I5 11ри подключении испытуемого полупроводникового прибора к устройству 4 составятся электрические цепи.

Ток потечет по цепи того составного тран20 зистора, проводимость которого совпадает с полярностью .включенного р-и-перехода. Так, при совпадении полярности включенного в цепь испытуемого р-и-перехода с проводимостью транзистора 7 транзистор 7 открывается, 25 заряжает емкость 8 и через резистор 9 заряжает емкость 10. Открывается транзистор 11, и сигнал поступает на блок ключей 3, ко1орые отключают цепи транзисторов 7, 11 от подключающего устройства 4 и производят

30 требуемое подключение электродных выводов

473133

Предмет изобретения

1 вЂ” г

Я ) Сосre;èråëü В. Авдонин

Редактор T. Сраов" ;..ë Te ред Е, Подурушина Корректор Н. Аук

Заказ 2023/19 Изд. ¹ 758 Тираж 902 Подписное

ЦНИИПИ Государственного ко.; итета Совета Министров СССР

të де,.a."e нзо01етенн1 и открытий

Москва, К-35, Раушская нао., д. 4j5

Типография, нр. Сапунова, 2 испытуемого полупроводникового прибора к измерителю параметров 6.

Прн СОВПадЕНИИ ПОЛярНОСтИ ВКЛ OrIO!IIIOIO В цепь испытуемого р-и-перехода с проводимостью транзистора 12, транзистор 12 открывается, заряжает емкость 13 и через резистор 14 заряжает емкость 15. Открывается транзистор

16, и сигнал поступает на блок кл Очей 3. Остальные операции аналОГичны изложенныъ1, При подключении к подключающему устройству 4 прибора, в котором происходпт короткое замыкание в р-и-переходе или электродных выводах, в положительный полупсриод переменного напряжения блока питания

1 откроются транзисторы 12, 16 и зарядятся емкости 13, 15, а в отрицательнь1й полупернод переменного напряжения откроются транзисторы 7, 11 и зарядятся емкости 8, 10. При поступлении гторого сигнала на блок ключей

3, последние отключат от испытуемого полупроводникового прибора цепи транзисторов 7, 11, 12, 16 и закоротят вход измерителя параметров 6. На сортирующее устройство 5 поступит сигнал, устройство сработает и отбракует испытуемый полупроводниковый прибор с коротким замыканием в электродных выводах или р-п-переходе.

Автоматическое устройство, созданное на основе предложенного устройства, позволило

5 поднять производительность более чем в

10 раз и увеличить выход годных приборов на

2,5%. Автоматическое устройство опробовано на транзисторах типа КТ-315 при циклах сортировки 10.000 транзисторов в час.

Устрой=тво для предварительной проверки полупроводниковых приборов, содержащее

15 блок питания, измеритель параметров, блок составных транзисторов, блок ключей, подкл1очающее и сортирующее устройства, отл ич а ю щ е е с я тем, что, с целью отбраковки коротких замыканий в р-и-переходе с . одно20 временным контролем ориентации прибора в контактном устройстве, оно содержит накопительные емкости, которые подключены параллельно к выходам составных транзисторов и RC-цепочкам и последовательно, через блок

25 ключей, к подключающему устройству.

Устройство предварительной проверки полупроводниковых приборов

Устройство для исследования вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов // 468549

Устройство для контроля неоднородности полупроводников // 468198

Способ определения величины объемного заряда перехода // 465602

Измеритель удельного тока тунельного диода // 463074

Способ защиты транзисторов от вторичного пробоя // 459747

Зонд для измерения емкостных характеристик диэлектрических и полупроводниковых структур // 458062

Устройство для измерения концентрации носителей тока в полупроводниках // 456203

Способ измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводнике мдп-структуры // 452792

Способ измерения параметров свч-транзисторов // 451027

Способ измерения падения напряжения на полупроводнике в мдпдм-структуре и устройство для его осуществления // 2101720

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Устройство для определения электрофизических параметров полупроводниковых пластин // 2101721

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Способ контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления элементов с вольтамперной характеристикой s-типа и устройство для его осуществления // 2105989

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Устройство для определения качества изготовления тиристоров // 2112989

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Установка для испытаний на радиационную стойкость // 2112990

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Способ определения поверхностного изгиба зон полупроводника s в мдп-структуре // 2117956

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Устройство и способ измерения поверхностного сопротивления полупроводниковых пластин // 2121732

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Установка для испытаний на радиационную стойкость // 2128349

Устройство для контроля светодиодов // 2130617

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Устройство диагностирования тиристорного преобразователя // 2133042

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим