Способ определения чистоты обработкиповерхности
тежсоюз
ЙАТс:...,.::: «@ бибттиотека МЬ l
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (») 508670
Союз Советских
Социалистических
Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 29.09.72 (21) 1832266/25-28 с присоединением заявки № (23) Приоритет
Опубликовано 30.03.76. Бюллетень № 12
Дата опубликования описания 25.05.76 (51) М. Кл б 01В 11/30
Государственный комитет
Совета Министров СССР до делам изобретений и открытий (53) УДК 531.717.8(088.8) (72) Авторы изобретения
В. В. Яковлев и С. Е. Ярцева
Ташкентский электротехнический институт связи (71) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ
ЧИСТОТЫ ОБРАБОТКИ ПОВЕРХНОСТИ
Изобретение относится .к области контрольно-измерительной техники.
Известны способы определения чистоты обработки поверхности, заключающиеся в том, что направляют световой поток на контролируемую поверхность и регистрируют световой поток, отраженный от нее. Однако они не учитывают составляющую света, поглощенную на контролируемой поверхности, которая различна для различных материалов, что вводит неконтролируемую ошибку в результаты измерения.
Цель изобретения — повышение точности измерения.
Для этого при испытаниях контролируему.ю поверхность поворачивают вокруг оси, перпендикулярной плоскости падения светового потока, регистрируют угол наклона, при,котором отраженный от нее световой поток будет
iM аксим альны м, затем регистрируют углы наклона, при которых отраженный световой поток будет составлять заданную часть, например, половину от максимального, и по алгебраической разности этих углов с помощью градуировочных кривых определяют чистоту обработки поверхности.
На чертеже показано устройство, реализующее описываемый способ.
Устройство содержит источник,1 света, коллиматор 2 и приемное устройство, состоящее из оптической системы 3, фотоэлемента 4 и микроамперметра. 5.
Процесс определения чистоты обработки поверхности по данному способу заключается в
5 следующем.
На контролируемую поверхность 6 направляют световой поток. Поворачивая образец, находят такое его положение, при котором показание микроамперметра 5 максимально, 10 снимают это показание. Наклоняют образец в одну сторону, пока показание микроамперметра 5 не станет вдвое меньше максимального, отсчитывают угол наклона, соответствующий этому положению образца. Наклоня15 ют образец в другую сторону и отсчитывают угол наклона, при котором показание микроамперметра вновь будет вдвое меньше максимального. По алгебраической разности этих углов с помощью градуировочных кривых оп20 ределяют чистоту обработки поверхности исследуемого образца.
Формула изобретения
Способ определения чистоты обработки по25 верхности, заключающийся в том, что направляют световой поток на контролируемую поверхность и регистрируют световой поток, отраженный от нее, отлич ающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, 30 поворачивают контролируемую поверхность
508670
Составитель О. Строганов
Техред T. Лященко
Редактор Т. Горячева
Корректор Л. Орлова
Заказ 1041/4 Изд. № 1216 Тираж 864 Подписное
ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2 вокруг оси, перпендикулярной плоскости падения светового потока, регистрируют угол наклона, при котором отраженный от нее световой поток будет максимальным, затем регистрируют углы наклона, при которых отраженный световой поток будет составлять заданную часть, например .половину от максимального, и по алгебраической разности этих углов с помощью градуировочных кривых оп5 ределяют чистоту обработки поверхности.
