Интерференционный фильтр

 

и 539284

ОПИС

АНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

Союз Советских

Социалистических

Реслублнк

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 01.04.75 (21) 2118640/10 с присоединением заявки ¹ (23) Приоритет

Опубликовано 15.12.76. Бюллетень ¹ 46

Дата опубликования описания 22.12.76 (51) М. Кл.-" б 02В 5/28

Государственный комнтет

Совета Миннстров СССР ло делам изобретений н открытнй (53) УДК 535.345.6 (088.8) (72) Автор изобретения

А. П. Лаврищев (71) Заявитель (54) ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫй ФИЛЬТР

Изобретение относится к области оптического приборостроения, в частности к узкополосным интерференционным фильтрам.

Известны интерференционные фильтры, содержащие две или несколько групп чередующихся слоев диэлектриков с высоким и низким показателем преломления и толщиной в четверть длины волны(1, 2).

Известен также интерференционный фильтр, содержащий подложку, прозрачную в задан- 1р ной области спектра, с нанесенным на нее покрытием, выполненным в виде двух многослойных зеркал с чередующимися слоями с высоким и низким показателями преломления, причем толщина слоев равна четверти длины волны, разделенных промежуточным слоем, толщина которого кратна половине длины волны (3).

Однако известный фильтр имеет недостаточно высокий коэффициент пропускания при поо луширине полосы пропускания менее 10 — 15 А ввиду значительных потерь на поглощение и рассеяние при большом числе слоев покрытия. 25

Для улучшения и обеспечения стабилизации оптических характеристик предлагаемого фильтра в нем слои первого зеркала, промежуточный слой и граничащий с ним слой второго зеркала выполнены из окислов, напри- Зр мер, тантала и кремния, а остальные слои второго зеркала — из диэлектриков, например, из сернистого цинка н криолита, причем показатель преломления диэлектрика с высоким показателем преломления больше соответств юшего показателя преломления окислов, а показатель преломления диэлектрика с низким показателем преломления мсньше соответствующего показателя окислов.

На чертеже представлена схема предложенного интерференцнонного фильтра.

Интерфсренцнонный фильтр содержит оп1, IIP03PBLlHXlo B заданной области спектра, на которую нанесено покрытие в виде многослойных зеркал 2 и 3, разделенных промежуточным слоем 4. Многослойное зеркало 2 выполнено из чередующихся слоев 5 и 6 окислов с высоким 11 H и низким ц показателями преломления, например, из окислов тантала и кремния, причем толщина слоев равна 1/4Х. Зеркало 3 содержит чередующиеся слои диэлектрика 7 и 8 толщиной

1/4 Х с высоким и", и низким и" показателя.нн прело.,;лсння соответственно, например, нз сернистого цинка н крполита (фторис.ого магния). Промежуточный слой 4 имеет толщину, кратную 1/22.. При этом промежуточный слой 4 и граничащий с ним слой 9

5391 э84

Формула изобретения

).,!

»1.А;У. .. .;;, э 1 б

1% .; ! З . !)

). р,;

1 !!)с,", .,!. ):.!е!))е )аи

1эедактор С. Хейфиц!

») i! j: "!.т .) i) 1. A) и ча..:;а 3004 15 11»,. Л" оа

Ц1.! 11 1 1 !)!., 7.:i) i i! .!: )з! О е.,: Ti а Сс!!)c а )!.)! å!.Ñ.1 =! ССС1 зеркала 3 выполнены из окислов, Показатели преломления окислов и,, и и и диэлектр:i/ П ков и и и удовлетворяет оотпо гиен)по ин.- и, и.с:>ил.

Предложенная конструкция позволяет уменьшить общее количество слоев ITo срав— нению с фильтрами, целиком состоящ:!*ми из

ОкислОВ и тем самым с01срат11 1 ь т)зудоеы1сость их изготовления.

Предлагаемый фильтр может быть выполнен с повьш1енным пропусканием при пслуширине полосы пропускапия менее 110 — 15:"E.

Интерференционный фильтр, содержащий подложку, прозрачную в заданной области спектра, с нанесенным на нее покрытием, I:Iiполненным в виде двух многослой:)ых зеркал с чередующимися слОями с высоким н низким показателями преломления, причем толщина слоев равна четверти длины Волны, разделенных промежуточным слоем, толщгп1а которого кратна половине длины голны. о т л и ч а ющи и с я 1ем. »то, с цел.ю улучшения и обесire»аши стабплизац1ш оптических характерист1,к, слои первого зеркала, промежуточный слой и граничащий с ним слой зторого зеркала выполнены пз окислов, например, тантала

ii кремния, а остальные слои второго зеркала — из диэлектриков, например, из сернис1)1 i О! О i;liiiк;i !. Криол11та, п1зичем показате Ib преломления диэлектрика с высоким показателем прело!Iiråiièÿ больше соответствующего показателя преломления окислов, а показатель преломления диэлектрика с низким показате1з лем преломления меньше соответствующего показателя преломления окислов.

Исто»пики шформацпи, принятые во внимание при экспертизе:

?0 1. АВ1. св. Л" 384090, М. кл. G 02В 5з/28, 1971.

2. Лвт. св. ¹ 365674, М. кл. G 02В 5!28, P 1

3. 7Kóði.a;r «Оп Ii«E)-механическая 11ромыш. зз лепность», 1974. ¹ 5, стр. 43 (прототип).