Способ исследования структуры тел в шлифах

 

Союз Советскнк

Социалистическим

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 130677 (21) 2498580/18-25 с присоединением заявки ¹(23) ПриоритетОпубликовано 150179.Бюллетень ¹ 2

Дата опубликования описания 15.01.79 (51) М. Кл.

Q 01 N 21/40

Государственный комитет

СССР но делам изобретений и открытий

{53) УДК 535. 525. 1 (088. 8) (72) Авторы изобретения 1иркин, В.Б.Татарский и М.Д.Толка

Ленинградский ордена Ленина и ордена

Знамени государственный университет и и Всесоюзный научно-исследователь геолого-разведочный институт (71) Заявители (54) СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ ТЕЛ

В ШЛИФАХ

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в геологии при изучении структур горных пород, в горнодобывающей промышленности при оценке запасов полезных ископаемых и оценке технологических параметров их добычи, при производстве инженерно-геологических работ, при оценке качества естественных и искусственных материалов и пр.

Известны способы изучения структуры тел путем получения микроскопического изображения структуры тела с последующим дифференцированием ее на

15 отдельные составляющие элементы (поры, трещины, минеральная часть).

По способу определения пористости тел по шлифам (11получают микрофотографии пор исследуемого тела через поля20 ризационный микроскоп с вращением плоскости поляризации света на 90О и количественный анализ микрофотографии путем фотометрирования.

Для этого способа характерна по25 грешность количественной оценки, возникающая за счет неконтрастности темноокрашенных элементов и наличия в поле зрения изотропных сечений анизо30 тропных минералов.

Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к предлагаемому изобретени является способ t2j, при осуществлении которого производят просвечивание шлифа поляризованным по кругу светом, обратное круговое преобразование света, фильтрацию светового потока анализатором, регистрацию полученного изображения и качественную оценку компонентов структуры.

Недостатком способа является погрешность при количественной оценке структуры тела за счет изотропных сечений анизотропных минералов, что снижает точность исследований. Фотографическая регистрация изображений приводит к низкой производительности исследования

Целью изобретения является повышение точности и производительности исследования структуры тела в шлифах.

Поставленная цель достигается тем, что по предлагаемому способу регистрацию изображений производят при различном угле наклона шлифа относительно светового потока, дополнительно регистрируют изображение без анализатора, совмещают полученное изображение с изображением различных ком642635

Составитель A.Ñàâ÷åíêî

Техред И.вабурка Корректор В.Кривошапк

Редактор И,Шубина

Заказ 7748/42 Тираж /дЯ Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, йосква, ж-35„. Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП Патент, г.ужгород, ул. Проектная, 4 понент структуры и о совмещенным изображениям производят количественную оценку каждого компонента структуры.

Кроме того, с целью устранения погрешностей, зависящих от наличия в шлифе неконтрастных элементов структуры, изменяют разность хода световых потоков, регистрируют изотропные зоны по цвету прошедшего через указанные зоны, света.

)О

Способ реализуется следующим образом.

Исследуемый шлиф пористого тела помещают на вращающийся предметный столик (типа Федоровского), который также)5 может менять угол наклона относительно оси поляризационного микроскопа (типа Полам ) . Столик расположен между двумя четвертьволновыми пластинками, размещенными межцу анализатором и поляризатором. Пластинки

_#_ ориентированы под углом в 90 относительно друг друга .и под углом в 45О по отношению к поляризатору и анализатору. Просвечивают шлиф лучем

08 поляризованного по кругу света, такой свет возникает при прохождении плоскополяризованного света через четвертьволновую пластинку. Для выявления изотропных сечений минералов производят, их просвечивание путем изменения на- 30 клона плоскости шлифа на заданный угол. Свет, прошедший через шлиф, трансформируется при прохождении через вторую четвертьволновую пластинку,распо-. ложенную между шлифом и анализатором, 35 находящимся в скрещенном положении по отношению к поляризатору. Проецируют изображение через окуляр системы на мишень передающей трубки. Детектируют иэображение пор по яркости сигнала и производят его видеозапись с видеоконтролем. Выводят из светового потока анализатор и получают на выходе системы с использованием детектирования сигнала по яркости изображение непрозрач-45 ных и темноокрашенных участков и производят их видеозапись. Производят коррекцию изображения пор (трещин) шлифа. путем сложения (вычитания) с позитивной (негативной) картиной непрозрачных темноокрашенных участков. Производят количественную оценку всех элементов структуры изучаемого тела: пор (трещин) минеральной части и ее непрозрачных и темноокрашенных включений. 1,сли в шлифе имеют место прозрачные и непрозрачные неконтрастные зоны, то в этом случае пропускают свет через вторую пластинку, толщина которой заданным образом отличается от толщины первой четвертьволновой пластинки (по ходу луча), так, чтобы создать заданную разность хода и получить контрастное по цветотону изображение изотропных прозрачных зон, различающихся от анизотропных и полупрозрачных зон. Производят детектирование участка с заданным цветотоном с помощью монохроматического светофильтра, введенного в световой поток за второй пластинкой.

Предложенный способ позволяет автоматизировать. технологию исследования структуры горных пород и других тел путем его применения в автоматических анализаторах изображений (типа Квантимет, Q,V 5 и др.).

Формула изобретения

1. Способ исследования структуры тел в шлифах, включающий просвечивание шлифа поляризованным по кругу све- том, обратное круговое преобразование света, фильтрацию светового потока анализатором„ регистрацию полученного иэображенця, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности исследования, наклоняют шлиф относительно оптической оси„ дополнительно регистрируют изображение без анализатора, совмещают полученное изображение с изображениями различных компонент структуры и по совмещенным изображениям производят количественную оценку каждого компонента структуры, 2. Способ по п.1, о т л и ч а ю шийся тем, что, с целью устранения погрешностей, зависящих от наличия в шлифе неконтрастных элементов структуры, изменяют разность хода световых потоков, регистрируют изотропные зоны по цвету прошедшего через указанные зоны света.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство

Р 339847, кл. G 01 N 23/00, 1972.

2.. "ЩТ2-M tteilunpen т0г &ssenschaftund

ТесЬп(М." 1970, В.5, 9 3/4, 5.81-84.